可測試性設計（Design for Test，DFT）和可檢驗性設計（Design for Inspection，DFI）是兩種用于增強產品的測試和檢驗能力的設計方法。下面是它們的區(qū)別與聯(lián)系，包括維基百科的定義：

可測試性設計（Design for Test，DFT）：

定義：可測試性設計是指在產品設計階段考慮到產品測試的需求，并采取相應的設計措施，以提高產品的測試效率和可靠性。

區(qū)別：

目的：可測試性設計的主要目的是確保產品在制造過程中和使用中能夠進行有效的測試，并能夠檢測和診斷出潛在的故障或缺陷。

設計方案：可測試性設計通過在產品設計中引入測試接口、測試點、測試電路等特性，以便測試人員能夠準確、可靠地執(zhí)行產品測試。

可檢驗性設計（Design for Inspection，DFI）：

定義：可檢驗性設計是指在產品設計階段考慮到產品的檢驗需求，并采取相應的設計措施，以提高產品的檢驗效率和可靠性。

區(qū)別：

目的：可檢驗性設計的主要目的是確保產品在制造過程中能夠進行有效的檢驗，并能夠發(fā)現(xiàn)潛在的制造缺陷或質量問題。

設計方案：可檢驗性設計通過在產品設計中考慮到檢驗的要求，包括易于觀察、易于測量、易于判定等因素，以便檢驗人員能夠有效地執(zhí)行產品的檢驗和質量控制。

聯(lián)系：

DFT和DFI都是在產品設計階段考慮到測試和檢驗的需求，以提高產品的測試和檢驗效率。

DFT和DFI的目標都是為了提高產品的質量、可靠性和制造效率。

DFT和DFI的設計措施可以互相補充，共同促進產品的測試和檢驗能力。

請注意，維基百科上的定義可能會隨著時間的推移而變化，建議在使用時查閱最新版本以獲取準確的定義。