CM2248是士模微電子推出的一款16位,8通道同步采樣ADC。其各通道均內(nèi)置模擬輸入鉗位保護(hù)、二階抗混疊濾波器、跟蹤保持放大器,16位SAR ADC,并內(nèi)置了靈活的數(shù)字濾波器。
CM2248采用單5V電源供電,但是可以處理±10V或±5V的真雙極性輸入信號(hào)。所有通道均能以200kSPS的吞吐率采樣和輸出數(shù)據(jù)。它的模擬輸入阻抗均為1MΩ,輸入鉗位保護(hù)電路可以承受±16.5V的過壓。與AD7606和ADS8588管腳適配。
Feature:
雙極性模擬輸入范圍:±10V、±5V
5V模擬電源,VDRIVE:2.3至5V
8路同步采樣輸入
LQFP64 10x10封裝
完全集成的數(shù)據(jù)采集解決方案
模擬輸入鉗位保護(hù)
具有1MΩ模擬輸入阻抗的輸入緩沖器
二階抗混疊模擬濾波器
片內(nèi)精密基準(zhǔn)電壓及緩沖
16 位、200kSPS ADC(所有通道)
通過數(shù)字濾波器提供過采樣功能
靈活的并行/串行接口
SPI/QSPI/MICROWIRE/DSP兼容
性能
模擬輸入ESD可達(dá)±8KV
92dB SNR,-105dB THD
±1 LSB INL,±0.8 LSB DNL
低功耗:運(yùn)行模式150mW,待機(jī)模式30mW
高吞吐率,集成度,易用性以及高達(dá)92dB SNR使得CM2248可廣泛適用于自動(dòng)化測試設(shè)備的DPS(器件電源),PMU(參數(shù)測量單元)和PE(引腳驅(qū)動(dòng)器)的信號(hào)采集應(yīng)用。
隨著半導(dǎo)體工藝不斷進(jìn)步,對(duì)半導(dǎo)體自動(dòng)化測試系統(tǒng)的要求已經(jīng)從“滿足芯片測試功能“的功能需求時(shí)代過渡到追求測試效率和測試靈活性的”資本效率“時(shí)代。隨著芯片越來越復(fù)雜,wafer的初次良率不斷下降,失效的概率也在增加,因此需要測試機(jī)更加的精準(zhǔn),更加的高效。
為了在一定體積的測試機(jī)中塞入更多的測試通道,ATE設(shè)備廠商越來越傾向于選取高集成度的PMU,DPS以及PE電路或芯片。而不論是PE,DPS還是PMU單元,都需要一款快速,易用且高精度的ADC去實(shí)現(xiàn)電學(xué)參數(shù)的回采測量。CM2248具有每通道200kSPS的數(shù)據(jù)吞吐率,92dB的SNR使得ATE電學(xué)測量結(jié)果“又快又好“。
綜上所述,CM2248具有集成度高,92dB SNR高信噪比,-105dB高THD等優(yōu)勢;使得它非常適合應(yīng)用于ATE設(shè)備中各類信號(hào)的高精度回采。同時(shí),CM2248性能上可對(duì)標(biāo)ADI AD7606與TI ADS8588。
審核編輯黃昊宇
-
adc
+關(guān)注
關(guān)注
99文章
6638瀏覽量
548248 -
ATE
+關(guān)注
關(guān)注
5文章
151瀏覽量
27107 -
汽車
+關(guān)注
關(guān)注
14文章
3797瀏覽量
39216
發(fā)布評(píng)論請先 登錄
領(lǐng)慧立芯LHA5278 8通道同步采樣24位ΣΔ ADC產(chǎn)品介紹

CM2248完美替代兼容AD760
產(chǎn)品應(yīng)用方案|士模八通道同步采樣ADC(CM2248)在電池化成測試設(shè)備中的應(yīng)用

產(chǎn)品應(yīng)用方案|士模八通道同步采樣ADC(CM2248)在ATE設(shè)備中的應(yīng)用

產(chǎn)品應(yīng)用方案|士模八通道同步采樣ADC(CM2248)在電力系統(tǒng)中的應(yīng)用

產(chǎn)品應(yīng)用方案|士模八通道同步采樣ADC(CM2248)在電池化成測試設(shè)備中的應(yīng)用

產(chǎn)品應(yīng)用方案|士模八通道同步采樣ADC(CM2248)在電力系統(tǒng)中的應(yīng)用

最大msp430f5529的12位ADC支持采樣率200ksps是什么意思?
ADC122S655雙通道12位、200 kSPS至500kSPS同步采樣模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)數(shù)據(jù)表

ADS8598H 18位、500kSPS、8通道、同步采樣ADC數(shù)據(jù)表

ADS131M08-Q1汽車類、8通道、32 kSPS、同步采樣、24 位、Δ-ΣADC數(shù)據(jù)表

ADS8588H 16位、500kSPS、8通道、同步采樣ADC數(shù)據(jù)表

ATE自動(dòng)測試設(shè)備原理及特點(diǎn)介紹

評(píng)論