掃描電子顯微鏡（SEM）已廣泛用于材料表征、計(jì)量和過程控制的研究和先進(jìn)制造中，我們?cè)趯?duì)半導(dǎo)體材料和結(jié)構(gòu)進(jìn)行觀測(cè)時(shí)，常常會(huì)遇到充電效應(yīng)，本文討論了與樣品充電相關(guān)的一些問題以及減輕其影響的方法。
2023-12-29 15:57:12
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[size=13.3333px]顯微鏡倍率如何計(jì)算？很多實(shí)驗(yàn)室都在使用顯微鏡，但對(duì)顯微鏡的相關(guān)專業(yè)知識(shí)并不了解，只是知道怎么去操作，但對(duì)于一些基本常識(shí)可能都不怎么清楚，那么今天我們就來講講有關(guān)顯微鏡
2020-02-06 13:09:57
光學(xué)顯微鏡在科研工作中作用很大，比如觀察金屬材料的金相組織以及各種生物樣品的微納結(jié)構(gòu)，屬于高端精密儀器。使用時(shí)應(yīng)注意以下幾項(xiàng)：1、儀器應(yīng)放置于恒溫24℃干燥的環(huán)境中，避免日光直射、高溫、陰冷、灰塵
2017-07-18 16:38:37
物鏡是顯微鏡最重要的光學(xué)部件，利用光線使被檢物體第一次成象，因而直接關(guān)系和影響成象的質(zhì)量和各項(xiàng)光學(xué)技術(shù)參數(shù)，是衡量一臺(tái)顯微鏡質(zhì)量的首要標(biāo)準(zhǔn)。
2019-09-29 10:22:32
電子顯微術(shù)(Electron Microscopy,EM)電子顯微術(shù)可分為靜態(tài)式和掃描式。靜態(tài)式包括穿透式、反射式電鏡及低能電子顯微鏡等。掃描式包括二次電子顯微鏡和歐杰電子顯微鏡等。2.1 反射式
2009-03-10 09:09:08
有沒有電子顯微鏡維護(hù)維修人員？
2012-09-17 16:31:38
最近搞了一個(gè)電子顯微鏡，渣渣。放大倍數(shù)為500倍，看不了什么細(xì)菌哈。但是還是可以看見一些人眼所不及的東西。我拿出來給大家分享下，你們說想看什么東西的顯微效果，我這里只要有的話，我就盡量滿足。拍了之后
2016-06-02 13:35:52
Minus K負(fù)剛度隔振臺(tái)電子顯微鏡隔振臺(tái)/減震臺(tái)/防震臺(tái)為什么負(fù)剛度隔振臺(tái)隔振效果更佳？負(fù)剛度隔振臺(tái)提供了簡(jiǎn)單、可靠的和高效的敏感儀器在低頻地板振幅和建筑振動(dòng)中的有效隔離解決方案。負(fù)剛度隔振臺(tái)
2018-09-02 16:35:11
關(guān)于清潔度的標(biāo)準(zhǔn)是什么？關(guān)于IPC清潔度有哪些要求？
2021-04-20 06:35:47
掃描電子顯微鏡被廣泛用于納米技術(shù)、金屬、半導(dǎo)體、陶瓷、醫(yī)學(xué)和生物學(xué)等各種領(lǐng)域。此外，SEM的應(yīng)用范圍正在不斷擴(kuò)大，不僅涉及基礎(chǔ)研究，還涵蓋制造現(xiàn)場(chǎng)的質(zhì)量控制。因此，對(duì)更快、更輕松地獲取SEM圖像
2021-11-09 17:45:04
所制造的，因此，其所能提供的最佳分辨率，大約等于其使用光源的波長（~1?m）。1940 掃描電子顯微鏡（SEM）為了改良傳統(tǒng)的光學(xué)顯微鏡的不足，于1940 年左右發(fā)展出掃描電子顯微鏡（SEM），利用
2009-03-10 09:51:51
們脫坑一個(gè)幫助，文筆不好，大家見諒！一：掃描電子顯微鏡由于透射電鏡是TE進(jìn)行成像的，這就要求樣品的厚度必須保證在電子束可穿透的尺寸范圍內(nèi)。為此需要通過各種較為繁瑣的樣品制備手段將大尺寸樣品轉(zhuǎn)變到透射電鏡可以接受的程度。能否直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像，成為科學(xué)家追求的...
