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透射電子顯微鏡(TEM)與聚焦離子束技術(shù)(FIB)在材料分析中的應(yīng)用
什么是透射電子顯微鏡(TEM)透射電子顯微鏡(TEM)是一種功能強大的分析工具,可分析各種合成材料和天然材料。它能夠通過三種不同的分析技術(shù)獲得固態(tài)樣品的...
FIB 技術(shù)在電池材料研究中的相關(guān)應(yīng)用
橫截面分析操作與目的利用聚焦離子束(FIB)技術(shù)對電池材料進行精確切割,能夠制備出適合觀察的橫截面。這一操作的核心目的在于使研究人員能夠直接觀察材料內(nèi)部...
透射電鏡的樣品種類透射電鏡(TEM)的樣品類型多樣,涵蓋了粉末試樣、薄膜試樣、表面復(fù)型和萃取復(fù)型等多種形式。薄膜試樣則側(cè)重于研究樣品內(nèi)部的組織、結(jié)構(gòu)、成...
在現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)的諸多領(lǐng)域中,透射電子顯微鏡(TransmissionElectronMicroscope,TEM)以其卓越的性能和廣泛的應(yīng)用,成為了材料...
在材料科學(xué)的微觀研究領(lǐng)域,電子顯微鏡扮演著至關(guān)重要的角色。它能夠深入揭示材料樣品內(nèi)部的精細結(jié)構(gòu),為科研人員分析組織形貌和結(jié)構(gòu)特征提供了強大的技術(shù)支持。掃...
近年來,聚焦離子束(FocusedIonBeam,F(xiàn)IB)技術(shù)作為一種新型的微分析和微加工技術(shù),在元器件可靠性領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用,為提高元器件的可靠性提...
TEM-CLASS CAVITY DESIGN(TEM式諧振腔電磁設(shè)計)立即下載
類別:電子教材 2014-07-10 標簽:TEM電子教材諧振腔電磁設(shè)計 740 0
TMP125,pdf (2C Accurate Digita立即下載
類別:IC datasheet pdf 2010-05-31 標簽:TemTMP125 734 0
透射電子顯微鏡(TEM)是研究材料微觀結(jié)構(gòu)的重要工具,其樣品制備是關(guān)鍵步驟,本節(jié)旨在解讀TEM樣品的制備方法。 ? 透射電子顯微鏡(TEM)是研究材料微...
透射電子顯微鏡(TEM)樣品制備是現(xiàn)代材料科學(xué)研究的重要環(huán)節(jié)。在這一過程中,金鑒實驗室憑借其先進的設(shè)備和專業(yè)的技術(shù)團隊,能夠為客戶提供高質(zhì)量的FIB測試...
利用TS-RadiMation軟件執(zhí)行場均勻性和TEM模式測量程序
? 一、EMC標準 根據(jù)IEC 610000-4-20-2010電磁兼容,4-20部分“測試和測量技術(shù)-TEM波導(dǎo)的發(fā)射”和抗干擾測試第5.2章,當頻率...
利用碲化汞(HgTe)膠體量子點實現(xiàn)波長達18 μm的光探測
膠體量子點(CQD)憑借其具有高通量溶液加工能力以及紫外(UV)到紅外(IR)波段的寬帶隙可調(diào)諧性,因而在光電子器件中備受關(guān)注。
2024-04-23 標簽:FET場效應(yīng)晶體管光電子器件 2116 0
先進制程芯片分析能力介紹-微區(qū)分析技術(shù)TEM
TEM在半導(dǎo)體領(lǐng)域具有非常廣泛的用途,如晶圓制造工藝分析、芯片失效分析、芯片逆向分析、鍍膜及刻蝕等半導(dǎo)體工藝分析等等,客戶群體遍布晶圓廠、封裝廠、芯片設(shè)...
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