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標簽 > 電鏡
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電鏡常用元素分析方法:EDS、EELS、HAADF-STEM
不同的波長λ對應于不同的原子序數(shù)Z。根據(jù)這個特征能量, 即可知所分析的區(qū)域存在什么元素及各元素的含量。根據(jù)掃描的方式, EDS 可分為點分析、線掃描及面...
TEM的成像原理涉及許多物理和光學概念,涵蓋了電子束的產(chǎn)生、聚焦、樣品相互作用以及圖像形成等多個方面,從而造成TEM像的解釋很復雜。更具體的原因有以下幾...
2023-08-07 標簽:非晶體成像系統(tǒng)TEM 2473 0
場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 500規(guī)格參數(shù)
今天三本精密儀器小編給您介紹場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM500規(guī)格參數(shù)及樣品制備要求:一、樣品要求(1)本儀器不接收磁性、易潮、液體、有機、生物、不...
聚焦離子束掃描電鏡(FIB-SEM)技術(shù)原理、樣品制備要點及常見問題解答
納米級材料分析的革命性技術(shù)在現(xiàn)代科學研究和工程技術(shù)中,對材料的微觀結(jié)構(gòu)和性質(zhì)的深入理解是至關(guān)重要的。聚焦離子束掃描電子顯微鏡(FIB-SEM)技術(shù)應運而...
場發(fā)射電鏡(FESEM)應用領(lǐng)域及案例分析
1?設備型號3臺和FIB聯(lián)用為雙束聚焦離子束顯微鏡(FIB-SEM),能夠為客戶提供專業(yè)的材料分析服務。2?原理場發(fā)射掃描電鏡是一種采用尖端肖特基熱場發(fā)...
聚焦FIB技術(shù):微納尺度加工的利器聚焦離子束(FIB)技術(shù)以其卓越的精確度在微觀加工領(lǐng)域占據(jù)重要地位,能夠?qū)崿F(xiàn)從微米級到納米級的精細加工。金鑒實驗室在這...
鋰電池電極片微觀結(jié)構(gòu):氬離子拋光SEM電鏡測試效果展示
在現(xiàn)代材料科學和工程領(lǐng)域,對材料微觀結(jié)構(gòu)的精確分析是至關(guān)重要的。特別是在鋰電池技術(shù)迅速發(fā)展的今天,對電極片的微觀結(jié)構(gòu)分析是優(yōu)化電池性能和壽命的關(guān)鍵。氬離...
氬離子拋光在電鏡樣品制備中的優(yōu)勢:超越FIB的大面積處理能力
氬離子拋光技術(shù)概述氬離子拋光技術(shù)是一種先進的樣品制備方法,廣泛應用于材料科學和微觀分析領(lǐng)域。該技術(shù)通過使用惰性氣體氬的離子束對樣品表面進行精確的切割和拋...
蔡司離子束掃描電子顯微鏡Crossbeam 550 Samplefab
蔡司代理三本精密儀器獲悉。蔡司推出全新雙束電鏡Crossbeam550Samplefab作為一款專為半導體行業(yè)TEM樣品制備開發(fā)的高端聚焦離子束掃描電子...
原子吸收光譜(Atomic Absorption Spectrometry, AAS) 又稱原子吸收分光光度分析。原子吸收光譜分析是基于試樣蒸氣相中被測...
我國科學家拓展冷凍電鏡解析生物大分子結(jié)構(gòu)的分辨極限
研究成果2019年6月3日在《自然·通訊》雜志在線發(fā)表。
高端新品發(fā)布!國產(chǎn)雙束電鏡+超高分辨電鏡閃耀2023全國電鏡年會
10月26日,2023年全國電子顯微學學術(shù)年會在東莞市召開。國儀量子在會議期間重磅發(fā)布自主研制的聚焦離子束電子束雙束顯微鏡DB500、超高分辨場發(fā)射掃描...
? 晶體中的缺陷結(jié)構(gòu)會通過影響散射聲子影響聲子譜,導致材料的熱力學、傳熱性質(zhì)變化,為了精確的表征缺陷對固體中導熱、熱擴散的影響,理解聲子-缺陷之間的相互...
蔡司掃描電子顯微鏡(sem掃描電鏡)對于材料科學、電子、地質(zhì)、物理、化工、農(nóng)醫(yī)、公安、食品和輕工等領(lǐng)域的科學研究,人們總是關(guān)心微觀形態(tài)、晶體結(jié)構(gòu)和化學組...
掃描電子顯微鏡(SEM)是一種功能強大、應用廣泛的材料表征工具。其結(jié)構(gòu)復雜且精密,主要包括電子光學系統(tǒng)、信號收集處理系統(tǒng)、圖像顯示和記錄系統(tǒng)、真空系統(tǒng)以...
聲子是凝聚態(tài)物質(zhì)中最常見的準粒子之一,它描述了晶格振動的集體行為。聲子在凝聚態(tài)體系的熱學、光學、電學、力學等性質(zhì)中起著重要作用:大部分材料中聲子的結(jié)構(gòu)決...
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