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瑞樂(lè)半導(dǎo)體——On Wafer WLS-EH無(wú)線晶圓測(cè)溫系統(tǒng)半導(dǎo)體制造工藝溫度監(jiān)控的革新方案2025-05-12 22:26
在半導(dǎo)體制造中,工藝溫度的精確控制直接關(guān)系到晶圓加工的良率與器件性能。傳統(tǒng)的測(cè)溫技術(shù)(如有線測(cè)溫)易受環(huán)境干擾,難以在等離子刻蝕環(huán)境中實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)。OnWaferWLS無(wú)線晶圓測(cè)溫系統(tǒng)通過(guò)自主研發(fā)的傳感器集成技術(shù),將微型溫度傳感器直接嵌入晶圓載體(wafer),實(shí)現(xiàn)了對(duì)制程溫度的原位、實(shí)時(shí)、全流程監(jiān)控。該系統(tǒng)的核心突破在于DUALSHIELD技術(shù),解決了在干 -
瑞樂(lè)半導(dǎo)體——TC Wafer晶圓測(cè)溫系統(tǒng)持久防脫專利解決測(cè)溫點(diǎn)脫落的難題2025-05-12 22:23
TCWafer晶圓測(cè)溫系統(tǒng)是一種專為半導(dǎo)體制造工藝設(shè)計(jì)的溫度測(cè)量設(shè)備,通過(guò)利用自主研發(fā)的核心技術(shù)將高精度耐高溫的熱電偶傳感器嵌入晶圓表面,實(shí)現(xiàn)對(duì)晶圓特定位置及整體溫度分布的實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè),記錄晶圓在制程過(guò)程中的溫度變化數(shù)據(jù),為半導(dǎo)體制造過(guò)程提供一種高效可靠的方式來(lái)監(jiān)測(cè)和優(yōu)化關(guān)鍵的工藝參數(shù)。【核心技術(shù)】防脫落專利技術(shù):TCWafer晶圓測(cè)溫系統(tǒng)在高溫、真空或強(qiáng)振動(dòng)環(huán) -
瑞樂(lè)半導(dǎo)體——On Wafer WLS-WET 濕法無(wú)線晶圓測(cè)溫系統(tǒng)是半導(dǎo)體先進(jìn)制程監(jiān)控領(lǐng)域的重要?jiǎng)?chuàng)新成果2025-04-22 11:34
On Wafer WLS-WET無(wú)線晶圓測(cè)溫系統(tǒng)是半導(dǎo)體先進(jìn)制程監(jiān)控領(lǐng)域的重要?jiǎng)?chuàng)新成果。該系統(tǒng)通過(guò)自主研發(fā)的核心技術(shù),將溫度傳感器嵌入晶圓集成,實(shí)現(xiàn)了晶圓本體與傳感單元的無(wú)縫融合。傳感器采用IC傳感器,具備±0.1℃的測(cè)量精度和10ms級(jí)快速響應(yīng)特性,可實(shí)時(shí)捕捉濕法工藝中瞬態(tài)溫度場(chǎng)分布。