測試點之間的間距決定了使用何種樣式的測試探針。以下是幾種常見的測試探針樣式和其適用的間距范圍:
100mil測試探針:這種樣式的測試探針提供了最佳的價格、性能和可靠性,并且有助于打造堅固耐用的測試夾具。這種探針適用于測試點間距大于等于100mil的情況。
50mil測試探針:這種樣式的測試探針提供的價格、性能和可靠性相對較差,并且需要定期的特殊保養。這種探針適用于測試點間距在50mil左右的情況。
小于50mil的測試點間距:對于小于50mil的測試點間距,不建議使用50mil測試探針。使用50mil測試探針可能會導致接觸不良、信號干擾等問題。因此,嘗試應完全避免或盡量減少小于50mil的測試點間距。
圖:測試點到測試點間距
中心間距測試點之間的距離取決于用于制造測試裝置的探針的類型,有三種類型,根據要求的觸點有不同的頭:
尖頭:被測點是凸狀的平片狀或者有氧化現象
傘形頭:被測點是孔或者是平片狀或凹狀
平頭:被測點是凸起平片狀
內碗口平頭:被測點是凸起
皇冠頭:被測點是凸起或平片狀
九爪頭:被測點是平片或者凹狀
三針頭:被測點是凹狀
圓頭:被測點是間距較密且凸起或平片狀
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原文標題:測試點到測試點間距
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