用于略粗糙度的工件表面的微觀形貌檢測(cè)，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、溝槽等參數(shù)。半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測(cè)、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料制造、汽車(chē)零部件
2024-03-13 10:10:32
的移相特性非常重要，并且在電子電路中有許多實(shí)際應(yīng)用。 首先，我們來(lái)觀察和分析RC電路的移相特性。為了用于觀測(cè)和分析移相特性，我們可以通過(guò)輸入一個(gè)正弦信號(hào)來(lái)激勵(lì)RC電路。正弦信號(hào)是一種周期性變化的信號(hào)，通常用于分析系統(tǒng)的頻率響應(yīng)。在
2024-03-09 14:07:49
308 2024年3月6日，日立高新技術(shù)集團(tuán)旗下的日立分析儀器有限公司（以下簡(jiǎn)稱(chēng)為“日立分析儀器”）推出了可在NEXTA DSC系列熱分析儀上使用的偏光顯微鏡配件。
2024-03-06 14:00:06143 【設(shè)備應(yīng)用】
SEM是掃描電子顯微鏡，用二次電子成像的原理來(lái)觀察某種物質(zhì)的微觀形貌。EDS是能譜儀，是每種元素對(duì)應(yīng)的電子能不同，來(lái)鑒別元素，通常與SEM結(jié)合使用，也就是說(shuō)在SEM上安裝EDS附件，在
2024-03-01 18:59:58
在芯片制造領(lǐng)域，透射電鏡TEM技術(shù)發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。通過(guò)TEM測(cè)試，科學(xué)家可以觀察芯片中晶體結(jié)構(gòu)的變化，分析晶體缺陷，研究材料界面結(jié)構(gòu)，從而深入了解芯片的工作原理和性能。
2024-02-27 16:48:13134 
作為一款強(qiáng)大的多物理場(chǎng)仿真軟件，為超材料和超表面的研究提供了強(qiáng)大的仿真工具。本文將重點(diǎn)介紹COMSOL Multiphysics在周期性超表面透射反射分析中的應(yīng)用，以期為相關(guān)領(lǐng)域的研究提供
2024-02-20 09:20:23
光學(xué)3D表面輪廓儀(白光干涉儀)利用白光干涉原理，以0.1nm分辨率精準(zhǔn)捕捉物體的表面細(xì)節(jié)，實(shí)現(xiàn)三維顯微成像測(cè)量，被廣泛應(yīng)用于材料學(xué)領(lǐng)域的研究和應(yīng)用。了解工作原理與技術(shù)材料學(xué)領(lǐng)域中的光學(xué)3D表面
2024-02-20 09:10:09
0 光學(xué)3D表面輪廓儀利用白光干涉原理，以0.1nm分辨率精準(zhǔn)捕捉物體表面細(xì)節(jié)，實(shí)現(xiàn)三維顯微成像測(cè)量。廣泛應(yīng)用于材料學(xué)領(lǐng)域，可測(cè)量各種材料表面形貌，提高超光滑表面形貌的測(cè)試精度。
2024-02-19 13:47:01237 
共聚焦顯微鏡在材料學(xué)領(lǐng)域應(yīng)用廣泛，通過(guò)超高分辨率的三維顯微成像測(cè)量，可清晰觀察材料的表面形貌、表層結(jié)構(gòu)和納米尺度的缺陷，有助于理解材料的微觀特性和材料工程設(shè)計(jì)。
2024-02-18 10:53:13224 
掃描電鏡按構(gòu)造和用處可分為透射式電子顯微鏡、掃描式電子顯微鏡、反射式電子顯微鏡和發(fā)射式電子顯微鏡等。 掃描電鏡常用于察看那些用普通顯微鏡所不能分辨的纖細(xì)物質(zhì)構(gòu)造，次要用于察看固體外表的形貌，也能與
2024-02-01 18:22:15603 基于 蔡司 全系列電子顯微鏡的原位液體電化學(xué)顯微解決方案具有在真實(shí)液氛下的高分辨成像、多模態(tài)全面表征以及靈活擴(kuò)展的創(chuàng)新優(yōu)勢(shì)。本期分享液氛SEM的原位多模態(tài)分析方法，以及高分辨成像的全新案例。 創(chuàng)新
2024-01-30 14:22:07137 
陽(yáng)一科技體視顯微鏡也稱(chēng)解刨顯微鏡，是微量物證檢驗(yàn)常用的儀器。主要用于痕跡檢驗(yàn)、文件檢驗(yàn)中的細(xì)小物證，如指紋、工具、文字的顯微觀察和分析檢驗(yàn)。體視顯微鏡主要操作有：調(diào)焦，視度調(diào)節(jié)，瞳距調(diào)節(jié)和燈泡更換
2024-01-26 08:35:32291 
1月20日，廣州慧炬科技有限公司成功舉辦“承鴻鵠之志，造大國(guó)電鏡”新品發(fā)布會(huì)，正式發(fā)布首臺(tái)國(guó)產(chǎn)商業(yè)場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡“太行”TH-F120。標(biāo)志著我國(guó)已掌握透射電鏡整機(jī)研制能力以及電子槍、高壓電源
