粗糙度的工件表面的微觀形貌檢測，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、溝槽等參數(shù)。VT6000高分辨率共聚焦激光顯微鏡是以共聚焦技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法
2024-03-22 15:12:37
中圖儀器VT6000共聚焦顯微鏡工業(yè)幾何量測顯微鏡基于光學共軛共焦原理，結(jié)合精密縱向掃描，以在樣品表面進行快速點掃描并逐層獲取不同高度處清晰焦點并重建出3D真彩圖像，從而進行分析的精密光學儀器，一般
2024-03-13 10:10:32
昊量光電新推出法國ARGOLIGHT公司生產(chǎn)的耐用型熒光顯微鏡校準載玻片，用于熒光顯微鏡的標定和光路對準。獨創(chuàng)的顯微鏡標定技術(shù)和光路對準得益于將亞納米級三維/二維圖案嵌入到載玻片的技術(shù)，且圖案不會
2024-03-05 08:18:54
65 
【設(shè)備應(yīng)用】
SEM是掃描電子顯微鏡，用二次電子成像的原理來觀察某種物質(zhì)的微觀形貌。EDS是能譜儀，是每種元素對應(yīng)的電子能不同，來鑒別元素，通常與SEM結(jié)合使用，也就是說在SEM上安裝EDS附件，在
2024-03-01 18:59:58
在芯片制造領(lǐng)域，透射電鏡TEM技術(shù)發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。通過TEM測試，科學家可以觀察芯片中晶體結(jié)構(gòu)的變化，分析晶體缺陷，研究材料界面結(jié)構(gòu)，從而深入了解芯片的工作原理和性能。
2024-02-27 16:48:13134 
中圖儀器VT6000系列共聚焦高精度三維顯微鏡基于光學共軛共焦原理，結(jié)合精密縱向掃描，以在樣品表面進行快速點掃描并逐層獲取不同高度處清晰焦點并重建出3D真彩圖像，從而進行分析的精密光學儀器，一般用于
2024-02-21 13:55:40
掃描電鏡按構(gòu)造和用處可分為透射式電子顯微鏡、掃描式電子顯微鏡、反射式電子顯微鏡和發(fā)射式電子顯微鏡等。 掃描電鏡常用于察看那些用普通顯微鏡所不能分辨的纖細物質(zhì)構(gòu)造，次要用于察看固體外表的形貌，也能與
2024-02-01 18:22:15603 陽一科技體視顯微鏡也稱解刨顯微鏡，是微量物證檢驗常用的儀器。主要用于痕跡檢驗、文件檢驗中的細小物證，如指紋、工具、文字的顯微觀察和分析檢驗。體視顯微鏡主要操作有：調(diào)焦，視度調(diào)節(jié)，瞳距調(diào)節(jié)和燈泡更換
2024-01-26 08:35:32291 
1月20日，廣州慧炬科技有限公司成功舉辦“承鴻鵠之志，造大國電鏡”新品發(fā)布會，正式發(fā)布首臺國產(chǎn)商業(yè)場發(fā)射透射電子顯微鏡“太行”TH-F120。標志著我國已掌握透射電鏡整機研制能力以及電子槍、高壓電源
2024-01-26 08:26:00280 
。 1月20日，首臺國產(chǎn)商業(yè)場發(fā)射透射電子顯微鏡TH-F120在廣州市黃埔區(qū)正式發(fā)布。該透射電鏡由生物島實驗室領(lǐng)銜研制，擁有自主知識產(chǎn)權(quán)，將打破國內(nèi)透射電鏡100%依賴進口的局面，標志著我國已掌握透射電鏡用的電子槍等核心技術(shù)，并具備量產(chǎn)透射電鏡
2024-01-22 09:54:52127 顯微鏡利用可見光成像。因為電子的波長比光的波長小得多，所以電子顯微鏡的分辨率比光學顯微鏡高。 掃描電子顯微鏡（SEM），簡稱掃描電子顯微鏡，已成為一種功能強大、用途廣泛的材料表征工具，廣泛應(yīng)用于材料、冶金、礦產(chǎn)、
2024-01-17 09:39:56144 掃描近場光學顯微鏡SNOM 掃描近場光學顯微鏡(scanning near-field optical microscopy, SNOM)，能在納米尺度上探測樣品的光學信息，打破了長久以來經(jīng)典
