蔡司代理三本精密儀器獲悉。蔡司推出全新雙束電鏡 Crossbeam 550 Samplefab作為一款專為半導體行業 TEM 樣品制備開發的高端聚焦離子束掃描電子顯微鏡(FIB-SEM)Crossbeam 550 Samplefab 提供優異的靈活性自動化功能和用戶友好設計幫助半導體行業的樣品制備更加簡便高效

全新界面用戶友好的軟件操作體驗
配備直觀的行業標準圖形用戶界面軟件功能模塊高度整合，輕松上手無論是專家還是新手，都能擁有友好的操作體驗

配置優化提升設備和軟件的穩定性
專門為半導體行業 TEM 樣品制備而優化的配置方案提高了設備和軟件的穩定性
確保樣品制備的持續穩定工作，提高實驗室產出

全新體驗
全自動TEM樣品制備流程
蔡司雙束電鏡 Crossbeam 550 Samplefab
提供了全自動解決方案
實現無人值守的多點位TEM薄片制備
旨在優化工作流程，一位操作員即可控制多臺設備
最大化生產力并確保樣品質量

多樣制備
滿足原位/非原位樣品需求
具備強大的原位(in-situ,lift-out)與
非原位(ex-situ，pick-up)樣品全自動制備能力適應各種制樣方法的多樣需求

靈活操作
自由選擇手動/自動制樣
既支持手動操作也支持自動操作，適應用戶偏好
在手動或自動工作流程中均能提供高質量結果

憑借其優異的靈活性、自動化制樣功能以及用戶友好設計和穩定性,蔡司 Crossbeam 550 Samplefab 將顯著提高半導體樣品制備的效率與精度,幫助工程師完成日常的高產量 TEM 薄片樣品制備。

蔡司致力于通過創新的技術解決方案,不斷推動半導體行業邁向更高效、更精確的樣品制備新時代。