2024-01-26 08:26:00280 
。 1月20日，首臺(tái)國(guó)產(chǎn)商業(yè)場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡TH-F120在廣州市黃埔區(qū)正式發(fā)布。該透射電鏡由生物島實(shí)驗(yàn)室領(lǐng)銜研制，擁有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)，將打破國(guó)內(nèi)透射電鏡100%依賴(lài)進(jìn)口的局面，標(biāo)志著我國(guó)已掌握透射電鏡用的電子槍等核心技術(shù)，并具備量產(chǎn)透射電鏡
2024-01-22 09:54:52127 等問(wèn)題，無(wú)法滿足精細(xì)材料表面的檢測(cè)需求。而激光共聚焦顯微鏡以其高分辨率、高靈敏度和高測(cè)量速度等優(yōu)勢(shì)，成為材料表面粗糙度檢測(cè)的得力工具。為什么要選擇共聚焦顯微鏡測(cè)粗糙度？激光共聚焦顯微鏡作為一種高分辨顯微鏡，能
2024-01-18 10:53:420 顯微鏡利用可見(jiàn)光成像。因?yàn)?b class="flag-6" style="color: red">電子的波長(zhǎng)比光的波長(zhǎng)小得多，所以電子顯微鏡的分辨率比光學(xué)顯微鏡高。 掃描電子顯微鏡（SEM），簡(jiǎn)稱(chēng)掃描電子顯微鏡，已成為一種功能強(qiáng)大、用途廣泛的材料表征工具，廣泛應(yīng)用于材料、冶金、礦產(chǎn)、
2024-01-17 09:39:56144 激光共聚焦顯微鏡因其高分辨率、高靈敏度和高測(cè)量速度，成為材料表面粗糙度檢測(cè)的理想工具。它可解決傳統(tǒng)方法的局限，如對(duì)微小結(jié)構(gòu)或曲面表面的測(cè)量問(wèn)題，并適用于多種材料。該顯微鏡能獲取三維形貌信息，為粗糙度評(píng)價(jià)提供全面數(shù)據(jù)支持。
2024-01-15 09:05:39291 
中圖儀器VT6000系列材料激光共聚焦顯微鏡用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行微納米級(jí)測(cè)量。它以共聚焦技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像
2024-01-12 11:35:10
由于電子在空氣中行進(jìn)的速度很慢，所以必須由真空系統(tǒng)保持電鏡的真空度，否則，空氣中的分子會(huì)阻撓電子束的發(fā)射而不能成像。用兩種類(lèi)型的真空泵串連起來(lái)獲得電子顯微鏡鏡筒中的真空，當(dāng)電子顯微鏡啟動(dòng)時(shí)，第一
2024-01-09 11:18:33165 數(shù)字顯微鏡Smartzoom5和SEM掃描電子顯微鏡的解決方案。圖a、b顯示的是無(wú)涂層的鉆頭的切削刃口情況，圖c、d顯示的是金剛石涂層鉆頭的脫落情況；圖a、c使用
2024-01-08 15:12:5298 
?? ?SEM掃描電子顯微鏡場(chǎng)發(fā)射電子槍與鎢絲電子槍的區(qū)別 相同點(diǎn) ? ? ? ?它們都是電子槍?zhuān)簿褪前l(fā)射電子的裝置。它們有陰極和陽(yáng)極。陰極都是點(diǎn)源發(fā)射體。陰極和陽(yáng)極之間有一個(gè)直流高壓電場(chǎng)。高電壓
2024-01-04 16:46:25362 中圖儀器VT6000系列3D共聚焦形貌顯微鏡以共聚焦技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等，測(cè)量表面物理形貌，進(jìn)行微納米尺度的三維形貌分析，如3D表面形貌、2D的縱深形貌、輪廓（縱深
2024-01-03 10:05:05
薄TEM薄片+TEM觀察分析對(duì)于芯片膜層很薄的結(jié)構(gòu)層，一般是幾個(gè)納米的芯片膜厚，透射電鏡TEM分辨率比SEM高，透射電子顯微鏡的分辨率比光學(xué)顯微鏡高的很多，可以達(dá)到0.1～0.2nm，放大倍數(shù)為幾萬(wàn)
2024-01-02 17:08:51
掃描電子顯微鏡（SEM）已廣泛用于材料表征、計(jì)量和過(guò)程控制的研究和先進(jìn)制造中，我們?cè)趯?duì)半導(dǎo)體材料和結(jié)構(gòu)進(jìn)行觀測(cè)時(shí)，常常會(huì)遇到充電效應(yīng)，本文討論了與樣品充電相關(guān)的一些問(wèn)題以及減輕其影響的方法。
2023-12-29 15:57:12462 