2024-01-09 14:19:31149 由于電子在空氣中行進的速度很慢，所以必須由真空系統(tǒng)保持電鏡的真空度，否則，空氣中的分子會阻撓電子束的發(fā)射而不能成像。用兩種類型的真空泵串連起來獲得電子顯微鏡鏡筒中的真空，當電子顯微鏡啟動時，第一
2024-01-09 11:18:33165 數(shù)字顯微鏡Smartzoom5和SEM掃描電子顯微鏡的解決方案。圖a、b顯示的是無涂層的鉆頭的切削刃口情況，圖c、d顯示的是金剛石涂層鉆頭的脫落情況；圖a、c使用
2024-01-08 15:12:5298 
?? ?SEM掃描電子顯微鏡場發(fā)射電子槍與鎢絲電子槍的區(qū)別 相同點 ? ? ? ?它們都是電子槍，也就是發(fā)射電子的裝置。它們有陰極和陽極。陰極都是點源發(fā)射體。陰極和陽極之間有一個直流高壓電場。高電壓
2024-01-04 16:46:25362 中圖儀器VT6000粗糙度顯微鏡檢測儀基于光學共軛共焦原理，結(jié)合精密縱向掃描，以在樣品表面進行快速點掃描并逐層獲取不同高度處清晰焦點并重建出3D真彩圖像，從而進行分析的精密光學儀器，一般用于略粗糙度
2024-01-04 10:20:18
中圖儀器VT6000系列激光共聚焦顯微鏡基于光學共軛共焦原理，結(jié)合精密縱向掃描，以在樣品表面進行快速點掃描并逐層獲取不同高度處清晰焦點并重建出3D真彩圖像，從而進行分析的精密光學儀器，一般用于略
2024-01-04 10:17:23
薄TEM薄片+TEM觀察分析對于芯片膜層很薄的結(jié)構(gòu)層，一般是幾個納米的芯片膜厚，透射電鏡TEM分辨率比SEM高，透射電子顯微鏡的分辨率比光學顯微鏡高的很多，可以達到0.1～0.2nm，放大倍數(shù)為幾萬
2024-01-02 17:08:51
掃描電子顯微鏡（SEM）已廣泛用于材料表征、計量和過程控制的研究和先進制造中，我們在對半導體材料和結(jié)構(gòu)進行觀測時，常常會遇到充電效應(yīng)，本文討論了與樣品充電相關(guān)的一些問題以及減輕其影響的方法。
2023-12-29 15:57:12462 
中國近年來向著科技自立自強的方向邁出了堅定的步伐，核心技術(shù)不斷突破，高端儀器設(shè)備持續(xù)涌現(xiàn)。近日消息，由蘇州博眾儀器科技有限公司（簡稱博眾儀器）自主研發(fā)的200kV透射電子顯微鏡BZ-F200已經(jīng)進入
2023-12-28 11:24:09766 
VT6000激光共聚焦顯微鏡系統(tǒng)以共聚焦技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等，可測各類包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓
2023-12-21 09:10:34
在低溫電子顯微鏡中，100千電子伏至300千電子伏之間的電子束穿過樣品——一組分離并固定在厚度不到60納米的超薄冰層中的單分子（平均直徑為5至40納米）。
2023-12-19 17:11:00416 
? ? ? ?掃描電子顯微鏡能夠以極高的分辨率觀察樣品表面的形貌和結(jié)構(gòu)，是材料相關(guān)工作者和學者研究的有力工具之一。其應(yīng)用范圍非常廣泛，甚至可以延伸到生物、醫(yī)療和工業(yè)領(lǐng)域。本文將對掃描電子顯微鏡
2023-12-19 15:31:37507 
透射電子顯微鏡（TEM）具有卓越的空間分辨率和高靈敏度的元素分析能力，可用于先進半導體技術(shù)中亞納米尺寸器件特征的計量和材料表征，比如評估界面細節(jié)、器件結(jié)構(gòu)尺寸以及制造過程中出現(xiàn)的缺陷或瑕疵。
2023-12-18 11:23:58771 
在材料生產(chǎn)檢測領(lǐng)域中，中圖儀器VT6000白光共聚焦顯微鏡在陶瓷、金屬、半導體、芯片等材料科學及生產(chǎn)檢測領(lǐng)域中具有廣泛的應(yīng)用。它是以共聚焦技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面