2021-07-29 07:49:43
直徑為9μm。所有的光都是在纖芯（直徑9 μm）中傳輸?shù)模覊m的直徑通常小于500微米（人眼能看到的灰塵，是灰塵中的龐然大物，細(xì)小的灰塵只有在電子顯微鏡下才能看見），看似干凈的端面隱藏著無數(shù)灰塵
2021-01-29 17:46:13
先進(jìn)電子顯微鏡成像技術(shù)揭露垂直共振腔面射雷射的制程細(xì)節(jié)
2021-02-22 07:36:15
掃描電子顯微鏡SEM北軟檢測(cè)芯片分析掃描電子顯微鏡SEM分析原理：用電子技術(shù)檢測(cè)高能電子束與樣品作用時(shí)產(chǎn)生二次電子、背散射電子、吸收電子、X射線等并放大成象譜圖的表示方法：背散射象、二次電子象、吸收
2020-02-05 15:15:16
[size=13.3333px]掃描電子顯微鏡sem技術(shù)探討北軟檢測(cè)失效分析實(shí)驗(yàn)室 趙工掃描電子顯微鏡SEM分析原理：用電子技術(shù)檢測(cè)高能電子束與樣品作用時(shí)產(chǎn)生二次電子、背散射電子、吸收電子、X射線等
2020-02-06 13:13:24
掃描電子顯微鏡的工作原理是什么？有什么優(yōu)點(diǎn)？
2021-10-28 06:39:54
掃描式電子顯微鏡 (SEM)掃描式電子顯微鏡，又掃描電鏡（Scanning Electron Microscope, SEM）主要是利用微小聚焦的電子束(Electron Beam)進(jìn)行樣品表面掃描
2018-08-31 15:53:31
`捷克泰思肯MIRA3-LM捷克泰思肯MIRA3-LM電子顯微鏡更多信息請(qǐng)移步深圳瑞盛科技或關(guān)注瑞騰租賃RIYTEN，有需求可聯(lián)系TEL：*** ，QQ：434413525 。MIRA3LM是一種
2019-05-17 10:50:32
近代儀器發(fā)展史上，顯微技術(shù)一直隨著人類科技進(jìn)步而不斷的快速發(fā)展，科學(xué)研究及材料發(fā)展也隨著新的顯微技術(shù)的發(fā)明，而推至前所未有的微小世界。原子力顯微鏡可應(yīng)用于研究的領(lǐng)域，包括高分子材料、光電材料
2013-06-19 17:22:54
攝像頭圖傳做維修用電子顯微鏡http://www.dt830.com/forum.php?mod=viewthread&tid=3909(出處: 儀表愛好者)`
2020-02-18 16:23:18
方便、直觀、檢定效率高,適用于電子工業(yè)生產(chǎn)線的檢驗(yàn)、印刷線路板的檢定、印刷電路組件中出現(xiàn)的焊接缺陷（印刷錯(cuò)位、塌邊等）的檢定、單板PC的檢定、真空熒光顯示屏VFD 的檢定等等，落射式檢測(cè)顯微鏡將實(shí)物
2009-07-07 09:36:14
做掃地機(jī)器人，想測(cè)地面清潔度決定哪里需要的吸力大，現(xiàn)有大神說可以使用視覺傳感器，然后將數(shù)據(jù)進(jìn)行二值化，圖像上的黑點(diǎn)多少可以測(cè)出來，但是具體應(yīng)該是什么樣的呢，求大神們指教啊，或者如果有其他可以辦到的方法也行，跪求指教。。。
2016-05-13 23:17:31
的熒光圖像，并利用終端設(shè)備進(jìn)行相應(yīng)的圖像處理，以此來對(duì)細(xì)胞的形態(tài)變化等進(jìn)行監(jiān)測(cè)。隨著科學(xué)級(jí)CCD相機(jī)性能的不斷提升，各項(xiàng)新技術(shù)共同推動(dòng)著更高品質(zhì)共聚焦顯微鏡的出現(xiàn)。科學(xué)級(jí)CCD相機(jī)性能的提升對(duì)共聚焦系統(tǒng)
2014-04-03 11:47:05
穿透式電子顯微鏡TEM穿透式電子顯微鏡(Transmission Electron microscopy, TEM)主要是一種使用高能量電子束讓超薄的樣品成像，影像分辨率可達(dá)0.1奈米的原子等級(jí)
2018-08-21 10:23:10