了小批試產(chǎn)階段，這標(biāo)志著國(guó)產(chǎn)首臺(tái)200kV透射電子顯微鏡取得重大突破。透射電子顯微鏡被列為受限制的“35項(xiàng)關(guān)鍵技術(shù)”之一，是半導(dǎo)體、生命科學(xué)、材料科學(xué)等領(lǐng)域不可或缺的高端科學(xué)儀器，國(guó)內(nèi)市場(chǎng)需求巨大，但長(zhǎng)期以來(lái)全部依賴(lài)進(jìn)口，因此國(guó)產(chǎn)
2023-12-28 11:24:09766 
共聚焦顯微鏡可以在非常小的區(qū)域內(nèi)進(jìn)行高分辨率成像，用途廣泛。特別在材料科學(xué)研究中，適合用于觀察材料的表面形貌結(jié)構(gòu)。中圖共聚焦顯微鏡以針孔共聚焦技術(shù)為原理，廣泛用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測(cè)中，對(duì)大傾角的產(chǎn)品有更好的成像效果，在滿足精度情況下使用場(chǎng)景更具有兼容性。
2023-12-26 11:48:15161 
如何使用頻譜分析儀來(lái)觀察和分析雜散信號(hào)？ 頻譜分析儀是一種廣泛應(yīng)用于電子領(lǐng)域的儀器，用于觀察和分析信號(hào)的頻譜特性。它可以幫助工程師們檢測(cè)和排除信號(hào)中的雜散信號(hào)，確保設(shè)備的正常工作和無(wú)干擾的信號(hào)傳輸
2023-12-21 15:37:16592 同步熱分析儀是一種在材料科學(xué)、化學(xué)、物理等領(lǐng)域廣泛應(yīng)用的實(shí)驗(yàn)設(shè)備。它結(jié)合了熱重分析（TGA）和差熱分析（DSC）兩種技術(shù)，能夠同時(shí)測(cè)量樣品的質(zhì)量和熱量變化，提供關(guān)于樣品熱性質(zhì)和化學(xué)反應(yīng)的豐富信息
2023-12-20 13:56:39215 
? ? ? ?掃描電子顯微鏡能夠以極高的分辨率觀察樣品表面的形貌和結(jié)構(gòu)，是材料相關(guān)工作者和學(xué)者研究的有力工具之一。其應(yīng)用范圍非常廣泛，甚至可以延伸到生物、醫(yī)療和工業(yè)領(lǐng)域。本文將對(duì)掃描電子顯微
2023-12-19 15:31:37507 
透射電子顯微鏡（TEM）具有卓越的空間分辨率和高靈敏度的元素分析能力，可用于先進(jìn)半導(dǎo)體技術(shù)中亞納米尺寸器件特征的計(jì)量和材料表征，比如評(píng)估界面細(xì)節(jié)、器件結(jié)構(gòu)尺寸以及制造過(guò)程中出現(xiàn)的缺陷或瑕疵。
2023-12-18 11:23:58771 
本文介紹了一種飛米級(jí)電子顯微鏡的原理，未來(lái)這種技術(shù)有望用于探測(cè)遠(yuǎn)離穩(wěn)定谷的核。
2023-12-13 15:59:12221 
紅外發(fā)射電路是紅外通信系統(tǒng)中的重要組成部分，其主要功能是產(chǎn)生和發(fā)射紅外信號(hào)。本文將詳細(xì)分析紅外發(fā)射電路的功能，包括其工作原理、主要組成部分、性能指標(biāo)以及應(yīng)用場(chǎng)景。 一、紅外發(fā)射電路的工作原理 紅外
2023-12-13 11:02:11409 共聚焦
顯微鏡能夠
觀察材料表面和內(nèi)部的微觀結(jié)構(gòu)，在半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測(cè)、3C
電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納
材料制造、汽車(chē)零部件、MEMS器件等領(lǐng)域中，共聚焦
顯微鏡能夠?qū)γ嫘屋喞⒈砻嫒毕?/div>
2023-12-12 09:47:50356 
共聚焦顯微鏡其尖端的傾角形貌測(cè)量功能能清晰呈現(xiàn)復(fù)雜結(jié)構(gòu)的細(xì)節(jié)，在形貌測(cè)量方面具有顯著優(yōu)勢(shì)。在微納檢測(cè)領(lǐng)域，共聚焦顯微鏡具有的納米級(jí)別縱向分辨能力，在相同物鏡放大的條件下橫向分辨率更高，能夠清晰地展示
2023-11-29 10:01:430 借助先進(jìn)的Docker安全管理工具，企業(yè)組織可以自動(dòng)掃描Docker鏡像并查找安全漏洞，發(fā)現(xiàn)其中已過(guò)時(shí)的軟件包或已知的安全漏洞；此外，這些工具還可以有效幫助安全人員分析Docker鏡像的內(nèi)容
2023-11-27 16:12:49186 
掃描電子顯微鏡是一種全自動(dòng)的、非破壞性的顯微分析系統(tǒng)，可針對(duì)無(wú)機(jī)材料和部分有機(jī)材料，迅速提供在統(tǒng)計(jì)學(xué)上可靠且可重復(fù)的礦物學(xué)、巖相學(xué)和冶金學(xué)數(shù)據(jù)，在采礦業(yè)，可用于礦產(chǎn)勘查、礦石表征和選礦工藝優(yōu)化
2023-11-21 13:16:41235 
