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• 發(fā)布了文章 2025-07-21 18:17

  分光光度法結(jié)合進(jìn)化算法精確測定：金屬氧化物薄膜厚度與光學(xué)常數(shù)

  

  薄膜厚度和復(fù)折射率的測定通常通過橢圓偏振術(shù)或分光光度法實現(xiàn)。本研究采用Flexfilm大樣品倉紫外可見近紅外分光光度計精確測量薄膜的反射率（R）和透射率（T）光譜，為反演光學(xué)參數(shù)提供高精度實驗數(shù)據(jù)。該方法在太陽能電池、傳感器等領(lǐng)域至關(guān)重要，解決了傳統(tǒng)優(yōu)化算法易陷入局部最優(yōu)、商業(yè)軟件依賴初始猜測敏感的問題。通過進(jìn)化算法（EAs）的群體搜索策略，實現(xiàn)了從350–

  傳感器 測定

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