2023-12-14 11:02:17
本文介紹了一種飛米級電子顯微鏡的原理，未來這種技術(shù)有望用于探測遠離穩(wěn)定谷的核。
2023-12-13 15:59:12221 
掃描電子顯微鏡是一種全自動的、非破壞性的顯微分析系統(tǒng)，可針對無機材料和部分有機材料，迅速提供在統(tǒng)計學上可靠且可重復的礦物學、巖相學和冶金學數(shù)據(jù)，在采礦業(yè)，可用于礦產(chǎn)勘查、礦石表征和選礦工藝優(yōu)化
2023-11-21 13:16:41235 
掃描電子顯微鏡是一種全自動的、非破壞性的顯微分析系統(tǒng)，可針對無機材料和部分有機材料，迅速提供在統(tǒng)計學上可靠且可重復的礦物學、巖相學和冶金學數(shù)據(jù)，在采礦業(yè)，可用于礦產(chǎn)勘查、礦石表征和選礦工藝優(yōu)化
2023-11-21 13:02:19458 共聚焦顯微鏡具有高分辨率和高靈敏度的特點，適用于多種不同樣品的成像和分析，能夠產(chǎn)生結(jié)果和圖像清晰，易于分析。這些特性使共聚焦顯微鏡成為現(xiàn)代科學研究中的重要工具，同時為人們解析微觀世界提供了一種強大
2023-11-21 09:21:03
0 EBSD技術(shù)是一種常用的材料顯微技術(shù)，全稱電子背散射衍射。它通過測量反射電子的角度和相位差來確定樣品的晶體結(jié)構(gòu)和晶粒取向等特征。與傳統(tǒng)的掃描電鏡技術(shù)相比，EBSD技術(shù)具有更高的空間分辨率，可以獲得亞微米級的晶體學數(shù)據(jù)。
2023-11-16 13:31:48366 
如今，不僅有能放大幾千倍的光學顯微鏡，也有能放大幾十萬倍的電子顯微鏡，讓我們對生物體的生命活動規(guī)律有了更深入的了解。普通中學生物教學大綱中規(guī)定的實驗絕大部分都是利用顯微鏡來完成的，因此顯微鏡的性能是觀察好實驗的關(guān)鍵。
2023-11-07 15:23:26797 隨著科技的不斷進步，掃描顯微鏡成為了現(xiàn)代顯微鏡技術(shù)的重要組成部分。它能夠提供更高的分辨率、更廣的視場和更強的功能，用于研究各種微觀結(jié)構(gòu)和材料的特性。而高壓放大器在掃描顯微鏡系統(tǒng)中發(fā)揮著至關(guān)重要的作用
2023-10-24 18:00:42343 
1. 工作原理 掃描電子顯微鏡以電子束為光源，以光柵式掃描方式將精細聚焦的電子束照射到樣品上。二次電子、背散射電子等。電子與樣品之間相互作用所產(chǎn)生的電子然后被收集和處理，以獲得顯微形貌的放大圖像
2023-10-23 14:56:393838 
掃描電子顯微鏡是一種電子光學儀器，廣泛應(yīng)用于化學、生物、醫(yī)藥、冶金、材料、半導體制造、微電路檢測等領(lǐng)域。自20世紀60年代以來，掃描電子顯微鏡一直被用作一種工具。商用電子顯微鏡問世以來，發(fā)展迅速
2023-10-19 15:38:30357 
激光共聚焦顯微鏡在材料生產(chǎn)檢測領(lǐng)域中，可用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量。中圖儀器VT6000國產(chǎn)激光共聚焦顯微鏡是以共聚焦技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面
2023-10-16 09:26:14
使用，使用機器學習（ML）算法從掃描電子顯微鏡（ SEM ）和透射電子顯微鏡（TEM）數(shù)據(jù)中提取和分析輪廓，從而減少工程師的手動測量任務(wù)。 工藝技術(shù)變得越來越復雜 現(xiàn)代芯片制造技術(shù)的研發(fā)成本高達數(shù)十億美元，而且越來越復雜和昂貴：公司需要進行研究以發(fā)現(xiàn)適合其需
