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銅互連雙大馬士革工藝的步驟

中科院半導(dǎo)體所 ? 來源:Tom聊芯片智造 ? 2024-12-10 11:28 ? 次閱讀

本文介紹了銅互連雙大馬士革工藝的步驟。

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如上圖,是雙大馬士革工藝的一種流程圖。雙大馬士革所用的介質(zhì)層,阻擋層材質(zhì),以及制作方法略有差別,本文以圖中的方法為例。

(A) 通孔的形成 在介質(zhì)層(如SiCOH)上沉積光刻膠(Resist),并使用光刻工藝做出掩模圖形。通過干法刻蝕手段,得到通孔。

(B)制作溝槽所需的圖形 完成通孔的刻蝕后,通常會去除原來的光刻膠。旋涂抗反射層,并將通孔填滿,之后會再次涂布光刻膠,做出開槽所需的光刻膠圖形。

(C) 開溝槽 干法刻蝕除去多余的抗反射層,介質(zhì)層等,并去除晶圓表面光刻膠。

(D) 沉積種子層 在刻蝕好的溝槽和通孔內(nèi),使用PVD或CVD沉積Cu種子層和阻擋層。Cu種子層用于電鍍的導(dǎo)電材料。阻擋層主要是Ta或TaN,用于防止銅擴(kuò)散。

(E) 電鍍銅 使用電鍍工藝,將銅填充到通孔和溝槽中。銅完全填滿后,表面會有過量的銅。使用CMP工藝去除多余的銅和種子層,只保留通孔和溝槽中的銅。

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(F)cmp拋光 cmp拋光后,在表面覆蓋阻擋層。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
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原文標(biāo)題:銅互連雙大馬士革工藝步驟

文章出處:【微信號:bdtdsj,微信公眾號:中科院半導(dǎo)體所】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。

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