我司專業(yè)針對(duì)PCB電路板開發(fā)設(shè)計(jì)的TSK、DL系列應(yīng)力測(cè)試儀 。可實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)PCB板各個(gè)工序應(yīng)力應(yīng)變變化,為廣大PCB廠家排除電路板生產(chǎn)過程的應(yīng)力故障。測(cè)試工序包括:分板應(yīng)力、插件應(yīng)力、貼片應(yīng)力、焊錫應(yīng)力、點(diǎn)膠應(yīng)力、組裝應(yīng)力、ICT應(yīng)力、FCT應(yīng)力、跌落應(yīng)力、震蕩應(yīng)力、堆疊應(yīng)力等。
測(cè)試方法:
一、應(yīng)變測(cè)試對(duì)象選擇
1、BGA類器件
要求選取27*27mm以上的BGA,包含但不限于FCBGA、CBGA。如果板上沒有大于27*27mm的BGA,優(yōu)先選擇板上最大的BGA或者應(yīng)力集中的BGA進(jìn)行測(cè)試。
2,應(yīng)力敏感器件
根據(jù)板上分布的應(yīng)力風(fēng)險(xiǎn)點(diǎn)識(shí)別,選取以下應(yīng)力敏感器件進(jìn)行評(píng)估:
a,0402及以上封裝的陶瓷電容和普通電容(不含軟端子電容),ICT/BST等工序測(cè)試陶瓷電容為1206及以上封裝。
b,貼片電阻、陶瓷晶振、電感、磁珠、PLO模塊、氣體放電管、保險(xiǎn)管套件等。
二、貼片


三、連接電源線進(jìn)行測(cè)試。
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AKEMOND應(yīng)力測(cè)試儀
“System Level EOS Testing Method”可以翻譯為: “系統(tǒng)級(jí)電性過應(yīng)力測(cè)試方法”

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