的三維空間影像。立體感強(qiáng)，成像清晰和寬闊，又具有長工作距離，并是適用范圍非常廣泛的常規(guī)顯微鏡。操作方便、直觀、檢定效率高，適用于電子工業(yè)生產(chǎn)線的檢驗(yàn)、印刷線路板的檢定、印刷電路組件中出現(xiàn)的焊接缺陷(印刷
2009-07-07 09:35:25
熒光顯微鏡上海應(yīng)捷儀器有限公司是集光學(xué)儀器、儀器配件、及計(jì)算機(jī)圖像處理軟件和顯微鏡測(cè)量軟件等的研發(fā)、生產(chǎn)、銷售、服務(wù)為一體的企業(yè)。擁有光機(jī)電領(lǐng)域技術(shù)與產(chǎn)品的成套開發(fā)的豐富經(jīng)驗(yàn)
2009-07-07 09:31:08
分析,對(duì)圖象進(jìn)行編輯、輸出、存儲(chǔ)、管理等功能。體視顯微鏡適用于微米級(jí)實(shí)效分析、斷口檢測(cè)、電子工業(yè)生產(chǎn)線的檢驗(yàn)、印刷線路板的檢定、印刷電路組件中出現(xiàn)的焊接缺陷(印刷錯(cuò)位、塌邊等)的檢定、單板PC的檢定、及所有
2016-08-31 10:23:21
`金屬焊接溶深測(cè)量檢測(cè)技術(shù)-顯微鏡檢測(cè)技術(shù)隨著鋼鐵行業(yè)的進(jìn)一步發(fā)展，對(duì)各種焊接要求也越來越高，焊接作為材料加工的一種重要手段在工業(yè)生產(chǎn)中得到廣泛應(yīng)用, 熔深顯微鏡隨著焊接工藝的不斷發(fā)展和焊接技術(shù)
2011-04-01 10:09:30
`金屬焊接溶深焊縫測(cè)量檢測(cè)技術(shù)-顯微鏡檢測(cè)技術(shù)隨著鋼鐵行業(yè)的進(jìn)一步發(fā)展，對(duì)各種焊接要求也越來越高，焊接作為材料加工的一種重要手段在工業(yè)生產(chǎn)中得到廣泛應(yīng)用, 熔深顯微鏡隨著焊接工藝的不斷發(fā)展和焊接技術(shù)
2011-04-11 11:47:35
` 金相顯微鏡主要用于鑒定和分析金屬內(nèi)部結(jié)構(gòu)組織，它是金屬學(xué)研究金相的重要儀器，是工業(yè)部門鑒定產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵設(shè)備，該儀器配用攝像裝置，可攝取金相圖譜，并對(duì)圖譜進(jìn)行測(cè)量分析，對(duì)圖象進(jìn)行編輯、輸出、存儲(chǔ)
2019-04-26 15:31:07
協(xié)助生產(chǎn)和品質(zhì)部門提高工作效率和降低不良率。客戶案例某知名電纜生產(chǎn)商，內(nèi)部定的標(biāo)準(zhǔn)為＜100 RFU即為合格，利用析塔表面清潔度儀，測(cè)試鋁箔激光去除麥拉后，其清潔程度是否達(dá)到合格范圍。（RFU
2021-04-23 10:06:10
在線式表面清潔度檢測(cè)儀德國析塔SITA表面清潔度儀的熒光檢測(cè)技術(shù)可極大的監(jiān)控及優(yōu)化清洗過程。例如油、潤滑脂、冷卻液、脫模蠟或表面活性劑的輕微污染都會(huì)導(dǎo)致隨后工序的表面缺陷，從而提高了成本。通過德國析
2022-06-07 14:06:34
電子顯微原理與技術(shù)【教學(xué)內(nèi)容】1.透射和掃描電子顯微鏡的構(gòu)造與成像原理2.透射和掃描電鏡圖像的成像過程3.透射和掃描電鏡主要性能4.表面復(fù)型技術(shù)5.透射和掃
2009-03-06 11:44:18
0 VT6000系列高清工業(yè)電子顯微鏡是一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行微納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器。它是以共聚焦技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D
2023-02-03 11:13:55
電子顯微鏡基本知識(shí)(英文版-All you wanted to know about):Nobody knows for certain whoinvented the microscope.