掃描電子顯微鏡是一種全自動(dòng)的、非破壞性的顯微分析系統(tǒng)，可針對(duì)無(wú)機(jī)材料和部分有機(jī)材料，迅速提供在統(tǒng)計(jì)學(xué)上可靠且可重復(fù)的礦物學(xué)、巖相學(xué)和冶金學(xué)數(shù)據(jù)，在采礦業(yè)，可用于礦產(chǎn)勘查、礦石表征和選礦工藝優(yōu)化
2023-11-21 13:02:19458 EBSD技術(shù)是一種常用的材料顯微技術(shù)，全稱(chēng)電子背散射衍射。它通過(guò)測(cè)量反射電子的角度和相位差來(lái)確定樣品的晶體結(jié)構(gòu)和晶粒取向等特征。與傳統(tǒng)的掃描電鏡技術(shù)相比，EBSD技術(shù)具有更高的空間分辨率，可以獲得亞微米級(jí)的晶體學(xué)數(shù)據(jù)。
2023-11-16 13:31:48366 
最近收到老師同學(xué)們的許多問(wèn)題，其中大家最想要了解的問(wèn)題是“如何在透射電鏡下判斷位錯(cuò)類(lèi)型(螺位錯(cuò)、刃位錯(cuò)、混合位錯(cuò))”。在此，為了能快速理解并分析，我整理了三個(gè)問(wèn)題，希望能幫助到大家，以下見(jiàn)解如有錯(cuò)誤，請(qǐng)大家批評(píng)指正。
2023-11-13 14:37:25634 
11月7日，國(guó)儀電鏡論壇暨安徽大學(xué)先進(jìn)功能材料分析測(cè)試技術(shù)交流會(huì)在安徽大學(xué)磬苑校區(qū)成功舉行，來(lái)自周邊地區(qū)高校的80多位領(lǐng)域內(nèi)師生參與了本次會(huì)議，深入探討先進(jìn)功能材料的分析測(cè)試技術(shù)與電子顯微鏡在研究
2023-11-10 08:24:59618 如今，不僅有能放大幾千倍的光學(xué)顯微鏡，也有能放大幾十萬(wàn)倍的電子顯微鏡，讓我們對(duì)生物體的生命活動(dòng)規(guī)律有了更深入的了解。普通中學(xué)生物教學(xué)大綱中規(guī)定的實(shí)驗(yàn)絕大部分都是利用顯微鏡來(lái)完成的，因此顯微鏡的性能是觀察好實(shí)驗(yàn)的關(guān)鍵。
2023-11-07 15:23:26797 激光共聚焦顯微鏡等，以獲得更全面的形貌信息。（激光共聚焦顯微鏡以共聚焦技術(shù)為原理，更容易測(cè)陡峭邊緣，擅長(zhǎng)微納級(jí)粗糙輪廓的檢測(cè)，雖在檢測(cè)分辨率上略遜，但成像圖色彩斑斕，便于觀察。）
2023-11-06 14:27:48
鎢絲掃描電子顯微鏡的總發(fā)射電流和光斑大，抗干擾能力和穩(wěn)定性好。可在低真空下不充電對(duì)非導(dǎo)電樣品進(jìn)行成像，并可用于形貌觀察、微觀結(jié)構(gòu)分析，以及斷口形貌分析。分析，在材料、地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金、機(jī)械、化學(xué)
2023-11-06 13:52:52176 
電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《光伏接線盒材料分析.ppt》資料免費(fèi)下載
2023-11-02 10:20:061 鎢絲掃描電子顯微鏡的發(fā)射電流和光斑都比較適中，抗干擾能力和穩(wěn)定性比較好。可在低真空下對(duì)非導(dǎo)電樣品進(jìn)行成像，并可用于形貌觀察、微觀結(jié)構(gòu)分析，以及斷口形貌分析。分析，在材料、地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金、機(jī)械、化學(xué)
2023-10-31 15:17:52249 透射電鏡圖像分為試樣的顯微像和衍射花樣，這兩種像分別為不同電子成像，前者是透射電子成像，后者為散射電子成像。
2023-10-31 14:53:50677 
美國(guó)Sigmadyne公司的SigFit軟件是光機(jī)熱耦合分析工具，可以將有限元分析得到的光學(xué)表面變形等結(jié)果文件通過(guò)多項(xiàng)式擬合或插值轉(zhuǎn)化為光學(xué)分析軟件的輸入文件，還可實(shí)現(xiàn)動(dòng)態(tài)響應(yīng)分析、光程差分析
2023-10-24 14:57:45263 
普通熱發(fā)射掃描電子顯微鏡相比，場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡具有更高的亮度和更小的電子束直徑，即更小的束斑尺寸和更高的分辨率。是納米尺度微區(qū)形貌分析的首選。 2. 文書(shū)組成 場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡由場(chǎng)發(fā)射電子槍、電子束推進(jìn)器、聚光透
2023-10-23 14:56:393838 
