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液態金屬接觸電阻精確測量:傳輸線法(TLM)的新探索

Flexfilm ? 2025-07-22 09:51 ? 次閱讀
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液態金屬(如galinstan)因高導電性、可拉伸性及生物相容性,在柔性電子領域備受關注。然而,其與金屬電極間的接觸電阻(Rc)測量存在挑戰:傳統傳輸線法(TLM)假設電極薄層電阻(Rshe)可忽略,但液態金屬的Rshe與銅電極(10?3?Ω/□)相近,導致電流分布不均,測量誤差顯著。本文提出一種改進TLM方法,通過獨立電流施加與FEM模擬交聯,使用TLM接觸電阻測試儀實現Rc的高精度測量。

1

傳統TLM的局限性

flexfilm

傳統的傳輸線法(TLM)測量方法在測量半導體和導電糊等材料時較為有效,但在測量液態金屬時,由于其與金屬電極的方塊電阻接近,傳統方法的假設不再適用,導致測量結果不準確。

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(a) 傳統TLM測量;(b-i) 液態金屬的傳統TLM測量;(b-ii) 改進TLM測量

傳統TLM在外電極施加電流,假設Rshe?Rsho(被測對象薄層電阻),電流完全通過界面(Ii=I)。然而,液態金屬的Rsho與銅電極相當(10?2~100?Ω/□),導致大部分電流繞行電極,僅部分電流通過界面(Ii/I<10?1),測得的RcTotal僅含少量Rc成分。

2

改進方法的設計與模擬驗證

flexfilm

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(a) 外電極電流施加模型;(b) 各電極電流施加模型

為了克服傳統方法的局限性,本文提出了一種向每個測量電極施加電流的 TLM 測量新方法。通過有限元方法(FEM)模擬,分析了不同電流施加方式下,電流密度分布以及通過界面的電流比例(Ii/I)的變化情況。

6b33c586-669e-11f0-a486-92fbcf53809c.png

外電極電流施加下的FEM模擬結果

  • 外電極電流:當向外電極施加電流時,對于液態金屬,Ii/I 的值遠小于 1,表明只有很少一部分電流通過界面,大部分電流繞過了接觸電阻區域,導致測量結果嚴重偏離真實的接觸電阻值。
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各電極電流施加下的FEM模擬結果

  • 各電極電流:當向每個電極施加電流時,無論方塊電阻比(Rsho/Rshe)和接觸電阻率比(ρc/Rshe)如何變化,所施加的電流都能完全通過電極與測量對象的界面,即 Ii等于 I。

模擬結果清楚地揭示了傳統方法在液態金屬測量中的缺陷,同時也驗證了新方法的有效性和準確性。

3

對比兩種電流施加方式

flexfilm

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Galinstan液態金屬與銅電極接觸 TLM測量裝置示意圖

采用Galinstan作為液態金屬材料,電鍍Cu作為電極(表面粗糙度Ra<1μm)。通過PET基底通道填充Galinstan,控制其截面形狀。測量設備配置:電極間距L0=7.5~17.5 mm,施加脈沖電流(1.5A,200ms)以避免焦耳熱和合金化影響。

  • 對比兩種電流施加方式:

6b60bed8-669e-11f0-a486-92fbcf53809c.png外電極電流施加下(a) 對象長度(Lo)與電阻(R)關系;(b) ρc與RcTotal關系6b7277d6-669e-11f0-a486-92fbcf53809c.png外電極電流施加下電流密度與Ii/I模擬

  • 傳統方法:測得RcTotal=0.125±0.056?mΩ,模擬曲線無交點,無法計算ρc。
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各電極電流施加下(a) 對象長度(Lo)與電阻(R)關系;(b) ρc與RcTotal關系

6b9e1058-669e-11f0-a486-92fbcf53809c.png

各電極電流施加下電流密度與Ii/I模擬

  • 改進方法:測得RcTotal=0.120±0.043?mΩ,與模擬曲線交聯得(誤差0.085 mΩ·mm2),精度優于傳統焊料。

本文通過調控電流施加方式,解決了液態金屬接觸電阻測量中因Rshe不可忽略導致的誤差問題。改進后的TLM方法將ρc測量精度提升至與焊料相當,為柔性電子器件的材料選擇與設計提供了關鍵技術支撐。未來可進一步探索界面氧化層與真實接觸面積的影響,以優化測量模型。

TLM接觸電阻測試儀

flexfilm

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TLM接觸電阻測試儀用于測量材料表面接觸電阻或電阻率的專用設備,廣泛應用于電子元器件、導電材料、半導體、金屬鍍層、光伏電池等領域。

  • 靜態測試重復性≤1%,動態測試重復性≤3%
  • 線電阻測量精度可達5%或0.1Ω/cm
  • 接觸電阻率測試與線電阻測試隨意切換
  • 定制多種探測頭進行測量和分析

本研究通過理論與實驗結合借助TLM接觸電阻測試儀,為液態金屬接觸電阻的高精度測量提供了新思路,推動了可拉伸電子器件的實用化進程。

原文出處:《High-Accuracy Contact Resistance Measurement Method for Liquid Metal by Considering Current-Density Distribution in Transfer Length Method Measurement》

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