女人自慰AV免费观看内涵网,日韩国产剧情在线观看网址,神马电影网特片网,最新一级电影欧美,在线观看亚洲欧美日韩,黄色视频在线播放免费观看,ABO涨奶期羡澄,第一导航fulione,美女主播操b

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫(xiě)文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

【應(yīng)用案例】透射電子顯微鏡TEM

王雪 ? 來(lái)源:jf_10528007 ? 作者:jf_10528007 ? 2023-05-31 09:20 ? 次閱讀

透射電子顯微鏡TEM

透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope,簡(jiǎn)稱TEM),可以看到在光學(xué)顯微鏡下無(wú)法看清的小于0.2um的細(xì)微結(jié)構(gòu),這些結(jié)構(gòu)稱為亞顯微結(jié)構(gòu)或超微結(jié)構(gòu)。要想看清這些結(jié)構(gòu),就必須選擇波長(zhǎng)更短的光源,以提高顯微鏡的分辨率。

1932年Ruska發(fā)明了以電子束為光源的透射電子顯微鏡,電子束的波長(zhǎng)要比可見(jiàn)光和紫外光短得多,并且電子束的波長(zhǎng)與發(fā)射電子束的電壓平方根成反比,也就是說(shuō)電壓越高波長(zhǎng)越短。TEM的分辨力可達(dá)0.2nm。

TEM是聚焦電子束投射到非常薄的樣品上,透過(guò)樣品的透射電子束或衍射電子束所形成的圖像來(lái)分析樣品內(nèi)部的微觀組織結(jié)構(gòu)。

wKgZomR2oOaALWm4AANa_Ap7Ixk450.jpg

wKgaomR2oOeATBYZAAAcXe70S2w631.jpg

wKgZomR2oOeAYypFAA16itQJGaU749.jpg

wKgaomR2oOeAXyfhAA-9NGrf2k8199.jpg

TEM的成像原理

透射電子顯微鏡的成像原理可分為三種情況:

l 吸收像:當(dāng)電子射到質(zhì)量、密度大的樣品時(shí),主要的成相作用是散射作用。樣品上質(zhì)量厚度大的地方對(duì)電子的散射角大,通過(guò)的電子較少,像的亮度較暗。早期的透射電子顯微鏡都是基于這種原理。

l 衍射像:電子束被樣品衍射后,樣品不同位置的衍射波振幅分布對(duì)應(yīng)于樣品中晶體各部分不同的衍射能力,當(dāng)出現(xiàn)晶體缺陷時(shí),缺陷部分的衍射能力與完整區(qū)域不同,從而使衍射波的振幅分布不均勻,反映出晶體缺陷的分布。

l 相位像:當(dāng)樣品薄至100?以下時(shí),電子可以穿過(guò)樣品,波的振幅變化可以忽略,成像來(lái)自于相位的變化。

TEM的應(yīng)用

TEM常用于研究納米材料的結(jié)晶情況,觀察納米粒子的形貌、分散情況及測(cè)量和評(píng)估納米粒子的粒徑。

審核編輯黃宇

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫(xiě)或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • TEM
    TEM
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    99

    瀏覽量

    10675
  • 透射電子顯微鏡
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    14

    瀏覽量

    2252
收藏 人收藏

    評(píng)論

    相關(guān)推薦
    熱點(diǎn)推薦

    透射電子顯微鏡TEM)與聚焦離子束技術(shù)(FIB)在材料分析中的應(yīng)用

    什么是透射電子顯微鏡TEM透射電子顯微鏡TEM)是一種功能強(qiáng)大的分析工具,可分析各種合成材料和天然材料。它能夠通過(guò)三種不同的分析技術(shù)獲得固態(tài)樣品的化學(xué)信息:能量色散X射線分析(E
    的頭像 發(fā)表于 05-09 16:47 ?153次閱讀
    <b class='flag-5'>透射電子顯微鏡</b>(<b class='flag-5'>TEM</b>)與聚焦離子束技術(shù)(FIB)在材料分析中的應(yīng)用

    什么是透射電子顯微鏡TEM)?