掃描電子顯微鏡是一種電子光學(xué)儀器，廣泛應(yīng)用于化學(xué)、生物、醫(yī)藥、冶金、材料、半導(dǎo)體制造、微電路檢測(cè)等領(lǐng)域。自20世紀(jì)60年代以來(lái)，掃描電子顯微鏡一直被用作一種工具。商用電子顯微鏡問(wèn)世以來(lái)，發(fā)展迅速
2023-10-19 15:38:30357 
使用，使用機(jī)器學(xué)習(xí)（ML）算法從掃描電子顯微鏡（ SEM ）和透射電子顯微鏡（TEM）數(shù)據(jù)中提取和分析輪廓，從而減少工程師的手動(dòng)測(cè)量任務(wù)。 工藝技術(shù)變得越來(lái)越復(fù)雜 現(xiàn)代芯片制造技術(shù)的研發(fā)成本高達(dá)數(shù)十億美元，而且越來(lái)越復(fù)雜和昂貴：公司需要進(jìn)行研究以發(fā)現(xiàn)適合其需
2023-10-13 15:26:17530 共聚焦光學(xué)系統(tǒng)為基礎(chǔ)，結(jié)合高穩(wěn)定性結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和3D重建算法共同組成測(cè)量系統(tǒng)，能用于各種精密器件及材料表面的非接觸式微納米測(cè)量。能測(cè)量表面物理形貌，進(jìn)行微納米尺度的三維形貌分析，如3D表面形貌、2D的縱深
2023-10-11 14:37:46
透射電子顯微鏡圖像的襯度來(lái)源于樣品對(duì)入射電子束的散射。電子波在穿過(guò)樣品時(shí)振幅和相位會(huì)發(fā)生變化，這兩種變化都會(huì)引起圖像襯度。因此，在TEM觀察中對(duì)振幅襯度和相位襯度進(jìn)行區(qū)分尤為重要。
2023-10-10 09:26:52502 
SuperViewW系列白光干涉顯微形貌儀是以白光干涉技術(shù)原理，通過(guò)測(cè)量干涉條紋的變化來(lái)測(cè)量表面三維形貌，是一款用于精密零部件之重點(diǎn)部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的納米級(jí)測(cè)量?jī)x器。產(chǎn)品簡(jiǎn)介
2023-09-26 14:12:49
? 季豐電子目前擁有蔡司GeminiSEM500掃描電鏡SEM熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡，可為客戶(hù)呈現(xiàn)任意樣品表面更強(qiáng)的信號(hào)和更豐富的細(xì)節(jié)信息；尤其在低的加速電壓下，可在避免樣品損傷的同時(shí)，快速獲取更高
2023-09-23 09:50:44375 
掃描透射電子顯微鏡（Scanning Transmission Electron Microscope，簡(jiǎn)稱(chēng)STEM），是在TEM成像技術(shù)上發(fā)展起來(lái)的一種電子顯微成像技術(shù)
2023-09-19 11:24:512514 
表面貼裝技術(shù)中的鋼網(wǎng)設(shè)計(jì)是決定焊膏沉積量的關(guān)鍵因素，而再流焊后形成的焊點(diǎn)形貌與鋼網(wǎng)的開(kāi)口設(shè)計(jì)有著千絲萬(wàn)縷的聯(lián)系。從SMT錫膏印刷工藝的理論基礎(chǔ)出發(fā)，結(jié)合實(shí)際PCB（印制線路板）上錫膏印刷量，針對(duì)在不同線寬的高速信號(hào)線衍生形成的焊盤(pán)上印刷不同體積的錫膏量，論證再流焊后形成的焊點(diǎn)形貌。
2023-09-12 10:29:03383 
功率放大器在掃描顯微鏡中起到了至關(guān)重要的作用。掃描顯微鏡是一種高分辨率的顯微鏡技術(shù)，它能夠以極高的精度觀察和研究樣品的表面形貌和結(jié)構(gòu)特征。而功率放大器則能夠提供所需的信號(hào)增益，使得掃描顯微鏡能夠獲得
2023-09-07 18:28:23209 
聚焦離子束-掃描電子顯微鏡雙束系統(tǒng) FIB-SEM應(yīng)用
聚焦離子束-掃描電鏡雙束系統(tǒng)主要用于表面二次電子形貌觀察、能譜面掃描、樣品截面觀察、微小樣品標(biāo)記以及TEM超薄片樣品的制備。
1.FIB切片
2023-09-05 11:58:27
掃描電子顯微鏡-電子通道對(duì)比成像（SEM-ECCI）是在掃描電子顯微鏡下直接表征晶體材料內(nèi)部缺陷的技術(shù)。SEM-ECCI技術(shù)的發(fā)展已經(jīng)取代了透射電子顯微鏡（TEM）在缺陷表征領(lǐng)域的部分功能。與TEM
2023-09-04 14:56:47356 
透射電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope, 簡(jiǎn)稱(chēng)TEM），是一種把經(jīng)加速和聚集的電子束透射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產(chǎn)生立體角
2023-08-29 14:54:151371 
