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PCB互連應力測試與溫度沖擊測試的區(qū)別

SGS半導體服務 ? 來源:SGS半導體服務 ? 2025-04-18 10:29 ? 次閱讀

在當今復雜且精密的PCB實際應用場景中,確保其可靠性至關重要。互連應力測試(IST)與溫度沖擊測試(TC)作為可靠性評估的常用手段,二者在測試對象、原理機制、適配場景以及所遵循的標準規(guī)范等維度,都有著極為明顯的區(qū)別。

核心區(qū)別

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具體應用場景

IST測試的應用場景

適用領域

高可靠性行業(yè)

通信設備、汽車電子(如車載PCB)、航空航天等對熱機械疲勞要求嚴格的場景。

研發(fā)階段

快速驗證PCB設計(如導通孔布局、材料選擇)和工藝缺陷(如電鍍均勻性、孔壁處理)。

生產(chǎn)質(zhì)量控制

評估批量生產(chǎn)PCB的互連結構一致性,確保符合IPC標準。

典型測試需求

檢測導通孔在熱應力下的開裂、分層或內(nèi)層連接斷裂。

評估不同板材、電鍍藥水或工藝參數(shù)對互連可靠性的影響。

縮短測試周期,加速產(chǎn)品開發(fā)或工藝改進(如對比不同材料的耐熱性)。

TC測試的應用場景

適用領域

極端環(huán)境產(chǎn)品

汽車電子(如發(fā)動機控制模塊)、航空航天設備、軍工設備等需應對劇烈溫度變化的場景。

成品可靠性驗證

確保PCB組件在實際使用中的耐久性(如消費電子、工業(yè)設備)。

材料/工藝認證

驗證阻焊層、焊料、封裝材料等在溫度循環(huán)下的性能。

典型測試需求

檢測PCB層壓結構分層、焊點虛焊、元器件脫落等問題。

評估PCB在溫度驟變(如-40℃→125℃)下的電性能穩(wěn)定性(如電阻、絕緣性)。

模擬實際使用環(huán)境(如戶外設備經(jīng)歷晝夜溫差)。

關鍵技術差異總結

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如何選擇測試方法?

選擇IST測試的場景

需快速定位PCB內(nèi)部互連缺陷(如導通孔可靠性)。

材料或工藝改進后的驗證(如新型板材、電鍍工藝)。

高可靠性產(chǎn)品(如汽車電子、通信基站)的早期研發(fā)階段。

選擇TC測試的場景

需評估PCB整體在極端溫度變化下的耐久性(如消費電子、軍工設備)。

符合行業(yè)標準(如MIL-STD)的合規(guī)性測試。

成品出廠前的最終環(huán)境適應性驗證。

示例對比

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總結

IST測試是PCB內(nèi)部互連結構的“精準體檢”,TC測試是整體環(huán)境適應性的“全面體檢”。

兩者互補:IST用于早期研發(fā)和工藝優(yōu)化,溫度沖擊測試用于最終成品驗證和行業(yè)合規(guī)性。

根據(jù)測試目標(定位缺陷vs.驗證整體可靠性)和資源(時間、成本、設備)選擇合適的方法。

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原文標題:干貨分享 | PCB可靠性測試:IST和TC該如何選擇?

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