2023-10-13 15:26:17530 透射電子顯微鏡圖像的襯度來源于樣品對入射電子束的散射。電子波在穿過樣品時振幅和相位會發(fā)生變化，這兩種變化都會引起圖像襯度。因此，在TEM觀察中對振幅襯度和相位襯度進行區(qū)分尤為重要。
2023-10-10 09:26:52502 
CD-SEM,全名Critical Dimension Scanning Electron Microscopy，中文翻譯過來是：特征尺寸掃描電子顯微鏡。
2023-10-07 10:34:231434 
共焦顯微鏡系統(tǒng)所展現(xiàn)的放大圖像細節(jié)要高于常規(guī)的光學顯微鏡。VT6000共聚焦激光顯微鏡技術(shù)以共聚焦技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，在
2023-09-28 09:19:04
? 季豐電子目前擁有蔡司GeminiSEM500掃描電鏡SEM熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡，可為客戶呈現(xiàn)任意樣品表面更強的信號和更豐富的細節(jié)信息；尤其在低的加速電壓下，可在避免樣品損傷的同時，快速獲取更高
2023-09-23 09:50:44375 
掃描透射電子顯微鏡（Scanning Transmission Electron Microscope，簡稱STEM），是在TEM成像技術(shù)上發(fā)展起來的一種電子顯微成像技術(shù)
2023-09-19 11:24:512514 
SuperViewW1國產(chǎn)白光干涉顯微鏡以白光干涉技術(shù)為原理，結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等，通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌，用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量。產(chǎn)品功能
2023-09-06 14:34:18
聚焦離子束-掃描電子顯微鏡雙束系統(tǒng) FIB-SEM應(yīng)用
聚焦離子束-掃描電鏡雙束系統(tǒng)主要用于表面二次電子形貌觀察、能譜面掃描、樣品截面觀察、微小樣品標記以及TEM超薄片樣品的制備。
1.FIB切片
2023-09-05 11:58:27
掃描電子顯微鏡-電子通道對比成像（SEM-ECCI）是在掃描電子顯微鏡下直接表征晶體材料內(nèi)部缺陷的技術(shù)。SEM-ECCI技術(shù)的發(fā)展已經(jīng)取代了透射電子顯微鏡（TEM）在缺陷表征領(lǐng)域的部分功能。與TEM
2023-09-04 14:56:47353 
透射電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope, 簡稱TEM），是一種把經(jīng)加速和聚集的電子束透射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產(chǎn)生立體角
2023-08-29 14:54:151371 
在材料生產(chǎn)領(lǐng)域，共焦顯微鏡系統(tǒng)所展現(xiàn)的放大圖像細節(jié)要高于常規(guī)的光學顯微鏡。在相同物鏡放大的條件下，共焦顯微鏡所展示的圖像形態(tài)細節(jié)更清晰更微細，橫向分辨率更高。VT6000材料型轉(zhuǎn)盤共聚焦顯微鏡以共聚
2023-08-29 09:03:37
產(chǎn)品介紹—— 采用優(yōu)異的光學系統(tǒng)，視場清晰范圍更加寬廣，任意倍率下都能保持優(yōu)質(zhì)明亮的成像，是現(xiàn)代電子工業(yè)檢測及設(shè)備配套的首選。適用于PCB、LCD、IC的裝配和檢測。 體式顯微鏡參數(shù)表 ——
2023-08-28 16:22:57