能譜儀（EDS）是一種快速分析樣品微區(qū)內(nèi)元素種類(lèi)及含量的重要工具，通常與掃描電鏡（SEM）、透射電鏡（TEM）組合使用，實(shí)現(xiàn)形貌與成分的對(duì)照。它的工作原理是：當(dāng)電子束掃描樣品時(shí)，不同元素被激發(fā)出來(lái)的x射線能量不同，通過(guò)探測(cè)這些特征X射線的能量與強(qiáng)度，可以確定樣品中的元素組成和含量。
2023-08-29 09:43:241952 
白光干涉儀是一種常見(jiàn)的測(cè)量設(shè)備，它能夠利用不同的光束干涉原理來(lái)觀察和測(cè)量顯微形貌。當(dāng)白色光經(jīng)過(guò)分束鏡分成兩束光線，這些光線在目標(biāo)物體上反射后重新合并。這樣，生成的光束會(huì)發(fā)生干涉，由此產(chǎn)生一系列明暗相間的干涉條紋。這些條紋的形狀和間距與目標(biāo)物體的表面形貌直接相關(guān)。
2023-08-23 10:35:21441 
。**配備高靈敏度的光電二極管探測(cè)器，使得激光共聚焦顯微鏡能夠快速并精確地檢測(cè)光信號(hào)，并將其轉(zhuǎn)換為電信號(hào)。
與傳統(tǒng)的光學(xué)觀察不同，光電二極管探測(cè)器可以實(shí)現(xiàn)單個(gè)光子的檢測(cè)，使得成像更加敏感和準(zhǔn)確。這種
2023-08-22 15:19:49
，為電池研發(fā)提供有價(jià)值的數(shù)據(jù)。然而，受可見(jiàn)光波長(zhǎng)的限制，它的觀察范圍有限，而電子顯微鏡很好地解決了這一問(wèn)題 1931年問(wèn)世的電子顯微鏡，利用電子束將物體放大300萬(wàn)倍，達(dá)到奈米分辨率。由于電子顯微鏡的分辨率更高，在電池研發(fā)
2023-08-22 13:41:06323 
的臺(tái)階高度測(cè)量；
5、劃痕形貌，摩擦磨損深度、寬度和體積定量測(cè)量；
6、微電子表面分析和MEMS表征。
總之，白光干涉儀并非只能測(cè)量同質(zhì)材料。盡管在非同質(zhì)材料的測(cè)量中需要更多的校準(zhǔn)和計(jì)算，但通過(guò)精確的技術(shù)和分析方法，它仍然可以提供準(zhǔn)確、詳細(xì)而可靠的測(cè)量結(jié)果，幫助我們深入研究材料的特性和性能。
2023-08-21 13:46:12
，受可見(jiàn)光波長(zhǎng)的限制，它的觀察范圍有限，而電子顯微鏡很好地解決了這一問(wèn)題 1931年問(wèn)世的蔡司電子顯微鏡，利用電子束將物體放大300萬(wàn)倍，達(dá)到奈米分辨率。由于蔡司電子顯微鏡的分辨率更高，在電池研發(fā)中，用不同的探針，可獲得
2023-08-16 14:03:49225 
。對(duì)于此類(lèi)場(chǎng)景，常規(guī)掃描電鏡效率嚴(yán)重不足，為解決客戶(hù)痛點(diǎn)，國(guó)儀量子于近日推出一款專(zhuān)為大規(guī)模成像而生的新產(chǎn)品——高速掃描電子顯微鏡HEM6000。”高速掃描電子顯微
2023-08-09 08:29:23453 蔡司掃描電子顯微鏡(sem掃描電鏡)對(duì)于材料科學(xué)、電子、地質(zhì)、物理、化工、農(nóng)醫(yī)、公安、食品和輕工等領(lǐng)域的科學(xué)研究，人們總是關(guān)心微觀形態(tài)、晶體結(jié)構(gòu)和化學(xué)組成與宏觀物理或化學(xué)性質(zhì)之間的關(guān)系。光學(xué)顯微系統(tǒng)
2023-08-08 15:50:351419 
本材料的預(yù)期受眾是任何級(jí)別的系統(tǒng)設(shè)計(jì)師，或任何其他具有對(duì)深入了解如何選擇單個(gè)IP并將其組合成自定義SoC.功率、性能和面積（PPA）分析收集與以下各項(xiàng)相關(guān)的數(shù)據(jù)三個(gè)類(lèi)別。除了成本之外，通常還需要
2023-08-08 06:20:44
隨著超精密加工技術(shù)的不斷進(jìn)步，各種微納結(jié)構(gòu)元件廣泛應(yīng)用于超材料、微電子、航空航天、環(huán)境能源、生物技術(shù)等領(lǐng)域。其中超精密3D顯微測(cè)量技術(shù)是提升微納制造技術(shù)發(fā)展水平的關(guān)鍵，中圖儀器自主研發(fā)的白光干涉掃描
2023-08-04 16:12:06
雖然還有其他研究石墨烯瑕疵的方法，但這些方法都有缺點(diǎn)。例如，拉曼光譜無(wú)法區(qū)分某些缺陷類(lèi)型，而高分辨率透射電子顯微鏡能以出色的分辨率表征晶體結(jié)構(gòu)缺陷，但其使用的高能電子會(huì)使晶格退化。
2023-08-03 15:10:08391 
透射電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope, TEM）是一種用于觀察樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的高分辨率顯微鏡。它利用電子束穿透樣品并形成投影圖像，然后通過(guò)對(duì)該圖像進(jìn)行解釋