2009-12-25 16:09:070 本文以物鏡磁透鏡穩(wěn)流電源為例，介紹了透射電子顯微鏡透鏡穩(wěn)流電源的結(jié)構(gòu)和工作原理。透鏡穩(wěn)流電源由前置高精度穩(wěn)壓電源模塊、數(shù)模轉(zhuǎn)換器、低漂移電壓比較放大器、高精度
2010-02-23 11:38:3821 透射電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)與成像原理透射電子顯微鏡是以波長極短的電子束作為照明源，用電磁透鏡聚焦成像的一種高分辨率、高放大倍數(shù)的電子光學(xué)儀器。
2009-03-06 22:20:1212868 
掃描電子顯微鏡原理和應(yīng)用2.4.1 掃描電鏡的特點(diǎn)與光學(xué)顯微鏡及透射電鏡相比，掃描電鏡具有以下特點(diǎn)： (一) 能夠直接觀察樣品表面的結(jié)構(gòu)，樣品的尺寸可大
2009-03-06 22:23:305703 電子顯微術(shù)(Electron Microscopy,EM)
電子顯微術(shù)可分為靜態(tài)式和掃描式。靜態(tài)式包括穿透式、反射式電鏡及低能電子顯微鏡等。掃描式包
2009-03-10 09:02:582645 中圖儀器CEM3000臺(tái)式掃描電子顯微鏡是一款用于對(duì)樣品進(jìn)行微觀尺度形貌觀測(cè)和分析的緊湊型設(shè)備。儀器操作簡(jiǎn)便，樣品一鍵裝入，自動(dòng)導(dǎo)航和一鍵出圖能力（自動(dòng)聚焦+自動(dòng)消像散+自動(dòng)亮度對(duì)比度）幫助用戶在
2024-12-27 14:33:34
CEM3000系列中圖掃描電子顯微鏡用于對(duì)樣品進(jìn)行微觀尺度形貌觀測(cè)和分析。憑借其簡(jiǎn)便的操作系統(tǒng)，讓復(fù)雜的掃描電鏡使用過程變得簡(jiǎn)單快捷。樣品一鍵裝入，自動(dòng)導(dǎo)航和一鍵出圖能力（自動(dòng)聚焦+自動(dòng)消像散+自動(dòng)
2025-01-02 13:48:51
CEM3000系列桌面式掃描電子顯微鏡用于對(duì)樣品進(jìn)行微觀尺度形貌觀測(cè)和分析。標(biāo)配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng)，能滿足用戶對(duì)多類型樣品的觀測(cè)需求，實(shí)現(xiàn)微觀的形貌
2025-02-06 15:04:09
CEM3000系列國產(chǎn)掃描電子顯微鏡用于對(duì)樣品進(jìn)行微觀尺度形貌觀測(cè)和分析。標(biāo)配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng)，能滿足用戶對(duì)多類型樣品的觀測(cè)需求，實(shí)現(xiàn)微觀的形貌
2025-02-07 14:21:21
20世紀(jì)80年代中期,在數(shù)字化電子顯微鏡商品化之前,模擬式電鏡發(fā)展到了相當(dāng)高的水平,很多操作被先轉(zhuǎn)換成指令,通過接口電路與單板機(jī)的識(shí)別處理后,發(fā)出控制指令,由各種功能電路來實(shí)現(xiàn)
2011-04-09 11:21:5464 電子顯微鏡可將一個(gè)物體放大到1000萬倍，從而使研究人員得以窺視細(xì)胞或蠅眼的內(nèi)部工作原理。但迄今為止，他們看到的只有白色和黑色圖像。最新進(jìn)展利用了3種被稱為鑭系元素的不同稀土金屬。它們被分層疊放在
2018-06-15 18:23:001420 “比如，在材料科學(xué)領(lǐng)域，它是非常基礎(chǔ)的科研儀器，毫不夸張地說，材料領(lǐng)域70%—80%的文章都要用到掃描電鏡提供的信息。”中國科學(xué)院上海硅酸鹽所研究員、中國電子顯微鏡學(xué)會(huì)掃描電鏡專業(yè)委員會(huì)副主任曾毅
2018-08-10 17:38:142297 
電子顯微鏡專用超低頻隔振臺(tái)/減震臺(tái)/防震臺(tái)Minus K負(fù)剛度隔振臺(tái)為什么負(fù)剛度隔振臺(tái)隔振效果更佳？負(fù)剛度隔振臺(tái)提供了簡(jiǎn)單、可靠的和高效的敏感儀器在低頻地板振幅和建筑振動(dòng)中的有效隔離解決方案。負(fù)剛度
