穿透固體樣品的能力主要取決于加速電壓,樣品厚度以及物質(zhì)的原子序數(shù)。一般來(lái)說(shuō),加速電壓愈高,原子序數(shù)愈低,電子束可穿透樣品厚度就愈大。因此,通常情況下,在制備TEM樣品時(shí),越薄越好。
季豐電子的透射電鏡是目前主流的Thermo ScienTIfic FEI Talos系列。用于量、高分辨率表征和動(dòng)態(tài)觀察的TEM和STEM分析,線分辨率≤0.1 nm,STEM分辨率≤0.16nm。搭配高端Helios 5系列FIB系統(tǒng)可以制備、觀察厚度在20nm以下的超薄樣品。4k × 4k Ceta 16M 相機(jī)可在 64 位平臺(tái)上提供大視場(chǎng)、高靈敏度快速成像。
審核編輯:湯梓紅
評(píng)論