    透射電子顯微鏡透射電子顯微鏡簡(jiǎn)稱TEM,是一種高分辨率的微觀分析儀器,自1933年發(fā)明以來(lái),已成為探索微觀世界的強(qiáng)大工具。其工作原理是在高真空環(huán)境下,電子槍發(fā)
    的頭像 發(fā)表于 04-25 17:39 ?1332次閱讀
    什么是<b class='flag-5'>透射電子顯微鏡</b>(<b class='flag-5'>TEM</b>)?

    透射電子顯微鏡:微觀世界的高分辨率探針

    透射電鏡的成像原理透射電子顯微鏡TEM)是一種利用波長(zhǎng)極短的電子束作為照明源的高分辨率電子光學(xué)儀器。其成像原理基于
    的頭像 發(fā)表于 04-22 15:47 ?294次閱讀
    <b class='flag-5'>透射電子顯微鏡</b>:微觀世界的高分辨率探針

    透射電鏡與 FIB 制樣技術(shù)解析

    和萃取復(fù)型主要用于金相組織觀察、斷口形貌、形變條紋、第二相形態(tài)、分布和結(jié)構(gòu)等方面的分析。透射電鏡工作原理透射電子顯微鏡TEM)是一種高分辨率的顯微鏡技術(shù),其工作原理
    的頭像 發(fā)表于 04-16 15:17 ?210次閱讀
    <b class='flag-5'>透射電</b>鏡與 FIB 制樣技術(shù)解析

    帶你一文了解掃描透射電子顯微鏡

    掃描透射電子顯微鏡(STEM)掃描透射電子顯微鏡(STEM)是一種融合了透射電子顯微鏡TEM)和掃描電子顯微鏡(SEM)部分特點(diǎn)的先進(jìn)
    的頭像 發(fā)表于 04-07 15:55 ?373次閱讀
    帶你一文了解掃描<b class='flag-5'>透射電子顯微鏡</b>

    透射電子顯微鏡(TEM)的優(yōu)勢(shì)及應(yīng)用

    在現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)的諸多領(lǐng)域中,透射電子顯微鏡(TransmissionElectronMicroscope,TEM)以其卓越的性能和廣泛的應(yīng)用,成為了材料科學(xué)、生命科學(xué)以及納米科技研究中不可或缺的重要
    的頭像 發(fā)表于 03-25 17:10 ?683次閱讀
    <b class='flag-5'>透射電子顯微鏡</b>(<b class='flag-5'>TEM</b>)的優(yōu)勢(shì)及應(yīng)用

    透射電子顯微鏡TEM)在鋰電池材料分析中的應(yīng)用

    鋰電池材料微觀結(jié)構(gòu)研究在新能源技術(shù)迅猛發(fā)展的當(dāng)下,鋰電池材料研究的重要性日益凸顯。深入鉆研鋰電池材料的原子與電子結(jié)構(gòu),為材料設(shè)計(jì)的優(yōu)化與電池性能的提升筑牢根基。而透射電子顯微鏡TEM)技術(shù),便是
    的頭像 發(fā)表于 03-20 11:17 ?294次閱讀
    <b class='flag-5'>透射電子顯微鏡</b>(<b class='flag-5'>TEM</b>)在鋰電池材料分析中的應(yīng)用

    什么是透射電鏡?

    透射電子顯微鏡TEM,TransmissionElectronMicroscope),簡(jiǎn)稱透射電鏡,是一種以波長(zhǎng)極短的電子束作為照明源的高分辨率、高放大倍數(shù)的
    的頭像 發(fā)表于 03-06 17:18 ?468次閱讀
    什么是<b class='flag-5'>透射電</b>鏡?