產(chǎn)品介紹—— 使用一體式視頻顯微鏡可觀察PCB板上的各種不同原件，簡單的調(diào)節(jié)即可對焦實現(xiàn)快速觀察，亦可觀察LED芯片等；使用一體式視頻顯微鏡可觀察各種成型零件如鉆頭、車刀、銑刀、沖模的形狀
2023-08-28 16:19:41
高靈敏度的探測器在低光強條件下也能夠獲得清晰的圖像。
VT6000激光共聚焦顯微鏡基于針孔點光源的共軛共焦原理，具有納米級別的縱向分辨能力，配合高速掃描模塊，專業(yè)的分析軟件具有多區(qū)域、自動測量功能，能實現(xiàn)
2023-08-22 15:19:49
，為電池研發(fā)提供有價值的數(shù)據(jù)。然而，受可見光波長的限制，它的觀察范圍有限，而電子顯微鏡很好地解決了這一問題 1931年問世的電子顯微鏡，利用電子束將物體放大300萬倍，達到奈米分辨率。由于電子顯微鏡的分辨率更高，在電池研發(fā)
2023-08-22 13:41:06323 
。SuperViewW1白光干涉儀顯微鏡應(yīng)用領(lǐng)域廣泛，操作簡便，可自動聚焦測量工件獲取2D，3D表面粗糙度、輪廓等一百余項參數(shù)。廣泛應(yīng)用于如納米材料、航空航天、半導體等
2023-08-22 09:15:52
共焦顯微鏡系統(tǒng)所展現(xiàn)的放大圖像細節(jié)要高于常規(guī)的光學顯微鏡。在相同物鏡放大的條件下，共焦顯微鏡所展示的圖像形態(tài)細節(jié)更清晰更微細，橫向分辨率更高。 VT6000系列3d形貌激光共聚焦顯微鏡以
2023-08-18 10:09:19
，受可見光波長的限制，它的觀察范圍有限，而電子顯微鏡很好地解決了這一問題 1931年問世的蔡司電子顯微鏡，利用電子束將物體放大300萬倍，達到奈米分辨率。由于蔡司電子顯微鏡的分辨率更高，在電池研發(fā)中，用不同的探針，可獲得
2023-08-16 14:03:49225 
CHOTEST中圖儀器轉(zhuǎn)盤光學共聚焦顯微鏡以轉(zhuǎn)盤共聚焦光學系統(tǒng)為基礎(chǔ)，結(jié)合高穩(wěn)定性結(jié)構(gòu)設(shè)計和3D重建算法，共同組成測量系統(tǒng)，集成X、Y、Z三個方向位移調(diào)整功能的操縱手柄，可快速完成載物臺平移、Z向
2023-08-09 09:02:30
。對于此類場景，常規(guī)掃描電鏡效率嚴重不足，為解決客戶痛點，國儀量子于近日推出一款專為大規(guī)模成像而生的新產(chǎn)品——高速掃描電子顯微鏡HEM6000?！备咚賿呙?b class="flag-6" style="color: red">電子顯微
2023-08-09 08:29:23453 已難以滿足需要。電子顯微系統(tǒng)的出現(xiàn)，使分辨率提高到納米領(lǐng)域，并具有多功能的綜合分析能力，為微觀領(lǐng)域的深入研究提供了強有力的手段。三本精密儀器的蔡司掃描電子顯微鏡(
2023-08-08 15:50:351419 
的物理過程包括電子源產(chǎn)生、透射、衍射、散射、吸收等多個過程，這些過程相互作用并共同影響圖像的形成。 2.高級光學 ? TEM使用高能電子束來成像，這與傳統(tǒng)的光學顯微鏡有很大的差異。電子在樣品中的相互作用更復雜，需要理解電子的波動性和相對論
2023-08-07 09:47:06841 
和共聚焦3D顯微形貌檢測技術(shù)，廣泛應(yīng)用于涉足超精密加工領(lǐng)域的三維形貌檢測與表面質(zhì)量檢測方案。其中，VT6000系列共聚焦顯微鏡，在結(jié)構(gòu)復雜且反射率低的表面3D微觀形貌重構(gòu)與檢測方面具有不俗的表現(xiàn)。
一
2023-08-04 16:12:06
雖然還有其他研究石墨烯瑕疵的方法，但這些方法都有缺點。例如，拉曼光譜無法區(qū)分某些缺陷類型，而高分辨率透射電子顯微鏡能以出色的分辨率表征晶體結(jié)構(gòu)缺陷，但其使用的高能電子會使晶格退化。
2023-08-03 15:10:08391 
