動態

• 發布了文章 2025-04-28 20:16

  AEC-Q之高壓蒸煮試驗（PCT）

  

  在現代電子技術飛速發展的背景下，電子元件的性能和可靠性直接決定了各類設備的穩定性和使用壽命。高壓蒸煮試驗（PCT）作為一種關鍵的測試手段，為評估電子元件在極端環境下的表現提供了科學依據。模擬極端環境的關鍵技術PCT試驗的核心在于模擬電子元件在實際使用中可能遭遇的高濕、高溫和高壓環境。通過將待測元件置于100%相對濕度（R.H.）的飽和蒸汽環境中，并施加一定的

  PCT 模擬電子 環境測試

  115瀏覽量

• 發布了文章 2025-04-28 20:14

  聚焦離子束技術：納米加工與分析的利器

  

  聚焦離子束技術（FocusedIonBeam,FIB）作為一種前沿的納米加工與分析手段，憑借其獨特的優勢在多個領域展現出強大的應用潛力。本文將從技術原理、應用領域、測試項目以及制樣流程等方面，對聚焦離子束技術進行全面剖析，以期為相關領域的研究人員和從業者提供有價值的參考。聚焦離子束技術核心聚焦離子束技術的核心在于利用電透鏡將離子束聚焦成極小尺寸的離子束，進而

  fib 離子束 聚焦

  116瀏覽量

• 發布了文章 2025-04-27 15:47

  LED燈珠變色發黑與失效原因分析

  

  LED光源發黑現象LED光源以其高效、節能、環保的特性，在照明領域得到了廣泛應用。然而，LED光源在使用過程中出現的發黑現象，卻成為了影響其性能和壽命的重要因素。LED光源黑化的多重原因分析LED光源黑化是各大LED公司經常碰到的問題。然而光源黑化只是表象，硫化、氯化、溴化、氧化、碳化和化學不兼容化等原因均會導致LED光源發黑的現象。由于缺乏專業的檢測設備和

  led LED光源 LED燈珠

  478瀏覽量

• 發布了文章 2025-04-27 15:45

  IGBT 柵極驅動器：電力電子系統的核心組件

  

  在電力電子行業，隨著對功率電平和開關頻率要求的不斷提升，半導體器件的性能面臨更高的挑戰。金屬氧化物半導體場效應晶體管（MOSFET）和絕緣柵雙極晶體管（IGBT）憑借其高效性和可靠性，成為中高功率開關電源應用中的首選。而IGBT柵極驅動器作為控制和驅動IGBT的核心器件，其重要性愈發顯著。IGBT柵極驅動器的結構剖析1.輸入端：信號接收的關鍵IGBT柵極驅動

  IGBT 柵極驅動器 電力電子

  255瀏覽量

• 發布了文章 2025-04-27 15:43

  什么是氬離子拋光？

  

  氬離子拋光技術氬離子拋光技術（ArgonIonPolishing,AIP）作為一種先進的樣品制備方法，為電子顯微鏡（SEM）和電子背散射衍射（EBSD）分析提供了高質量的樣品表面。下面將介紹氬離子拋光的原理、特點、技術優勢、限制以及應用實例，以展現其在材料科學中的重要性。氬離子拋光的原理氬離子拋光技術的核心在于利用氬離子束對樣品表面進行精確的物理蝕刻。在這個

  拋光 電子顯微鏡

  136瀏覽量

• 發布了文章 2025-04-27 15:42

  最新！中國RoHS管控體系升級要點解讀

  

  2025年4月14日，工業和信息化部科技司發布公告，《電器電子產品有害物質限制使用要求》等3項強制性國家標準（報批稿）的編制工作。中國RoHS管控體系在幾大方面進行了全面升級，此次升級的核心內容之一是將有害物質的管控種類從原來的6類擴充至10類，新增的四類物質均為鄰苯類物質使用要求的此次升級還對電器電子產品有害物質的限制使用要求進行了全面規范。根據最新規定，

  RoHS 電器

  265瀏覽量

• 發布了文章 2025-04-25 17:44

  AEC-Q102中的破壞性物理分析（DPA）

  

  AEC-Q102與DPA概述在汽車電子系統中，光電半導體器件的可靠性至關重要。AEC-Q102標準應運而生，它為汽車電子中的光電半導體器件提供了一套全面的測試規范，確保這些器件能夠在極端溫度波動和惡劣環境下保持穩定運行。而破壞性物理分析（DPA）作為AEC-Q102標準的核心組成部分，通過一系列物理和化學手段對器件進行深入剖析，旨在發現潛在的制造缺陷和材料問

  DPA 半導體器件 汽車電子

  170瀏覽量

• 發布了文章 2025-04-25 17:42

  安規測試常見項目

  

  產品安全合規性，簡稱“安規”，是指確保產品在使用過程中不會對消費者造成傷害的一系列標準和測試流程。安規的重要性安規測試是評估電子產品安全性的重要手段，它包括對產品可能帶來的電擊、火災、機械傷害和化學傷害等風險的評估。這些測試流程不僅確保了產品的安全性，也提高了消費者對產品的信任度。安規測試的流程通常包括以下幾個步驟：1.了解標準和要求：制造商需要了解目標市場

  安規測試 電子產品

  277瀏覽量

• 發布了文章 2025-04-25 17:39

  什么是透射電子顯微鏡（TEM）？

  

  透射電子顯微鏡透射電子顯微鏡簡稱TEM，是一種高分辨率的微觀分析儀器，自1933年發明以來，已成為探索微觀世界的強大工具。其工作原理是在高真空環境下，電子槍發射電子束，經過聚焦后形成細小的電子束，穿過極薄的樣品。當電子束與樣品中的原子相互作用時，會發生散射、衍射等現象，透射束的強度也會隨之改變。通過收集這些信號，TEM能夠生成高分辨率的圖像，揭示樣品的形貌、

  TEM 透射電子顯微鏡

  1.4k瀏覽量

• 發布了文章 2025-04-23 14:31

  聚焦離子束（FIB）技術的應用原理

  

  聚焦離子束（FIB）技術是一種極為精細的樣品制備與加工手段，它能夠對金屬、合金、陶瓷等多種材料進行加工，制備出尺寸極小的薄片。這些薄片的寬度通常在10~20微米，高度在10~15微米，厚度僅為100~150納米。它不僅可以對納米材料的指定位置進行截面處理，以供掃描電子顯微鏡（SEM）進行形貌分析，還能高效制備透射電子顯微鏡（TEM）所需的指定位置樣品，從而成

  fib TEM 離子束

  264瀏覽量