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如何使用 SSR 實(shí)現(xiàn)可靠都的、可快速開關(guān)的低損耗半導(dǎo)體自動(dòng)測試設(shè)備

海闊天空的專欄 ? 來源:Jens Wallmann ? 作者:Jens Wallmann ? 2024-05-05 16:18 ? 次閱讀

作者:Jens Wallmann

集成電路 (IC) 降低了硬件開發(fā)成本,促進(jìn)了電子設(shè)備的小型化并具有廣泛的功能,因此比以往任何時(shí)候都更加搶手。為確保大批量生產(chǎn)的質(zhì)量,半導(dǎo)體制造商需要可靠、緊湊的自動(dòng)測試設(shè)備 (ATE) ,能夠在保持信號低電平、信號高電平且損耗最小的情況下快速開關(guān)高頻 ACDC 電流

基于光電 MOSFET 的固態(tài)繼電器 (SSR) 是 IC 測試儀和 ATE 應(yīng)用的理想之選。這些器件的微型尺寸和無磨損特性尤其引人關(guān)注。

本文簡要討論 ATE 的要求。然后介紹 [Panasonic] 的 PhotoMOS 系列固態(tài)繼電器中不同類型的光伏 MOSFET 繼電器,并著重說明這種繼電器在元件幾何形狀和開關(guān)特性方面的差異。本專題最后還將介紹加快開關(guān)速度和降低 PhotoMOS 特定型漏電流的設(shè)計(jì)技巧。

封裝密度高,信號路徑短

自動(dòng) IC 測試儀使用密集的針狀適配器(探頭卡)與被測設(shè)備 (DUT) 接觸,以進(jìn)行功能測試。測試頭中的模塊可產(chǎn)生并分配高速測試脈沖,提供適當(dāng)?shù)碾妷翰㈤_關(guān)測量通道。每次測試時(shí)都必須在密閉空間內(nèi)進(jìn)行,以盡量減少線路損耗,縮短信號傳播時(shí)間并減少干擾和信道串?dāng)_。

為此,設(shè)計(jì)人員可以使用小型開關(guān)元件,如 Panasonic 的 [AQ 系列]繼電器。例如,壓控 CC 型 [AQY2C1R6PX] PhotoMOS 固態(tài)繼電器采用 TSON 封裝, 大小為 3.51 mm^2^ (1.95 × 1.80 mm)(圖 1)。該器件利用電容耦合提供 200 V 隔離保護(hù),并采用電壓控制且控制功率只需 1.2 mW。

Panasonic AQ 系列小信號 PhotoMOS 繼電器的外殼尺寸圖 1:所示為 AQ 系列小信號 PhotoMOS 繼電器的外殼尺寸(以 mm 為單位)。(圖片來源:Panasonic,經(jīng)作者修改)

電流控制 RF 型 [AQY221R6TW] PhotoMOS 繼電器封裝小,僅為 3.8 mm2,但其 VSSOP 外殼比 AQY2C1R6PX 高 3.6 倍。該器件的控制功率只需 75 mW,并利用光耦合提供 200 V 保護(hù)隔離。CC 和 RF 型的漏電流 (I Leak ) 非常低,僅為 10 納安 (nA) 。

圖 2 顯示了帶電容耦合的 CC 型繼電器(左) 和帶光學(xué)耦合的 RF 型繼電器(右)的電路原理

Panasonic 的 AQY2C1R6PX CC 型 PhotoMOS 固態(tài)繼電器圖圖 2:AQY2C1R6PX CC 型 PhotoMOS 固態(tài)繼電器(左)采用電容耦合,由電壓驅(qū)動(dòng);AQY221R6TW RF 型(右)采用光耦合,由電流驅(qū)動(dòng)。(圖片來源:Panasonic,經(jīng)作者修改)

GE [AQV214EHAX] 型還采用了光耦合技術(shù),在控制電路 (IN) 和負(fù)載電路 (OUT) 之間提供高達(dá) 5 kV 的較高保護(hù)絕緣。該器件采用體積較大的 6-SMD 封裝,尺寸為 8.8 mm x 6.4 mm,有鷗翼引線。GE 系列的 SSR 只需 75 mW 控制功率,即可在最高 400 V 電壓下開關(guān)高達(dá) 150 mA 的負(fù)載電流。