在相同物鏡放大的條件下，共焦顯微鏡所展示的圖像形態(tài)細節(jié)更清晰更微細，橫向分辨率更高。如同為微納檢測的利器，共聚焦擅長微納級粗糙輪廓的檢測，能夠提供色彩斑斕的真彩圖像便于觀察。
2023-08-02 13:42:23
透射電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope, TEM）是一種用于觀察樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的高分辨率顯微鏡。它利用電子束穿透樣品并形成投影圖像，然后通過對該圖像進行解釋
2023-08-01 10:02:152341 蔡司熱場掃描電鏡Sigma300電子顯微鏡能夠?qū)Ω鞣N材質(zhì)的導電和不導電樣品、不同尺寸和形狀的樣品表面微觀結(jié)構(gòu)進行高分辨觀察。配置能譜和背散射電子衍射儀附件可以實現(xiàn)樣品表面微觀區(qū)域內(nèi)的成分和織構(gòu)分析
2023-07-26 10:48:06650 中圖儀器VT6000系列轉(zhuǎn)盤共聚焦光學顯微鏡以共聚焦技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等，能測各類包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度
2023-07-24 14:41:27
與傳統(tǒng)光學顯微鏡相比，激光共聚焦顯微鏡具有更高的分辨率，實現(xiàn)多重熒光的同時觀察并可形成清晰的三維圖像等優(yōu)點。中圖儀器VT6000系列共聚焦顯微鏡以轉(zhuǎn)盤共聚焦光學系統(tǒng)為基礎(chǔ)，結(jié)合高穩(wěn)定性結(jié)構(gòu)設(shè)計和3D
2023-07-18 13:35:19
蔡司的光學顯微鏡、電子顯微鏡、x射線顯微鏡、計算機斷層掃描(蔡司工業(yè)CT)系統(tǒng)和蔡司三坐標測量機可以在不同精度級別下用于評估電池的結(jié)構(gòu)、成分、氣特性和尺寸特性，并建立這些數(shù)據(jù)之間的關(guān)聯(lián)。蔡司代理昆山
2023-07-11 15:07:54406 
在材料生產(chǎn)檢測領(lǐng)域中，共聚焦激光顯微鏡可以實現(xiàn)對器件表面形貌的3D測量。 中圖儀器VT6000共聚焦激光顯微鏡以共聚焦技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸
2023-07-10 11:28:42
方式，可在短時間(約幾秒)內(nèi)精確量測物體的三維數(shù)據(jù)。其測量方式是非接觸式，不會破壞樣品的表面，不需要在真空環(huán)境下測量，也可以用顯微鏡測量的功能來觀測樣本，其在嚴酷
2023-07-06 13:36:38
這是Amanda王莉第55篇文章,點這里關(guān)注我,記得標星在當今世界，SEM掃描電子顯微鏡分析技術(shù)，一種介于透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的一種觀察手段，主要應(yīng)用在半導體、材料科學、生命科學和納米材料
2023-07-05 10:04:061995 
掃描隧道顯微鏡STM 掃描隧道顯微鏡 (Scanning Tunneling Microscope, 縮寫為STM) 是一種掃描探針顯微術(shù)工具，掃描隧道顯微鏡可以讓科學家觀察和定位單個原子，它具有
2023-07-04 13:12:051129 
中圖共聚焦激光顯微鏡VT6000系列擅長微納級粗糙輪廓的檢測，能夠提供色彩斑斕的真彩圖像便于觀察。中圖共聚焦激光顯微鏡以共聚焦技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等，可應(yīng)用于半導體
2023-06-29 14:28:22
組成測量系統(tǒng)。在材料生產(chǎn)檢測領(lǐng)域中，共聚焦顯微鏡在陶瓷、金屬、半導體、芯片等材料科學及生產(chǎn)檢測領(lǐng)域中也具有廣泛的應(yīng)用。 中圖共聚焦激光掃描顯微鏡產(chǎn)品功能1)
