線路板PCB測(cè)試點(diǎn)設(shè)置的原則是確保測(cè)試的準(zhǔn)確性和高效性，同時(shí)避免對(duì)PCB板造成不必要的損害。以下是一些關(guān)鍵的設(shè)置原則：

1.測(cè)試點(diǎn)的分布?：

測(cè)試點(diǎn)應(yīng)均勻分布在PCB板上，避免集中在某個(gè)小區(qū)域內(nèi)，以減少測(cè)試時(shí)板面受力不均的問(wèn)題。

盡可能將所有測(cè)試點(diǎn)布置在PCB的同一側(cè)，如果測(cè)試點(diǎn)分布在頂層和底層，會(huì)增加制作治具的復(fù)雜性和成本。

?測(cè)試點(diǎn)與關(guān)鍵元素的距離?：

測(cè)試點(diǎn)應(yīng)盡量遠(yuǎn)離PCB的邊緣，建議至少距離板邊5毫米，以防止在測(cè)試過(guò)程中邊緣受力導(dǎo)致PCB損壞。

測(cè)試點(diǎn)應(yīng)遠(yuǎn)離定位孔，中心距離建議至少為4毫米，避免測(cè)試時(shí)與定位裝置發(fā)生干涉。

測(cè)試點(diǎn)應(yīng)避免靠近較高的元件，以防止相互干擾，確保測(cè)試信號(hào)的準(zhǔn)確性。

2.測(cè)試點(diǎn)的間距?：

兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)之間的間距不能過(guò)近，中心間距建議至少為2.54毫米（100mil），以確保測(cè)試探針能夠準(zhǔn)確接觸且不相互干擾。

在高密度布局中，雖然間距可以縮小，但應(yīng)保證測(cè)試探針能夠穩(wěn)定接觸，避免誤觸或短路。

?3.測(cè)試點(diǎn)的類型與材料?：

測(cè)試點(diǎn)可以是通孔焊盤（Through-hole）或表面焊盤（SMT）。通孔測(cè)試點(diǎn)定位準(zhǔn)確，可以從板的兩面進(jìn)行測(cè)試，但會(huì)占用PCB上所有層的走線空間。SMT測(cè)試點(diǎn)則更節(jié)省空間，但在某些情況下可能不如通孔測(cè)試點(diǎn)穩(wěn)定。

測(cè)試點(diǎn)的材料建議選擇電導(dǎo)率較高的，如化學(xué)鍍金（ENIG），雖然價(jià)格略貴，但能提高測(cè)試的可靠性和準(zhǔn)確性。

?4.其他注意事項(xiàng)?：

對(duì)于電源和地網(wǎng)絡(luò)，應(yīng)各留10個(gè)以上的測(cè)試點(diǎn)，并均勻分布在PCB板上，以減少測(cè)試時(shí)反向驅(qū)動(dòng)電流對(duì)整個(gè)板電位的影響。

如果PCB板帶有電池，測(cè)試時(shí)應(yīng)使用跨接線，以防止電池周圍的短路無(wú)法被檢測(cè)到。

綜上所述，線路板PCB測(cè)試點(diǎn)的設(shè)置需要綜合考慮分布、間距、類型與材料等多個(gè)因素，以確保測(cè)試的準(zhǔn)確性和高效性，同時(shí)保護(hù)PCB板不受損害。

審核編輯 黃宇