優(yōu)化接觸電阻和輸出電容

與典型的半導(dǎo)體器件一樣,固態(tài)繼電器也具有“導(dǎo)通”電阻 (R on ) 和輸出電容 (C out ) ,這兩個(gè)參數(shù)分別會(huì)導(dǎo)致熱損耗和漏電流。根據(jù)需要開關(guān)的信號類型,不同類型的繼電器會(huì)對這兩個(gè)參數(shù)中的某一個(gè)進(jìn)行優(yōu)化。

Ron 特別低的固態(tài)繼電器,在開關(guān)高頻 AC 測試脈沖時(shí)衰減較小。具有低 Cout 的固態(tài)繼電器,可對 DC 信號進(jìn)行更精確的測量,而 Cout 高的固態(tài)繼電器則適用于開關(guān)更高的功率。圖 3 所示為一個(gè)自動(dòng)半導(dǎo)體器件測試系統(tǒng),并說明了哪些 PhotoMOS 繼電器類型最適合測試頭測量模塊中的各種信號路徑。

該自動(dòng)半導(dǎo)體測試系統(tǒng)的信號路徑圖 3:這套自動(dòng)半導(dǎo)體測試系統(tǒng)的每個(gè)信號路徑都需要特定類型的 PhotoMOS 繼電器。(圖片來源:Panasonic)

[AQY2C1R3PZ]和 [AQY221N2TY]PhotoMOS 繼電器分別具有 1.2 pF 和 1.1 pF 的低 C out 。這樣,這些器件的開關(guān)時(shí)間可達(dá) 10 μs 和 20 μs (AQY2C1R3PZ) ,以及 10 μs 和 30 μs (AQY221N2TY) 。這兩款繼電器的折衷結(jié)果是增大了 R on ,分別達(dá)到 10.5 Ω 和 9.5 Ω,并導(dǎo)致?lián)p耗和元件發(fā)熱增加。這些 PhotoMOS 繼電器適用于以較低的電流快速開關(guān)測量信號,而且在高頻信號下產(chǎn)生的反射/相移較小。

前文討論過的 AQY2C1R6PX 和 AQY221R6TW 更適合開關(guān)速度較慢的電源信號和電流較大的電源電壓。雖然這些器件的 Ron 較低,導(dǎo)致元件發(fā)熱較少,但其 Cout 較大,會(huì)對信號產(chǎn)生積分器效應(yīng)。

將信號失真降至最低

例如,用于 AC 信號的光電三端雙向可控硅,或者用于脈動(dòng) AC 信號的帶雙極晶體管的光耦合器,只代表簡單開關(guān) (1 form A) 的半導(dǎo)體繼電器這些器件會(huì)因閾值、觸發(fā)電壓和開關(guān)延遲而導(dǎo)致負(fù)載信號失真。此外,反向恢復(fù)電流會(huì)產(chǎn)生諧波過沖(瞬時(shí)振蕩)和 10 mmA 至 100 mA 漏電流。

在 Panasonic 的 PhotoMOS 繼電器中,帶有驅(qū)動(dòng)電路的 FET 半橋最大程度地減少了這些信號失真,因此適用于諸如高速測試脈沖、測量信號和電源電壓等 AC 和 DC 小信號的低損耗開關(guān)。關(guān)斷時(shí),兩個(gè)輸出連接之間的漏電流低于 1 微安 (μA)。

PhotoMOS 繼電器分為 form A 型(單極單擲、常開觸點(diǎn) (SPST-NO))或 form B 型(常閉觸點(diǎn)、SPST-NC)以及多路產(chǎn)品。設(shè)計(jì)人員可通過組合 form A 和 form B 型器件來制造 form C 型開關(guān),如單刀雙擲 (SPDT) 、單刀轉(zhuǎn)換開關(guān)和雙刀雙擲 (DPDT) 開關(guān)。

例如,[AQS225R2S]是一款采用 SOP16 封裝的 4 路 PhotoMOS 繼電器 (4SPST-NO),在開關(guān)電壓高達(dá) 80 V 的情況下可處理高達(dá) 70 mA 的電流。此外,[AQW214SX]是一款采用 SOP8 封裝的雙路 PhotoMOS 繼電器 (2SPST-NO) ,在開關(guān)電壓高達(dá) 400 V 時(shí)可處理高達(dá) 80 mA 的負(fù)載電流。

