error與fault的有區(qū)別與聯(lián)系
"Error"和"fault"是軟件工程中常用的兩個術(shù)語,用于描述軟件系統(tǒng)中的問題或異常。雖然它們經(jīng)....
基于糾正措施系統(tǒng)(FRACAS)的關(guān)鍵技術(shù)
故障報告,分析和糾正措施系統(tǒng)是一種系統(tǒng)的方法,用于從一個或多個來源收集失效數(shù)據(jù),針對根本原因?qū)?shù)據(jù)進....
以數(shù)據(jù)為中心的系統(tǒng)工程有哪些特點和作用?(2)
“從以數(shù)據(jù)為中心的角度來看,系統(tǒng)工程涉及正式應(yīng)用集成數(shù)據(jù)集來表示系統(tǒng)工程工作產(chǎn)品以及整個系統(tǒng)生命周期....

以數(shù)據(jù)為中心的系統(tǒng)工程有哪些特點和作用?(1)
基于此本體,項目需要為項目的集成數(shù)據(jù)集定義一個主模式。該模式以正式語言對數(shù)據(jù)庫結(jié)構(gòu)進行描述,該數(shù)據(jù)庫....

SWE.2軟件架構(gòu)設(shè)計
過程ID : SWE.2 過程名稱 : 軟件架構(gòu)設(shè)計 過程目的 : 軟件架構(gòu)設(shè)計過程目的是建立一個架....
關(guān)于階段(Stage)和關(guān)口(Gate)之間的區(qū)別與聯(lián)系
根據(jù)我的知識,關(guān)于“階段(Stage)”和“關(guān)口(Gate)”之間的區(qū)別與聯(lián)系,我無法提供維基百科的....
可靠性證明測試:高度加速壽命測試
壽命測試是一種重要的可靠性測試方法,用于評估組件、子系統(tǒng)或系統(tǒng)在預(yù)期或指定的使用壽命條件下的性能和可....
DFR技術(shù)選擇的示例
技術(shù)選擇會影響產(chǎn)品的可靠性。關(guān)于可靠性設(shè)計(DFR),技術(shù)選擇的目的是使用可用于高可靠性性能的技術(shù)來....
測試(Test)和試驗(Experiment)
測試和試驗是實驗性活動,用于評估、驗證或驗證特定對象的特性、性能或功能。測試更注重評估和驗證預(yù)期要求....
可靠性與安全性
安全性促進可靠性設(shè)計:安全性要求通常會推動可靠性設(shè)計的實施。為了滿足安全性要求,產(chǎn)品設(shè)計人員需要考慮....
詳細的理解可靠性分配
總之,可靠性分配是一種有助于理解復(fù)雜系統(tǒng)可靠性的方法。通過將系統(tǒng)分解為更小的組件,并為每個組件分配可....
可靠性設(shè)計和質(zhì)量設(shè)計之間的區(qū)別與關(guān)系
質(zhì)量設(shè)計(Design for quality):根據(jù)維基百科的定義,質(zhì)量設(shè)計是指在產(chǎn)品設(shè)計和制造過....
什么是最壞情況電路分析
最壞情況電路分析的概念是考慮電路元器件參數(shù)的極端情況,即在最不利的條件下,以確保電路的性能和功能。
什么是最壞情況電路分析(WCCA)
最壞情況電路分析(WCCA)是對電路的評估,以確保即使在最壞的情況下同時出現(xiàn)電路元器件參數(shù)公差漂移(....
PCB設(shè)計的可制造性和可組裝性
DFF(Design for Fabrication)與DFM(Design for Manufac....
錯誤、失效、故障之間的區(qū)別與關(guān)系
下面是對"錯誤"(error)、"失效"(failure)和"故障"(fault)之間的區(qū)別與關(guān)系的....
兩種用于增強產(chǎn)品的測試和檢驗?zāi)芰Φ脑O(shè)計方法
可測試性設(shè)計(Design for Test,DFT)和可檢驗性設(shè)計(Design for Insp....
Symbol(符號)和Designator(器件標(biāo)識)
Symbol(符號)是用于表示特定電子元件的圖形化表示,它是一個抽象的圖形,代表了元件的功能和特性。....
項目與項目集之間的區(qū)別與聯(lián)系
Project(項目)和Program(項目集)是與組織和管理相關(guān)的術(shù)語,用于描述一系列相關(guān)活動的集....
"security"(安全)和"safety"(安全)的定義、區(qū)別和示例
安全(Security):安全是指保護系統(tǒng)、組織或個人免受潛在的威脅、風(fēng)險或危害的能力。它通常包括防....