2023-08-01 10:02:152341 pyverilog是一個(gè)非常強(qiáng)大的verilog分析工具，本節(jié)介紹pyverilog的使用
2023-07-26 17:04:441357 
蔡司熱場(chǎng)掃描電鏡Sigma300電子顯微鏡能夠?qū)Ω鞣N材質(zhì)的導(dǎo)電和不導(dǎo)電樣品、不同尺寸和形狀的樣品表面微觀結(jié)構(gòu)進(jìn)行高分辨觀察。配置能譜和背散射電子衍射儀附件可以實(shí)現(xiàn)樣品表面微觀區(qū)域內(nèi)的成分和織構(gòu)分析
2023-07-26 10:48:06650 波長(zhǎng)微分干涉（DIC）顯微鏡采用緊湊穩(wěn)定的高剛性主體，滿足顯微操作的防震要求；模塊化功能設(shè)計(jì)理念，方便系統(tǒng)升級(jí)，導(dǎo)柱升降裝置，可快速調(diào)整工作臺(tái)與物鏡之間的距離，適用于不同厚度工件檢測(cè)，搭載機(jī)械移動(dòng)式載物平臺(tái)，有效定位工件，適合于顯微觀察或多試樣快速檢測(cè)。人機(jī)工程學(xué)理想設(shè)計(jì)，操作更方便舒適，空間更廣闊。
2023-07-25 10:59:47525 
引言綜合熱分析儀是一種多功能的熱學(xué)測(cè)量?jī)x器，能夠同時(shí)測(cè)量樣品的多種熱學(xué)性能和物理性質(zhì)。它在材料科學(xué)、化學(xué)、冶金、生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域中具有廣泛的應(yīng)用，為研究材料的性能和反應(yīng)過(guò)程提供了強(qiáng)有力的支持。本文
2023-07-14 16:02:48362 
、電子順磁共振波譜儀、掃描電子顯微鏡、氣體吸附分析儀、量子測(cè)控等系列產(chǎn)品參展。誠(chéng)邀您作為我司特邀觀眾蒞臨參觀！國(guó)儀量子展位號(hào)：2.2B301深耕產(chǎn)業(yè)，多領(lǐng)域解決方案報(bào)告會(huì)議期
2023-07-06 10:03:56316 Veritas系列保持EMVeritas系列保持EM科特（EmCrafts）電子顯微鏡的高性能高效率，大樣品倉(cāng)內(nèi)含5軸共心電動(dòng)樣品臺(tái)，可更輕松地測(cè)量大尺寸樣品。科特（EmCrafts）電子顯微
2023-07-05 15:13:38270 
這是Amanda王莉第55篇文章,點(diǎn)這里關(guān)注我,記得標(biāo)星在當(dāng)今世界，SEM掃描電子顯微鏡分析技術(shù)，一種介于透射電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種觀察手段，主要應(yīng)用在半導(dǎo)體、材料科學(xué)、生命科學(xué)和納米材料
2023-07-05 10:04:061995 
掃描隧道顯微鏡STM 掃描隧道顯微鏡 (Scanning Tunneling Microscope, 縮寫(xiě)為STM) 是一種掃描探針顯微術(shù)工具，掃描隧道顯微鏡可以讓科學(xué)家觀察和定位單個(gè)原子，它具有
2023-07-04 13:12:051129 
共聚焦顯微鏡的系統(tǒng)點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)分布等于物鏡和點(diǎn)像能量分布的卷積。在物鏡相同的情況下，其橫向分辨率(x-y面)比傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡提高了1.4倍，達(dá)到0.4λ/NA，如中圖儀器的VT6000材料共聚焦顯微
2023-06-20 10:19:29
產(chǎn)品介紹—— 普密斯PMS-TM200是一種新型的數(shù)字測(cè)量顯微鏡.結(jié)合了金相顯微鏡的高倍觀察能力，和影像測(cè)量?jī)x的X、Y、Z軸表面尺寸測(cè)量功能，具備明暗場(chǎng)、微分干涉、偏光等多種
2023-05-31 15:19:59
產(chǎn)品介紹—— 3D視頻顯微鏡有多種3D觀察角度：30°，35°，40°，45°，直流伺服馬達(dá)驅(qū)動(dòng)3D轉(zhuǎn)換鏡圍繞式樣進(jìn)行360°旋轉(zhuǎn)，實(shí)時(shí)將圖像傳導(dǎo)在高清顯示器上在線觀察。 3D視頻顯微
2023-05-31 15:16:47
透射電子顯微鏡TEM 透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope，簡(jiǎn)稱(chēng)TEM)，可以看到在光學(xué)顯微鏡下無(wú)法看清的小于0.2um的細(xì)微結(jié)構(gòu)，這些結(jié)構(gòu)稱(chēng)為亞顯微