圖 4 所示為 SSR、PhotoMOS 和光耦合器的內(nèi)部結(jié)構(gòu)及其典型的信號失真。PhotoMOS 繼電器在阻性負(fù)載下不會(huì)造成信號削波或類似失真。

SSR 和光耦合器會(huì)導(dǎo)致輸出信號失真圖 4:由于閾值電壓和觸發(fā)電壓,SSR 和光耦合器會(huì)導(dǎo)致輸出信號失真;而 PhotoMOS 繼電器在開關(guān) AC 和 DC 信號時(shí)不會(huì)失真。(圖片來源:Panasonic,經(jīng)作者修改)

為了減弱感性和容性開關(guān)負(fù)載的反饋效應(yīng),從而保護(hù) PhotoMOS 輸出級,設(shè)計(jì)人員必須在輸出側(cè)添加鉗位和續(xù)流二極管、RC 和 LC 濾波器壓敏電阻。在 CC 系列中,鉗位二極管可保護(hù)輸入振蕩器免受過壓峰值的影響,并將控制信號限制在 3 V 至 5.5 V 之間,而 RC 濾波器可確保殘余紋波小于 ±0.5 伏。

減小漏電流

斷電時(shí),PhotoMOS 繼電器的 Cout 可作為交流電流和高頻脈沖序列的旁路。為了大幅降低此類漏電流并最大限度地提高高頻隔離能力,Panasonic 建議使用三個(gè)獨(dú)立的 PhotoMOS 繼電器,形成 T 電路(圖 5,左)。在主信號路徑中,1 Form A PhotoMOS 繼電器 S1 和 S2 均為低 Ron 器件,而 1 Form A 短路開關(guān) S3 則為低 Cout 器件。

S1 和 S2 已斷電,接通的繼電器 S3 起短路作用圖 5:當(dāng) S1 和 S2 斷開時(shí),接通的繼電器 S3 對所有泄漏電流起短路作用(T 電路處于斷開狀態(tài),右圖) 。(圖片來源:Panasonic,經(jīng)作者修改)

T 電路接通狀態(tài)(圖 5,中間):在 S1 和 S2 接通的情況下,其 Ron 最大程度地衰減信號電平,而關(guān)斷的 S3 繼電器的低 Cout 則對高頻(低通)的衰減很小。

T 電路關(guān)斷狀態(tài)(圖 5 右):如果 S1 和 S2 處于斷電狀態(tài),其 Cout 即為高頻旁路(高通),但接通的 S3 繼電器會(huì)使通過 S1 的容性信號短路(吸入回路)。

T 電路的接通/斷開定時(shí)必須以先斷后通 (BBM) 開關(guān)的方式實(shí)現(xiàn)。因此,在接通 S3 之前,應(yīng)先斷開 S1 和 S2。對于繼電器,BBM 表示觸點(diǎn)分別開關(guān),而先通后斷 (MBB) 表示觸點(diǎn)以橋接方式開關(guān)。

加快 PhotoMOS 繼電器的開關(guān)速度

PhotoMOS 繼電器的內(nèi)部光電傳感器可用作太陽能電池,提供柵極充電電流。因此,LED 發(fā)出的光脈沖越亮,開關(guān)速度就越快。例如,圖 6 中的自舉元件 R1/R2/C1 會(huì)產(chǎn)生較大的電流脈沖。

自舉元件 R1/R2/C1 提高 PhotoMOS 繼電器的接通速度圖 6:自舉元件 R1/R2/C1 提高了 PhotoMOS 繼電器的接通速度。(圖片來源:Panasonic)

在接通瞬間,C1 對 R2 起短路作用,因此 R1 的低電阻允許大電流流過。如果 C1 帶有電荷且電阻較高,則需要添加 R2,以減少磁繼電器的保持電流。因此,AQV204 PhotoMOS 繼電器的接通時(shí)間從 180 μs 縮短到 30 μs。

結(jié)束語

通過使用小型無磨損的 PhotoMOS 繼電器,設(shè)計(jì)人員可以提高 ATE 應(yīng)用的信號密度和測量速度,同時(shí)減少維護(hù)需求。此外,遵循推薦的設(shè)計(jì)技術(shù)有助于最大限度地減少漏電流和開關(guān)時(shí)間。

審核編輯 黃宇

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