2018-08-28 11:29:505265 中國科學(xué)院電工研究所聯(lián)合中國計(jì)量科學(xué)研究院、國家納米科學(xué)中心共同構(gòu)建了國內(nèi)首臺(tái)可溯源計(jì)量型掃描電子顯微鏡，實(shí)現(xiàn)了微納米器件及標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的納米精度計(jì)量功能以及對(duì)樣品納米結(jié)構(gòu)掃描成像的量值溯源，可有效減少電子束掃描成像過程中放大倍率波動(dòng)和掃描線圈非線性特征在納米尺度測(cè)量中產(chǎn)生的誤差。
2019-06-26 16:33:384724 想象你的一生只能在看見黑色和白色的世界中度過，然后第一次看見一瓶彩色的玫瑰花。這便是利用電子顯微鏡首次拍攝下細(xì)胞多色彩照片的科學(xué)家擁有的感覺。
2019-12-06 10:17:091395 積電的制程工藝差多少呢？ 一位加拿大博主拿來電子顯微鏡，專門對(duì)比了英特爾的14nm+++和臺(tái)積電的7nm，對(duì)應(yīng)產(chǎn)品為i9-10900K和銳龍9 3950X。結(jié)果比較有意思，雖然兩者命名差距很大，但從電子顯微鏡中看，兩者差別很小。 英特爾14nm+
2020-10-26 14:50:225557 
透射電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope，簡(jiǎn)稱TEM），可以看到在光學(xué)顯微鏡下無法看清的小于0.2um的細(xì)微結(jié)構(gòu)，這些結(jié)構(gòu)稱為亞顯微結(jié)構(gòu)或超微結(jié)構(gòu)。要想
2020-12-03 15:37:2541369 透射電子顯微鏡中主要有三種光闌：光闌。在雙系統(tǒng)中，該光闌裝在第二下方。作用：限制照明孔徑角。
2020-12-04 13:39:1013823 電子發(fā)燒友網(wǎng)為你提供透射電子顯微鏡成像原理資料下載的電子資料下載，更有其他相關(guān)的電路圖、源代碼、課件教程、中文資料、英文資料、參考設(shè)計(jì)、用戶指南、解決方案等資料，希望可以幫助到廣大的電子工程師們。
2021-03-31 08:48:5323 隨著半導(dǎo)體制程向著更小、更復(fù)雜的方向發(fā)展，半導(dǎo)體廠商需要更多可復(fù)現(xiàn)的、大批量的透射電子顯微鏡（以下簡(jiǎn)稱：TEM）分析結(jié)果。
2021-04-20 14:24:301956 TEM（Transmission Electron Microscope， 透射電子顯微鏡） 具有較高的分辨率是半導(dǎo)體失效分析領(lǐng)域最常用的儀器之一，其以高能電子束作為光源，用電磁場(chǎng)作透鏡，將經(jīng)過加速
2021-06-21 09:42:4110943 TEM（Transmission Electron Microscope， 透射電子顯微鏡） 具有較高的分辨率是半導(dǎo)體失效分析領(lǐng)域最常用的儀器之一，其以高能電子束作為光源，用電磁場(chǎng)作透鏡，將經(jīng)過加速
2021-09-18 10:49:1610043 于冶金，礦業(yè)，和電子等行業(yè)，可以對(duì)金屬結(jié)構(gòu)、礦物結(jié)構(gòu)、電路板、表面涂層和微粒等進(jìn)行觀察和研究的金相顯微鏡。
2022-06-01 10:20:542746 在很多醫(yī)學(xué)相關(guān)的影視片中，我們常常能看到顯微鏡的身影，顯微鏡是由一個(gè)透鏡或幾個(gè)透鏡的組合構(gòu)成的一種光學(xué)儀器，是人類進(jìn)入原子時(shí)代的標(biāo)志。?顯微鏡的主要作用是用來放大微小物體為人的肉眼所能看到，通常分為光學(xué)顯微鏡和電子顯微鏡。
2022-06-29 08:12:571352 No.1 引言 ? 掃描電子顯微鏡的簡(jiǎn)稱為掃描電鏡，英文縮寫為SEM 。它利用細(xì)聚焦的電子束，轟擊樣品表面，通過電子與樣品相互作用產(chǎn)生的二次電子、背散射電子等，對(duì)樣品表面或斷口形貌進(jìn)行觀察和分析
2022-08-18 08:50:394328 掃描電子顯微鏡（SEM Scanning Electron Microscope）是一種介于透射電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種觀察手段，在光電技術(shù)中起到重要作用。
