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      上海季豐電子

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      SEM/FIB雙束系統截面加工：實現離子的成像、注入、刻蝕和沉積

      SEM/FIB（Scanning Electron Microscope/Focused Ion b....
      的頭像 上海季豐電子 發表于 10-07 14:44 ?1917次閱讀
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      季豐電子新熱場電子顯微鏡可幫助客戶快速獲取清晰的圖像

      ? 季豐電子目前擁有蔡司GeminiSEM500掃描電鏡SEM熱場發射掃描電子顯微鏡，可為客戶呈現任....
      的頭像 上海季豐電子 發表于 09-23 09:50 ?989次閱讀
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      季豐電子入選上海市服務型制造示范平臺

      9月20日，以“共享G60創新生態，服務型制造賦能產業高質量發展”為主題的“服務型制造萬里行——走進....
      的頭像 上海季豐電子 發表于 09-22 09:51 ?1033次閱讀

      季豐電子新引入精密芯片裂片設備SELA—MC10

      SELA是通過刻痕和斷裂的雙重過程制備樣品，獲得高質量截面。
      的頭像 上海季豐電子 發表于 09-21 18:27 ?2253次閱讀
      季豐電子新引入精密芯片裂片設備SELA—MC10

      STEM的成像原理 STEM的圖像襯度來源

      掃描透射電子顯微鏡（Scanning Transmission Electron Microscop....
      的頭像 上海季豐電子 發表于 09-19 11:24 ?7370次閱讀
      STEM的成像原理 STEM的圖像襯度來源

      如何計算芯片內部自研IP模塊的FIT的數值

      Q1 圖中這個分層是哪里導致的？ A1 die attach，銀漿分層，最好有個reference對....
      的頭像 上海季豐電子 發表于 09-10 10:36 ?3202次閱讀
      如何計算芯片內部自研IP模塊的FIT的數值

      工藝可靠性電遷移EM測試

      電遷移是金屬線在電流和溫度作用下產生的金屬遷移現象——運動中的電子和主體金屬晶格之間相互交換動量，金....
      的頭像 上海季豐電子 發表于 09-07 09:37 ?7741次閱讀
      工藝可靠性電遷移EM測試

      EDS面掃、線掃、點掃的應用

      能譜儀（EDS）是一種快速分析樣品微區內元素種類及含量的重要工具，通常與掃描電鏡（SEM）、透射電鏡....
      的頭像 上海季豐電子 發表于 08-29 09:43 ?7451次閱讀
      EDS面掃、線掃、點掃的應用

      波峰焊焊點吹孔的分析及解決方案

      在波峰焊生產過程中，吹孔是比較常見的不良現象，即從焊點表面肉眼可見較大的空洞，在IPC-A-610中....
      的頭像 上海季豐電子 發表于 08-16 10:33 ?2240次閱讀

      tem成像系統有哪幾部分組成

      TEM的成像原理涉及許多物理和光學概念，涵蓋了電子束的產生、聚焦、樣品相互作用以及圖像形成等多個方面....
      的頭像 上海季豐電子 發表于 08-07 09:47 ?2367次閱讀
      tem成像系統有哪幾部分組成

      透射電子顯微鏡的用途和特點

      透射電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope, TEM）是一種用....
      的頭像 上海季豐電子 發表于 08-01 10:02 ?6902次閱讀

      介紹一種基于ICP-MS的硅材料痕量金屬檢測方法

      隨著硅材料在半導體和光電子領域的應用日益廣泛，痕量金屬元素對材料性能和質量的影響越來越大，高精度的硅....
      的頭像 上海季豐電子 發表于 07-27 17:49 ?2042次閱讀

      季豐電子面向客戶提供完整的半導體工藝可靠性測試服務

      季豐電子面向客戶提供完整的半導體工藝可靠性測試、驗證和咨詢服務，可有效縮短制造工藝和器件開發的時間，....
      的頭像 上海季豐電子 發表于 07-23 11:16 ?2638次閱讀
      季豐電子面向客戶提供完整的半導體工藝可靠性測試服務

      季豐2DX-ray分析能力可實現細微缺陷清晰展現

      ? Dage Quadra7介紹 作為Dage Quadra 系列中前沿的產品，Dage Quadr....
      的頭像 上海季豐電子 發表于 06-26 11:14 ?904次閱讀
      季豐2DX-ray分析能力可實現細微缺陷清晰展現

      季豐電子FEI-Centrios線路修補設備為客戶提供高效服務

      FEI-Centrios線路修補設備可以更高效地根據客戶需求，完成鋁制程及銅制程芯片，市場大部鋁制程....
      的頭像 上海季豐電子 發表于 06-20 11:21 ?1241次閱讀

