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標(biāo)簽 > 白光干涉儀
干涉儀是一種對光在兩個不同表面反射后形成的干涉條紋進(jìn)行分析的儀器。其基本原理就是通過不同光學(xué)元件形成參考光路和檢測光路。
干涉儀是一種對光在兩個不同表面反射后形成的干涉條紋進(jìn)行分析的儀器。其基本原理就是通過不同光學(xué)元件形成參考光路和檢測光路。
光的干涉是指從目標(biāo)對象表面到某點的光距(光路)產(chǎn)生偏差時,所發(fā)生的現(xiàn)象。利用這種現(xiàn)象測量目標(biāo)對象表面凹凸的就是光學(xué)干涉儀。右圖是干涉應(yīng)變計的結(jié)構(gòu)圖。從光源(半導(dǎo)體激光等)發(fā)出的光有一些透過分光鏡到達(dá)參考面上,其余被反射到樣本表面。透過的光經(jīng)參考面反射通過光接收元件即CCD元件成像。其余被反射的光經(jīng)目標(biāo)對象表面反射透過分光鏡,同樣通過光接收元件即CCD元件成像。
三維表面輪廓儀的維護(hù)保養(yǎng)是確保其長期穩(wěn)定運行的關(guān)鍵
三維表面輪廓儀是一種高精度測量設(shè)備,用于非接觸式或接觸式測量物體表面的三維形貌、粗糙度、臺階高度、紋理特征等參數(shù)。其主要基于光學(xué)原理進(jìn)行測量。它利用激光...
優(yōu)可測白光干涉儀和薄膜厚度測量儀:如何把控ITO薄膜的“黃金參數(shù)”
ITO薄膜的表面粗糙度與厚度影響著其產(chǎn)品性能與成本控制。優(yōu)可測亞納米級檢測ITO薄膜黃金參數(shù),幫助廠家優(yōu)化產(chǎn)品性能,實現(xiàn)降本增效。
表面形貌分析中,波紋度和粗糙度是兩種關(guān)鍵特征。通過濾波技術(shù)設(shè)置截止波長,可將兩者分離。分離后,通過計算參數(shù)或FFT驗證效果。這種分析有助于優(yōu)化加工工藝、...
微透鏡陣列精準(zhǔn)全檢,優(yōu)可測3D自動量測方案提效70%
微透鏡陣列可實現(xiàn)許多傳統(tǒng)光學(xué)元器件難以實現(xiàn)的特殊功能,應(yīng)用廣泛。某福州工廠需全檢晶圓MLA產(chǎn)品,引入優(yōu)可測NX230系列晶圓3D自動量測設(shè)備,實現(xiàn)高精度...
原理相關(guān)1、白光干涉儀的基本原理是什么:白光干涉儀的基本原理是利用光學(xué)干涉原理。光源發(fā)出的光經(jīng)過擴束準(zhǔn)直后經(jīng)分光棱鏡分成兩束,一束光經(jīng)被測表面反射回來,...
3D白光干涉輪廓儀 WLI-1000提供了強?、多功能的?接觸式光學(xué)表?分析。它可以簡單和快速地測量各種表?類型,包括光滑、粗糙、平坦、傾斜和階梯式的表?。
2024-08-10 標(biāo)簽:測量系統(tǒng)圖像輪廓三維掃描儀 879 0
在納米顯微測量領(lǐng)域,中圖儀器基于納米傳動與掃描技術(shù)、白光干涉與高精度3D重建技術(shù)、共聚焦測量等技術(shù)積累,推出了具有自主知識產(chǎn)權(quán)的白光干涉儀(Z向分辨率可...
微觀特征輪廓尺寸測量:光學(xué)3D輪廓儀、共焦顯微鏡與臺階儀的應(yīng)用
顯微測量儀器被用于微觀尺寸的測量,其中包括光學(xué)3D表面輪廓儀(白光干涉儀)、共聚焦顯微鏡和臺階儀。有效評估材料表面的微觀結(jié)構(gòu)和形貌,從而指導(dǎo)生產(chǎn)過程、優(yōu)...
優(yōu)可測白光干涉儀在光學(xué)鏡片領(lǐng)域的應(yīng)用
隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展,光學(xué)鏡片廣泛應(yīng)用于人們的日常生活。提高光學(xué)鏡片的產(chǎn)品質(zhì)量與性能對提升現(xiàn)代光學(xué)產(chǎn)業(yè)的競爭力起著至關(guān)重要的作用,而要提高光學(xué)鏡片的產(chǎn)品質(zhì)...
白光干涉精析偏振串?dāng)_,OLI-P重新定義保偏光纖檢測新標(biāo)準(zhǔn)
在高速光通信與精密傳感領(lǐng)域,保偏光纖的偏振穩(wěn)定性是系統(tǒng)性能的“生命線”。然而,傳統(tǒng)檢測手段受限于靈敏度低、無法實現(xiàn)分布式測量,難以捕捉微弱的偏振耦合信號...
重磅新品發(fā)布,優(yōu)可測與您相約慕尼黑上海光博會 | 三月展會預(yù)告
欲知優(yōu)可測旗艦產(chǎn)品白光干涉儀新技術(shù),盡在慕尼黑上海光博會優(yōu)可測展位E7.7550!
入駐眾多科研機構(gòu),優(yōu)可測白光干涉儀助力前沿成果發(fā)布
近年來,優(yōu)可測白光干涉儀在科研領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用,被多篇科研論文使用,在CFRP/Al鉆孔監(jiān)測、光纖微透鏡制造、超快3D打印等領(lǐng)域的研究成果,展示了其在高...
氧化鎵襯底表面粗糙度和三維形貌,優(yōu)可測白光干涉儀檢測時長縮短至秒級!
傳統(tǒng)AFM檢測氧化鎵表面三維形貌和粗糙度需要20分鐘左右,優(yōu)可測白光干涉儀檢測方案僅需3秒,百倍提升檢測效率!
白光干涉儀測量原理及干涉測量技術(shù)的應(yīng)用
白光干涉儀利用干涉原理測光程差,測物理量,具高精度。應(yīng)用于半導(dǎo)體、光學(xué)加工、汽車零部件制造及科研等領(lǐng)域,雙重防撞保護(hù)保障測量安全。
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