2022-08-22 11:49:274181 為了支持半導(dǎo)體制造商的自動(dòng)化需求，先進(jìn)的電子顯微鏡正在集成人工智能功能，以提供更快的數(shù)據(jù)生成時(shí)間并提高人力和工具資源的生產(chǎn)效率。
2023-05-05 17:17:25933 透射電子顯微鏡TEM 透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope，簡(jiǎn)稱TEM)，可以看到在光學(xué)顯微鏡下無法看清的小于0.2um的細(xì)微結(jié)構(gòu)，這些結(jié)構(gòu)稱為亞顯微
2023-05-31 09:20:401545 
表面清潔度檢測(cè)儀-帶鋼表面清潔度檢測(cè)方法
2022-06-06 18:19:311054 
場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM5000SEM5000是一款分辨率高、功能豐富的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡。先進(jìn)的鏡筒設(shè)計(jì)，高壓隧道技術(shù)（SuperTunnel）、低像差無漏磁物鏡設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)了低電壓高分辨率成像，同時(shí)
2023-04-12 11:38:301399 
蔡司的光學(xué)顯微鏡、電子顯微鏡、x射線顯微鏡、計(jì)算機(jī)斷層掃描(蔡司工業(yè)CT)系統(tǒng)和蔡司三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)可以在不同精度級(jí)別下用于評(píng)估電池的結(jié)構(gòu)、成分、氣特性和尺寸特性，并建立這些數(shù)據(jù)之間的關(guān)聯(lián)。蔡司代理昆山
2023-07-11 15:07:54681 
蔡司熱場(chǎng)掃描電鏡Sigma300電子顯微鏡能夠?qū)Ω鞣N材質(zhì)的導(dǎo)電和不導(dǎo)電樣品、不同尺寸和形狀的樣品表面微觀結(jié)構(gòu)進(jìn)行高分辨觀察。配置能譜和背散射電子衍射儀附件可以實(shí)現(xiàn)樣品表面微觀區(qū)域內(nèi)的成分和織構(gòu)分析
2023-07-26 10:48:061308 
透射電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope, TEM）是一種用于觀察樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的高分辨率顯微鏡。它利用電子束穿透樣品并形成投影圖像，然后通過對(duì)該圖像進(jìn)行解釋
2023-08-01 10:02:156280 蔡司掃描電子顯微鏡(sem掃描電鏡)對(duì)于材料科學(xué)、電子、地質(zhì)、物理、化工、農(nóng)醫(yī)、公安、食品和輕工等領(lǐng)域的科學(xué)研究，人們總是關(guān)心微觀形態(tài)、晶體結(jié)構(gòu)和化學(xué)組成與宏觀物理或化學(xué)性質(zhì)之間的關(guān)系。光學(xué)顯微系統(tǒng)
2023-08-08 15:50:352617 。對(duì)于此類場(chǎng)景，常規(guī)掃描電鏡效率嚴(yán)重不足，為解決客戶痛點(diǎn)，國儀量子于近日推出一款專為大規(guī)模成像而生的新產(chǎn)品——高速掃描電子顯微鏡HEM6000。”高速掃描電子顯微
2023-08-09 08:29:231021 ，為電池研發(fā)提供有價(jià)值的數(shù)據(jù)。然而，受可見光波長的限制，它的觀察范圍有限，而電子顯微鏡很好地解決了這一問題 1931年問世的電子顯微鏡，利用電子束將物體放大300萬倍，達(dá)到奈米分辨率。由于電子顯微鏡的分辨率更高，在電池研發(fā)
2023-08-22 13:41:06703 
如今，不僅有能放大幾千倍的光學(xué)顯微鏡，也有能放大幾十萬倍的電子顯微鏡，讓我們對(duì)生物體的生命活動(dòng)規(guī)律有了更深入的了解。普通中學(xué)生物教學(xué)大綱中規(guī)定的實(shí)驗(yàn)絕大部分都是利用顯微鏡來完成的，因此顯微鏡的性能是觀察好實(shí)驗(yàn)的關(guān)鍵。