2023-05-31 09:20:40782 
以共聚焦技術(shù)為原理的激光共聚焦顯微鏡，是用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行微納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器。VT6000激光共聚焦顯微鏡材料科學(xué)的目標(biāo)是研究材料表面結(jié)構(gòu)對(duì)于其表面特性的影響。因此，高分辨率分析
2023-05-26 14:43:421229 
在材料生產(chǎn)檢測(cè)領(lǐng)域中，共聚焦顯微鏡主要測(cè)量表面物理形貌，進(jìn)行微納米尺度的三維形貌分析，如3D表面形貌、2D的縱深形貌、輪廓（縱深、寬度、曲率、角度）、表面粗糙度等。與傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡相比，它具有更高
2023-05-25 11:27:02
顯微光譜測(cè)試系統(tǒng) 1.輕松實(shí)現(xiàn)具有微米級(jí)空間分辨率的顯微熒光光譜。 2.簡(jiǎn)單方便的擴(kuò)展功能與設(shè)計(jì)精巧的可選模塊。 3.可實(shí)現(xiàn)微米級(jí)樣品的反射光譜，透射光譜、熒光光譜，熒光壽命，拉曼光譜等光譜分析測(cè)試
2023-05-24 07:17:23286 
在材料生產(chǎn)檢測(cè)領(lǐng)域中，共聚焦顯微鏡在陶瓷、金屬、半導(dǎo)體、芯片等材料科學(xué)及生產(chǎn)檢測(cè)領(lǐng)域中也具有廣泛的應(yīng)用。例如，鋼的鑄造組織一般比較粗大，可直接用共聚焦顯微鏡進(jìn)行觀察，同時(shí)可以利用其模擬微合金鋼在
2023-05-18 14:05:46
在調(diào)試開(kāi)發(fā)藍(lán)牙Mesh產(chǎn)品時(shí)，除了打開(kāi)設(shè)備端的Log外，有時(shí)還需要用到抓包工具分析空中的Mesh消息格式和交互流程是否正確。目前市面上的抓包儀器價(jià)格較貴，在缺少專(zhuān)業(yè)的抓包工具時(shí)，可通過(guò)泰凌自研的藍(lán)牙Mesh包解密分析工具進(jìn)行初步分析。
2023-05-17 10:43:571557 
為了支持半導(dǎo)體制造商的自動(dòng)化需求，先進(jìn)的電子顯微鏡正在集成人工智能功能，以提供更快的數(shù)據(jù)生成時(shí)間并提高人力和工具資源的生產(chǎn)效率。
2023-05-05 17:17:25500 在材料生產(chǎn)檢測(cè)領(lǐng)域中，3d共聚焦測(cè)量顯微鏡在陶瓷、金屬、半導(dǎo)體、芯片等材料科學(xué)及生產(chǎn)檢測(cè)領(lǐng)域中也具有廣泛的應(yīng)用。例如，鋼的鑄造組織一般比較粗大，可直接用共聚焦顯微鏡進(jìn)行觀察，同時(shí)可以利用其模擬微
2023-05-04 15:53:48
以共聚焦技術(shù)為原理的共聚焦顯微鏡，是用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行微納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器。 中圖儀器VT6000系列三維光學(xué)輪廓共聚焦材料顯微鏡基于共聚焦顯微技術(shù)，結(jié)合精密Z向掃描模塊
2023-04-20 10:52:25
場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM5000SEM5000是一款分辨率高、功能豐富的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡。先進(jìn)的鏡筒設(shè)計(jì)，高壓隧道技術(shù)（SuperTunnel）、低像差無(wú)漏磁物鏡設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)了低電壓高分辨率成像，同時(shí)
2023-04-12 11:38:30572 采用掃描電子顯微鏡（SEM，圖1e-g）和原位光學(xué)顯微鏡（圖1h-i）研究了在基準(zhǔn)電解液（BE：1 M LiPF6, EC/EMC 3:7, v/v）中，不添加和添加KFPB添加劑時(shí)沉積Li的形貌變化。含有0.03 M KFPB添加劑的BE被命名為KFPB-BE。
2023-04-07 11:13:371125 中圖儀器VT60003D高精度激光共聚焦掃描顯微鏡以共聚焦顯微測(cè)量技術(shù)為原理，主要測(cè)量表面物理形貌，進(jìn)行微納米尺度的三維形貌分析，如3D表面形貌、2D的縱深形貌、輪廓（縱深、寬度、曲率、角度）、表面
2023-03-27 14:05:31
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