      淺談IGBT去硅凝膠方法及注意事項

      如果要縮短溶解時間，可以預先用物理方式去除部分表面的硅膠，但需要有較好的控制，以免對鍵合引線或者芯片....
      的頭像 上海季豐電子 發表于 06-10 07:08 ?4915次閱讀
      淺談IGBT去硅凝膠方法及注意事項

      季豐量產測試線設備——Wafer光學自動檢測介紹

      Wafer自動光學檢測（AOI）設備適用于6寸&8寸&12寸 wafer的2D&3D缺陷檢測、尺寸測....
      的頭像 上海季豐電子 發表于 06-01 10:56 ?3737次閱讀
      季豐量產測試線設備——Wafer光學自動檢測介紹

      LabMaster新一代季豐實驗室管理系統正式發布

      2023年5月，LabMaster新一代季豐實驗室管理系統正式發布。 LabMaster是季豐自研的....
      的頭像 上海季豐電子 發表于 05-31 09:55 ?1487次閱讀
      LabMaster新一代季豐實驗室管理系統正式發布

      衢州季豐與TUV南德簽約 幫助光伏產品制造商節約測試時間和成本

      50萬人注冊觀展、33個展館、3000家企業參展、觀眾來自全球95個國家……5月24日-5月26日，....
      的頭像 上海季豐電子 發表于 05-26 11:18 ?921次閱讀

      季豐電子仿真的主要應用

      季豐電子硬件研發事業部有專門從事仿真業務的團隊，負責硬件電路的電氣完整性。
      的頭像 上海季豐電子 發表于 05-15 15:27 ?793次閱讀
      季豐電子仿真的主要應用

      季豐三代千路電壓電流監控設備MonitorMaster正式發布

      MonitorMaster是季豐研發的電壓、電流、功率監控方案。整個方案包含控制板和監控電路兩部分：....
      的頭像 上海季豐電子 發表于 04-27 14:22 ?1611次閱讀
      季豐三代千路電壓電流監控設備MonitorMaster正式發布

      HF5000球差電鏡功能介紹和亮點功能案例分析

      季豐電子HITACHI HF5000功能豐富，借助超高的分辨率和獨特的探頭設計，可滿足客戶大多數極限....
      的頭像 上海季豐電子 發表于 04-11 17:08 ?3135次閱讀

      跌落測試試驗條件能力介紹

      季豐嘉善實驗室包裝跌落試驗機 能力： ? ? ? 治具示意圖（不僅限圖示，更多治具開發中）： 樣品示....
      的頭像 上海季豐電子 發表于 03-27 14:47 ?1931次閱讀

      季豐嘉善車規芯片量產測試線能力介紹——三溫CP、三溫FT、Burn-in、三溫SLT

      芯片測試是每一顆芯片進入市場前的必經環節。和消費類芯片不同，汽車芯片對安全性、可靠性有著更嚴苛的標準....
      的頭像 上海季豐電子 發表于 03-21 14:32 ?14989次閱讀

      芯片在失效分析中的開封方法及注意事項

      Decap：即開封，也稱開蓋，開帽，是指將完整封裝的IC做局部腐蝕，使得IC可以暴露出來 ，同時保持....
      的頭像 上海季豐電子 發表于 03-20 11:44 ?3130次閱讀

      深圳季豐快速封裝能力最短0.5小時

      ? 為解決客戶迫切需要最短時間得到封裝樣品來做產品性能驗證的要求，深圳季豐可在最短0.5小時內把客戶....
      的頭像 上海季豐電子 發表于 02-23 14:38 ?2646次閱讀

      杭州季豐電子喜獲園區2022年度“十佳企業”稱號

      日前，杭州季豐榮獲園區2022年度“十佳企業”稱號。 （正泰量測科技園總經理金女士為杭州季豐頒獎） ....
      的頭像 上海季豐電子 發表于 01-16 14:45 ?2186次閱讀

      開關產品ESD測試的介紹

      1.?????開關產品介紹 ? 微波開關又稱射頻開關，實現了控制微波信號通道轉換作用。是射頻通路中的....
      的頭像 上海季豐電子 發表于 12-21 00:03 ?1910次閱讀

      季豐再添新業務，加快建立痕量雜質分析平臺

      隨著半導體行業的飛速發展，半導體材料的純度越來越高，半導體材料對痕量雜質的容忍度越來越低，已經發展成....
      的頭像 上海季豐電子 發表于 12-20 16:11 ?1103次閱讀

      HBM靜電測試機尾波的危害

      HBM(Human Body Model) 驗證測試已經成為IC 防靜電等級的必測項目，一般是直接委....
      的頭像 上海季豐電子 發表于 11-30 11:11 ?3110次閱讀