2023-11-07 15:23:262437 掃描電子顯微鏡是一種全自動(dòng)的、非破壞性的顯微分析系統(tǒng)，可針對(duì)無機(jī)材料和部分有機(jī)材料，迅速提供在統(tǒng)計(jì)學(xué)上可靠且可重復(fù)的礦物學(xué)、巖相學(xué)和冶金學(xué)數(shù)據(jù)，在采礦業(yè)，可用于礦產(chǎn)勘查、礦石表征和選礦工藝優(yōu)化，在
2023-11-21 13:02:191755 掃描電子顯微鏡是一種全自動(dòng)的、非破壞性的顯微分析系統(tǒng)，可針對(duì)無機(jī)材料和部分有機(jī)材料，迅速提供在統(tǒng)計(jì)學(xué)上可靠且可重復(fù)的礦物學(xué)、巖相學(xué)和冶金學(xué)數(shù)據(jù)，在采礦業(yè)，可用于礦產(chǎn)勘查、礦石表征和選礦工藝優(yōu)化，在
2023-11-21 13:16:41913 
本文介紹了一種飛米級(jí)電子顯微鏡的原理，未來這種技術(shù)有望用于探測(cè)遠(yuǎn)離穩(wěn)定谷的核。
2023-12-13 15:59:12802 
中國近年來向著科技自立自強(qiáng)的方向邁出了堅(jiān)定的步伐，核心技術(shù)不斷突破，高端儀器設(shè)備持續(xù)涌現(xiàn)。近日消息，由蘇州博眾儀器科技有限公司（簡(jiǎn)稱博眾儀器）自主研發(fā)的200kV透射電子顯微鏡BZ-F200已經(jīng)進(jìn)入
2023-12-28 11:24:091374 
數(shù)字顯微鏡Smartzoom5和SEM掃描電子顯微鏡的解決方案。圖a、b顯示的是無涂層的鉆頭的切削刃口情況，圖c、d顯示的是金剛石涂層鉆頭的脫落情況；圖a、c使用
2024-01-08 15:12:52646 
由于電子在空氣中行進(jìn)的速度很慢，所以必須由真空系統(tǒng)保持電鏡的真空度，否則，空氣中的分子會(huì)阻撓電子束的發(fā)射而不能成像。用兩種類型的真空泵串連起來獲得電子顯微鏡鏡筒中的真空，當(dāng)電子顯微鏡啟動(dòng)時(shí)，第一
2024-01-09 11:18:331530 1月20日，廣州慧炬科技有限公司成功舉辦“承鴻鵠之志，造大國電鏡”新品發(fā)布會(huì)，正式發(fā)布首臺(tái)國產(chǎn)商業(yè)場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡“太行”TH-F120。標(biāo)志著我國已掌握透射電鏡整機(jī)研制能力以及電子槍、高壓電源
2024-01-26 08:26:00874 基于 蔡司 全系列電子顯微鏡的原位液體電化學(xué)顯微解決方案具有在真實(shí)液氛下的高分辨成像、多模態(tài)全面表征以及靈活擴(kuò)展的創(chuàng)新優(yōu)勢(shì)。本期分享液氛SEM的原位多模態(tài)分析方法，以及高分辨成像的全新案例。 創(chuàng)新
2024-01-30 14:22:07636 
掃描電子顯微鏡（SEM）是一種功能強(qiáng)大、應(yīng)用廣泛的材料表征工具。其結(jié)構(gòu)復(fù)雜且精密，主要包括電子光學(xué)系統(tǒng)、信號(hào)收集處理系統(tǒng)、圖像顯示和記錄系統(tǒng)、真空系統(tǒng)以及電源和控制系統(tǒng)等。以下是蔡司掃描電子顯微鏡
2024-03-20 15:27:562141 
今天蔡司代理三本精密儀器小編給大家介紹EVO掃描電鏡電子顯微鏡在金屬加工領(lǐng)域的應(yīng)用。鎢燈絲電子顯微鏡EVO系列所提供的圖片質(zhì)量出色，不僅能幫助客戶清晰地觀察到亞微米甚至納米級(jí)別的細(xì)微差異，還為客戶
2024-05-31 14:09:46427 
蔡司代理三本精密儀器小編介紹掃描電子顯微鏡作為最常見的電子顯微儀器之一，不僅在微觀形貌表征方面大放異彩，也在各種元素表征、晶相分析、原位測(cè)試等領(lǐng)域有著諸多應(yīng)用，已經(jīng)成為微區(qū)分析的重要手段。一、高分
2024-07-15 17:48:11606 
的INNIOGroup總部早在10年前就引入了清潔度檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)。為確定有害殘留污染物顆粒的來源，自2015年起INNIOGroup開始使用蔡司EVO掃描電子顯微鏡進(jìn)行檢測(cè)。例如，如