    透射電子顯微鏡TEM)快速入門(mén):原理與操作指南

    無(wú)法被清晰地觀察。為了解決這一問(wèn)題,科學(xué)家們開(kāi)始探索使用波長(zhǎng)更短的光源來(lái)提高顯微鏡的分辨率。1932年,德國(guó)科學(xué)家恩斯特·魯斯卡(ErnstRuska)成功發(fā)明了透射電子顯微鏡TEM),利用
    的頭像 發(fā)表于 01-09 11:05 ?1369次閱讀
    <b class='flag-5'>透射電子顯微鏡</b>(<b class='flag-5'>TEM</b>)快速入門(mén):原理與操作指南

    TEM樣本制備:透射電子顯微鏡技術(shù)指南

    機(jī)械研磨和離子濺射技術(shù)是硬質(zhì)材料樣品制備中常用的方法。首先,將樣品通過(guò)機(jī)械研磨的方式制成極薄的片狀,然后利用離子濺射技術(shù)進(jìn)一步減薄至電子能夠穿透的厚度。這一過(guò)程能夠使樣品達(dá)到透射電子顯微鏡TEM
    的頭像 發(fā)表于 01-03 16:58 ?565次閱讀
    <b class='flag-5'>TEM</b>樣本制備:<b class='flag-5'>透射電子顯微鏡</b>技術(shù)指南

    透射電鏡(TEM)樣品制備方法

    透射電子顯微鏡(TEM)是研究材料微觀結(jié)構(gòu)的重要工具,其樣品制備是關(guān)鍵步驟,本節(jié)旨在解讀TEM樣品的制備方法。 ? 透射電子顯微鏡(TEM)
    的頭像 發(fā)表于 11-26 11:35 ?1865次閱讀
    <b class='flag-5'>透射電</b>鏡(<b class='flag-5'>TEM</b>)樣品制備方法

    透射電子顯微鏡TEM):基礎(chǔ)知識(shí)概覽

    透射電子顯微鏡TEM)概述透射電子顯微鏡TEM)是材料科學(xué)、納米技術(shù)等領(lǐng)域中不可或缺的研究工具。對(duì)于新接觸TEM的科研人員而言,理解其基
    的頭像 發(fā)表于 11-06 14:29 ?1497次閱讀
    <b class='flag-5'>透射電子顯微鏡</b>(<b class='flag-5'>TEM</b>):基礎(chǔ)知識(shí)概覽

    TEM樣品制備中載網(wǎng)的選擇技巧

    透射電子顯微鏡TEM)作為電子顯微學(xué)中的重要設(shè)備,與掃描電子顯微鏡(SEM)并列,構(gòu)成了現(xiàn)代電子顯微學(xué)的兩大支柱。
    的頭像 發(fā)表于 11-04 12:55 ?460次閱讀
    <b class='flag-5'>TEM</b>樣品制備中載網(wǎng)的選擇技巧

    FIB在TEM樣品制備中的利與弊

    透射電子顯微鏡TEM)樣品制備是現(xiàn)代材料科學(xué)研究的重要環(huán)節(jié)。在這一過(guò)程中,金鑒實(shí)驗(yàn)室憑借其先進(jìn)的設(shè)備和專(zhuān)業(yè)的技術(shù)團(tuán)隊(duì),能夠?yàn)榭蛻籼峁└哔|(zhì)量的FIB測(cè)試服務(wù),確保樣品制備的精確性和可靠性。透射電子顯微鏡
    的頭像 發(fā)表于 11-01 14:21 ?641次閱讀
    FIB在<b class='flag-5'>TEM</b>樣品制備中的利與弊

    透射電子顯微鏡TEM)在鋰電池材料分析中的應(yīng)用技術(shù)

    TEM在鋰電池材料研究中的重要性 透射電子顯微鏡TEM)作為材料科學(xué)領(lǐng)域的一種強(qiáng)大分析工具,具有原子級(jí)別的空間分辨率,使研究人員能夠深入探討材料的微觀結(jié)構(gòu)。在鋰電池材料的研究中,TEM
    的頭像 發(fā)表于 10-31 09:11 ?6294次閱讀
    <b class='flag-5'>透射電子顯微鏡</b>(<b class='flag-5'>TEM</b>)在鋰電池材料分析中的應(yīng)用技術(shù)