2023-06-28 13:45:21
共聚焦顯微鏡的系統(tǒng)點擴散函數(shù)分布等于物鏡和點像能量分布的卷積。在物鏡相同的情況下，其橫向分辨率(x-y面)比傳統(tǒng)光學顯微鏡提高了1.4倍，達到0.4λ/NA，如中圖儀器的VT6000材料共聚焦顯微鏡
2023-06-20 10:19:29
共聚焦顯微鏡系統(tǒng)所展現(xiàn)的放大圖像細節(jié)要高于常規(guī)的光學顯微鏡。傳統(tǒng)光學顯微鏡上常配備靈敏度較低的CCD相機來采集圖像，對于低照度的光，如熒光無法探測到，而共聚焦顯微鏡系統(tǒng)使用的探測元件是高靈敏度
2023-06-13 10:53:26
在材料生產(chǎn)檢測領(lǐng)域中，共聚焦顯微鏡所展現(xiàn)的放大圖像細節(jié)要高于常規(guī)的光學顯微鏡。傳統(tǒng)光學顯微鏡上常配備靈敏度較低的CCD相機來采集圖像，對于低照度的光，如熒光無法探測到，而共聚焦顯微鏡系統(tǒng)使用的探測
2023-06-06 13:39:27
產(chǎn)品介紹—— 自動對焦視頻顯微鏡可在顯示器上以全新的角度觀察樣品，無需使用目鏡。并能夠顯示及保存高品質(zhì)全彩色靜態(tài)圖像、動態(tài)高清影片，普密自動對焦視頻顯微鏡采用一體化機身設(shè)計，全套光學系統(tǒng)
2023-05-31 15:30:01
產(chǎn)品介紹—— 普密斯PMS-TM200是一種新型的數(shù)字測量顯微鏡.結(jié)合了金相顯微鏡的高倍觀察能力，和影像測量儀的X、Y、Z軸表面尺寸測量功能，具備明暗場、微分干涉、偏光等多種
2023-05-31 15:19:59
產(chǎn)品介紹—— 3D視頻顯微鏡有多種3D觀察角度：30°，35°，40°，45°，直流伺服馬達驅(qū)動3D轉(zhuǎn)換鏡圍繞式樣進行360°旋轉(zhuǎn)，實時將圖像傳導在高清顯示器上在線觀察。 3D視頻顯微鏡
2023-05-31 15:16:47
透射電子顯微鏡TEM 透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope，簡稱TEM)，可以看到在光學顯微鏡下無法看清的小于0.2um的細微結(jié)構(gòu)，這些結(jié)構(gòu)稱為亞顯微
2023-05-31 09:20:40782 
與傳統(tǒng)光學顯微鏡相比，激光共聚焦顯微鏡具有更高的分辨率，所展現(xiàn)的放大圖像細節(jié)要高于常規(guī)的光學顯微鏡。所展示的圖像形態(tài)細節(jié)更清晰更微細，橫向分辨率更高。 中圖儀器VT6000激光共聚焦顯微鏡
2023-05-30 11:35:55
在材料生產(chǎn)檢測領(lǐng)域中，共聚焦顯微鏡在陶瓷、金屬、半導體、芯片等材料科學及生產(chǎn)檢測領(lǐng)域中也具有廣泛的應(yīng)用。 中圖儀器VT6000系列中圖共聚焦顯微鏡以共聚焦技術(shù)為原理，通過系統(tǒng)軟件對器件表面
2023-05-26 11:14:28
在材料生產(chǎn)檢測領(lǐng)域中，共聚焦顯微鏡主要測量表面物理形貌，進行微納米尺度的三維形貌分析，如3D表面形貌、2D的縱深形貌、輪廓（縱深、寬度、曲率、角度）、表面粗糙度等。與傳統(tǒng)光學顯微鏡相比，它具有更高
2023-05-25 11:27:02
在材料生產(chǎn)檢測領(lǐng)域中，共聚焦顯微鏡在陶瓷、金屬、半導體、芯片等材料科學及生產(chǎn)檢測領(lǐng)域中也具有廣泛的應(yīng)用。 中圖儀器VT6000系列共聚焦3D成像顯微鏡系統(tǒng)以共聚焦技術(shù)為原理，通過系統(tǒng)軟件
2023-05-22 10:37:45
在材料生產(chǎn)檢測領(lǐng)域中，共聚焦顯微鏡在陶瓷、金屬、半導體、芯片等材料科學及生產(chǎn)檢測領(lǐng)域中也具有廣泛的應(yīng)用。例如，鋼的鑄造組織一般比較粗大，可直接用共聚焦顯微鏡進行觀察，同時可以利用其模擬微合金鋼在