2024-07-22 16:14:00468 
說到SEM掃描電子顯微鏡的品牌推薦，蔡司代理三本精密儀器工程師可得好好跟你聊聊!這可是個(gè)技術(shù)活兒啊，選個(gè)好品牌，對(duì)于科研工作者來說，簡(jiǎn)直就像找到了寶藏一樣!首先得說說那個(gè)大家都耳熟能詳?shù)?b class="flag-6" style="color: red">蔡司
2024-08-12 17:24:47919 
與分析的利器，正發(fā)揮著不可替代的作用。本文將深入探討蔡司掃描電子顯微鏡在半導(dǎo)體封裝領(lǐng)域的應(yīng)用，從工藝開發(fā)、質(zhì)量控制到失效分析，全方位展現(xiàn)其技術(shù)優(yōu)勢(shì)與實(shí)際應(yīng)用案例。一、
2024-09-10 18:14:22930 
德國進(jìn)口蔡司體視顯微鏡以其出色的光學(xué)性能和多功能性在科研、工業(yè)檢測(cè)等領(lǐng)域享有盛譽(yù)。對(duì)于初次接觸這類設(shè)備的用戶來說，了解其基本操作是至關(guān)重要的。本文蔡司代理--三本精密儀器將重點(diǎn)討論在使用蔡司體視
2024-09-26 15:19:54511 
透射電子顯微鏡（TEM）概述透射電子顯微鏡（TEM）是材料科學(xué)、納米技術(shù)等領(lǐng)域中不可或缺的研究工具。對(duì)于新接觸TEM的科研人員而言，理解其基礎(chǔ)原理和操作對(duì)于高效利用這一設(shè)備至關(guān)重要。本文將詳細(xì)介紹
2024-11-06 14:29:56857 
世界的大門，幫助我們精準(zhǔn)定位問題、剖析失效原因。? ?? ? 顯微鏡家族在芯片失效分析中的多樣面孔??????? 顯微鏡并非單一的一種工具，在芯片失效分析領(lǐng)域，常見的有光學(xué)顯微鏡、電子顯微鏡（包括掃描電子顯微鏡 SEM 和透
2024-11-26 11:32:03457 成像原理與應(yīng)用透射電子顯微鏡（TransmissionElectronMicroscope,TEM）是一種利用高能電子束穿透樣品，通過電子與樣品相互作用產(chǎn)生的信號(hào)來獲取樣品的微觀結(jié)構(gòu)信息的儀器
2024-11-26 11:49:361135 
蔡司作為一家在光學(xué)和電子顯微鏡領(lǐng)域具有深厚技術(shù)積累的企業(yè)，提供聚焦離子束—掃描電子顯微鏡（FIB-SEM）和飛秒激光（Laser-FIB）技術(shù)解決方案，為電池材料研究提供了強(qiáng)大助力。卓越成像效果
2024-11-26 16:30:57273 
蔡司代理三本精密儀器獲悉。蔡司推出全新雙束電鏡Crossbeam550Samplefab作為一款專為半導(dǎo)體行業(yè)TEM樣品制備開發(fā)的高端聚焦離子束掃描電子顯微鏡(FIB-SEM
2024-12-03 15:52:07215 
掃描電子顯微鏡（SEM）以其在納米級(jí)別解析樣品的能力而聞名，它通過電子束與樣品的交互來收集信息。除了常見的背散射電子（BSE）和二次電子（SE）信號(hào)外，SEM還能檢測(cè)到其他多種信號(hào)，這些信號(hào)為研究者
2024-12-24 11:30:57417 
機(jī)械研磨和離子濺射技術(shù)是硬質(zhì)材料樣品制備中常用的方法。首先，將樣品通過機(jī)械研磨的方式制成極薄的片狀，然后利用離子濺射技術(shù)進(jìn)一步減薄至電子能夠穿透的厚度。這一過程能夠使樣品達(dá)到透射電子顯微鏡（TEM
2025-01-03 16:58:36296 
無法被清晰地觀察。為了解決這一問題，科學(xué)家們開始探索使用波長更短的光源來提高顯微鏡的分辨率。1932年，德國科學(xué)家恩斯特·魯斯卡（ErnstRuska）成功發(fā)明了透射電子顯微鏡（TEM），利用電子
2025-01-09 11:05:34383 
電子背散射衍射（EBSD）技術(shù)，作為掃描電子顯微鏡（SEM）的高端拓展工具，它能夠深入剖析材料的微觀組織，實(shí)現(xiàn)組織結(jié)構(gòu)的精準(zhǔn)分析、直觀成像和量化評(píng)估，為材料科學(xué)研究人員與工程師提供了一把開啟材料內(nèi)在
2025-01-23 15:27:14130 
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