ICP（Inductively Coupled Plasma，電感耦合等離子體）刻蝕技術(shù)是半導體制造中的一種關(guān)鍵干法刻蝕工藝，廣泛應用于先進集成電路、MEMS器件和光電子器件的加工。以下是關(guān)于ICP刻蝕技術(shù)的詳細介紹：

1. ICP刻蝕的基本原理

ICP刻蝕通過電感耦合方式產(chǎn)生高密度等離子體，利用物理和化學作用去除襯底材料。其核心過程包括：

等離子體生成：通過射頻（RF）線圈在真空腔體內(nèi)產(chǎn)生強電場，電離氣體（如CF?、SF?、Cl?等）形成高濃度的等離子體。

活性粒子轟擊：等離子體中的離子和自由基與襯底表面發(fā)生化學反應（如氟基氣體蝕硅生成SiF?），同時離子物理轟擊增強刻蝕方向性。

副產(chǎn)物排出：反應生成的揮發(fā)性物質(zhì)（如SiF?、CO?等）由真空系統(tǒng)抽離腔體。

2. ICP刻蝕設(shè)備的核心結(jié)構(gòu)

ICP設(shè)備主要由以下部分組成：

真空腔體：容納晶圓和等離子體反應區(qū)域，通常由耐蝕材料（如鋁或石英）制成。

射頻（RF）源：

ICP線圈（通常為13.56 MHz）：產(chǎn)生電感耦合等離子體。

偏壓電極（通常為低頻RF或直流）：控制離子轟擊能量和方向性。

氣體分配系統(tǒng)：精確調(diào)節(jié)蝕刻氣體（如SF?、Cl?）和惰性載氣（如Ar）的流量。

溫度控制系統(tǒng)：維持晶圓溫度穩(wěn)定，避免過熱損傷。

3. ICP刻蝕的關(guān)鍵特點

高深寬比：通過調(diào)控離子轟擊能量和化學腐蝕速率，實現(xiàn)深孔、窄縫等高深寬比結(jié)構(gòu)的刻蝕（如TSV、FinFET鰭片）。

各向異性：離子垂直轟擊襯底，側(cè)向腐蝕極小，圖形邊緣陡峭。

高精度控制：可獨立調(diào)節(jié)等離子體密度、離子能量、氣體成分等參數(shù)，適應不同材料和結(jié)構(gòu)需求。

選擇性刻蝕：通過選擇合適的氣體和工藝參數(shù)，優(yōu)先蝕刻目標材料（如硅、金屬），保護掩膜層（如光刻膠或硬質(zhì)掩膜）。

4. ICP刻蝕的主要應用領(lǐng)域

集成電路制造：

晶體管結(jié)構(gòu)（如多晶硅柵極、源漏極）。

金屬互連層的通孔、溝槽刻蝕。

三維集成中的穿透硅通孔（TSV）。

MEMS器件：

硅基懸空結(jié)構(gòu)（如加速度計、陀螺儀的空氣懸架）。

深槽刻蝕（如微流體通道、腔體）。

光電子器件：

Ⅲ-Ⅴ族化合物（如GaAs、InP）的圖形化。

半導體激光器、光電探測器的波導結(jié)構(gòu)。

5. ICP刻蝕的工藝參數(shù)與調(diào)控

氣體類型與流量：

氟基氣體（如SF?、CF?）：用于硅或金屬的化學腐蝕。

氯基氣體（如Cl?、BCl?）：常用于氧化物或金屬刻蝕。

惰性氣體（如Ar）：調(diào)節(jié)離子轟擊強度。

射頻功率：

ICP功率：影響等離子體密度和反應速率。

偏壓功率：控制離子轟擊能量和方向性。

溫度與壓力：低溫利于減少熱損傷，低氣壓可提升等離子體均勻性。

刻蝕時間：決定刻蝕深度，需與停止層或自動檢測結(jié)合防止過刻。

審核編輯 黃宇