隨著半導體行業的飛速發展，半導體材料的純度越來越高，半導體材料對痕量雜質的容忍度越來越低，已經發展成為專門性的半導體級痕量雜質分析技術。

季豐電子因應市場需求，已正式收購了江蘇賽夫特的檢測業務，建立起完整的痕量雜質分析平臺，專門服務于半導體領域的高級需求。

季豐痕量分析實驗室在原賽夫特檢測實驗室基礎上擴建而成，測試項目涵蓋半導體材料的痕量雜質，半導體生產所用超純化學品的痕量雜質，痕量離子及無塵室VOC等等。歡迎新老朋友前來參觀、交流！

主營業務

痕量金屬測試能力

對半導體生產中的化學品進行痕量雜質測試，如UPW、HF、HCl、HNO3、H2SO4、H3PO4、NH4OH、Wafer表面、Wafer本體、BOE、SC1、SC2、DEV、H2O2、IPA、NMP等進行痕量分析（ppt level）；可測試金屬有Li、Na、Mg、Al、 K、 Cr、 Mn、Fe、 Ni、 Pb、 Co、 Ca、 Ga、 As、 Cu、 Zn、 Ag、 Ba、 Tl、 B、 Bi、 Cd、 In、Sr、 W、 Si、 Ti等；1ppt級別的檢測能力；同時可做同位素分離等。

（左上Angilent ICP-MS 8900、左下WSPSVPD 實驗機臺、右邊Angilent ICP-OES5800） 對半導體生產中的WAFER 正表面和背表面進行金屬測試（VPD-ICP MS）。可測試金屬有Li、Na、 Mg、 Al、 K、 Cr、 Mn、 Fe、 Ni、 Pb、 Co、 Ca、 Ga、 As、 Cu、 Zn、 Ag、 Ba、 Tl、 B、 Bi、 Cd、In、 Sr、 W、 Si、 Ti等。10^8atom/cm2級別的檢測能力。

痕量離子濃度測試能力

（ThermoFisher ICS6000） 離子測量有F-、Cl-、NO3- 、SO42-、PO43-、NH4+等。10ppt級別的檢測能力。

（瑞士萬通 905 雙通全自動電位滴定儀酸堿+氧化還原） 可精確定量半導體原材料，生產工藝過程中的化學品濃度。如：Slurry、BOE、TMAH、 SC1、SC2 等化學品濃度。

（瑞士萬通 852 卡爾費休庫侖雙通道水分儀）

可以精確定量半導體原材料，生產工藝過程中化學品中水分含量從0.01%-1%都能精準測試。 GC-MS 應用：分析來自FAB環境樣品中的VOC含量（VOC:Volatile Organic Compound）

（Agilent 5977-8860+TD100 熱脫附） 傅里葉變換紅外分析儀是用來分析WAFER中的C、O整體濃度分布的儀器。 分析原理：全光譜吸收對比，精度PPM-PPB。 即可以單點濃度分析，也可以面掃描分析。

（Nicolet iS50 FTIR）

化學實驗室測試能力

至此，季豐已在全國各地先后成立了10余個實驗室、研發辦公室、工程量產生產線，總面積40000多平方米。為了建立強大的工程技術中心，季豐斥巨資完善各類驗證分析的儀器設備和材料分析設備，企業團隊規模也增加了20倍，每年的復合增長率都超過80%，業務范圍覆蓋軟硬件設計、精密機械、儀器設備、特種測試、極速封裝、失效分析、可靠性認證、材料分析等8大領域，涉及半導體、光伏、電子濕化學等領域。

季豐的市場天花板在不斷提升，服務的企業數量從200家增加到近2000家，未來還能做更多的設備及服務，歡迎新老客戶前來參觀、委案。

季豐電子

上海季豐電子股份有限公司成立于2008年，致力于集成電路及相關領域內的軟硬件及設備研發與專業技術服務，為客戶提供一站式的綜合解決方案。公司的四大業務版塊包括：基礎技術中心、硬件軟件方案、特種封裝測試、儀器設備研發。

季豐電子通過高新技術、專精特新小巨人、研發機構、公共服務平臺等企業資質認定，通過了ISO9001、ISO17025、CMA、CNAS等認證。總部位于上海，在浙江、北京、深圳、成都等地設有分公司。