2023-05-18 14:05:46
中圖儀器VT6000系列轉(zhuǎn)盤共聚焦顯微鏡是一款用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量的檢測儀器。它是以共聚焦技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立
2023-05-08 09:54:25
為了支持半導體制造商的自動化需求，先進的電子顯微鏡正在集成人工智能功能，以提供更快的數(shù)據(jù)生成時間并提高人力和工具資源的生產(chǎn)效率。
2023-05-05 17:17:25499 在材料生產(chǎn)檢測領(lǐng)域中，3d共聚焦測量顯微鏡在陶瓷、金屬、半導體、芯片等材料科學及生產(chǎn)檢測領(lǐng)域中也具有廣泛的應(yīng)用。例如，鋼的鑄造組織一般比較粗大，可直接用共聚焦顯微鏡進行觀察，同時可以利用其模擬微
2023-05-04 15:53:48
共聚焦顯微鏡裝置是在被測對象焦平面的共軛面上放置兩個小孔，其中一個放在光源前面，另一個放在探測器前面，如圖所示。 共聚共焦顯微鏡光路示意圖 得到的圖像是來自一個焦平面的光通過針孔
2023-04-24 09:25:29
以共聚焦技術(shù)為原理的共聚焦顯微鏡，是用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量的檢測儀器。 中圖儀器VT6000系列三維光學輪廓共聚焦材料顯微鏡基于共聚焦顯微技術(shù)，結(jié)合精密Z向掃描模塊
2023-04-20 10:52:25
以共聚焦技術(shù)為原理的共聚焦顯微鏡，是用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量的檢測儀器。 中圖儀器VT6000系列3d工業(yè)共聚焦顯微鏡基于共聚焦顯微技術(shù)，結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D
2023-04-19 10:14:05
共聚焦顯微鏡結(jié)合CCD的影像攝取，以有許多孔洞的旋轉(zhuǎn)盤取代偵測器的孔洞，再將物鏡垂直移動，以類似斷層攝影方式，可在短時間(約幾秒)內(nèi)精確量測物體的三維數(shù)據(jù).由于使用了共聚焦的方法，在測量漸變較大
2023-04-12 14:29:27
場發(fā)射掃描電鏡SEM5000SEM5000是一款分辨率高、功能豐富的場發(fā)射掃描電子顯微鏡。先進的鏡筒設(shè)計，高壓隧道技術(shù)（SuperTunnel）、低像差無漏磁物鏡設(shè)計，實現(xiàn)了低電壓高分辨率成像，同時
2023-04-12 11:38:30572 中圖儀器VT6000光學3d共聚焦顯微鏡以共聚焦技術(shù)為原理，主要用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量。光學3d共聚焦顯微鏡儀器結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描
2023-04-04 11:07:52
中圖儀器VT6000超景深光學顯微鏡與共聚焦材料表面微納米級測量儀以轉(zhuǎn)盤共聚焦光學系統(tǒng)為基礎(chǔ)，結(jié)合高穩(wěn)定性結(jié)構(gòu)設(shè)計和3D重建算法，共同組成測量系統(tǒng)，保證儀器的高測量精度；隔震設(shè)計能夠消減底面振動噪聲
2023-04-04 11:04:53
粗糙度等。 VT60003D高精度激光共聚焦掃描顯微鏡可廣泛應(yīng)用于半導體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、微納材料制
2023-03-27 14:05:31
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