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• 發布了文章 2025-04-11 22:51

  聚焦離子束技術的原理和應用

  

  聚焦離子束（FIB）技術在納米科技里很重要，它在材料科學、微納加工和微觀分析等方面用處很多。離子源：FIB的核心部件離子源是FIB系統的關鍵部分，液態金屬離子源（LMIS）用得最多，特別是鎵（Ga）離子源。鎵的熔點低，能形成穩定的液態金屬源，而且鎵離子聚焦性能好，能聚焦成很細的束斑，用來精確加工和分析材料。在離子源里，金屬離子被電場加速和聚焦，形成高能、高精

  fib 掃描系統 離子束

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• 發布了文章 2025-04-10 12:17

  什么是AEC-Q200認證

  

  AEC-Q200認證是由汽車電子協會（AutomotiveElectronicsCouncil，簡稱AEC）制定的一套標準，其目的在于確保汽車電子部件的可靠性和質量。AEC是由克萊斯勒、福特和通用汽車等主要汽車制造商與美國主要部件制造商共同成立的組織，旨在為車載電子部件的可靠性和認定標準的規格化提供統一的標準。在2023年3月20日，AEC發布了最新的無源元

  AEC 汽車電子 認證

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• 發布了文章 2025-04-10 12:15

  恒溫試驗：產品性能的關鍵檢測方法

  

  恒溫試驗簡介恒溫試驗是通過在特定溫度條件下對各類材料、產品和設備進行測試，以評估其性能穩定性和可靠性的一種實驗方法。恒溫試驗模擬了產品在實際使用中可能遇到的溫度環境，是確保產品在不同環境下都能正常工作的關鍵手段，為產品的技術改進和性能提升提供了重要依據。核心參數與指標1.溫度范圍：試驗溫度通常介于-40℃至+150℃，但可根據具體需求調整。2.溫度均勻性：試

  PID 檢測

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• 發布了文章 2025-04-10 11:53

  聚焦離子束雙束系統 FIB - SEM 的技術剖析與應用拓展

  

  技術原理與核心優勢聚焦離子束雙束系統（FIB-SEM）是一種集成多種先進技術的高端設備，其核心構成包括聚焦離子束（FIB）模塊、掃描電子顯微鏡（SEM）模塊以及多軸樣品臺，這種獨特的結構設計使得它能夠實現加工與觀測的一體化操作，極大地提高了工作效率和分析精度。1.FIB模塊的關鍵作用FIB模塊采用液態金屬離子源（LMIS）產生鎵離子束（Ga?），這種鎵離子束

  fib SEM 離子束

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• 發布了文章 2025-04-08 17:58

  RoHS、REACH 、無鹵的區別

  

  RoHS指令詳解RoHS（限制特定有害物質）是歐盟為降低電子和電氣設備中有害物質含量而實施的一項法規。該指令的主要目的是限制六種有害物質的使用，以減少對環境和人類健康的影響。鉛（Pb）：不得超過0.1%（1000ppm），常見用途包括焊料、玻璃和PVC穩定劑。汞（Hg）：不得超過0.1%（1000ppm），用于溫控器、傳感器等。鎘（Cd）：不得超過0.01%

  REACH RoHS 電氣設備

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• 發布了文章 2025-04-08 17:57

  熱膨脹系數測試

  

  熱膨脹系數測試是材料科學領域內一項至關重要的實驗技術。熱膨脹系數測試的原理熱膨脹系數是衡量材料在溫度變化時尺寸（長度或體積）相對變化量的物理指標，具體定義為：當溫度升高1K時，材料尺寸相對于其原始尺寸的增量比例。熱膨脹系數的大小受多種因素影響，包括材料的化學構成、鍵的牢固程度、結晶狀態、晶體取向、相轉變過程、內部裂紋及缺陷等對于同一材料而言，熱膨脹系數并非恒

  測試 熱膨脹

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• 發布了文章 2025-04-08 17:56

  聚焦離子束技術之納米尺度

  

  聚焦離子束（FocusedIonBeam，簡稱FIB）技術，宛如一把納米尺度的“萬能鑰匙”，在材料加工、分析及成像領域大放異彩。它憑借高度集中的離子束，精準操控離子束與樣品表面的相互作用，實現納米級別的精細操作，為眾多學科和工業領域帶來了前所未有的機遇。核心構成FIB系統的核心在于離子束的生成與調控。生成用于撞擊樣品的離子束，其中最為普遍的離子源類型為液態金

  fib 離子束 納米

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• 發布了文章 2025-04-07 16:01

  帶你一文了解芯片開封技術

  

  芯片開封的定義芯片開封，即Decap，是一種對完整封裝的集成電路（IC）芯片進行局部處理的工藝。其目的是去除芯片的封裝外殼，暴露出芯片內部結構，同時確保芯片功能不受損。芯片開封是芯片故障分析實驗的重要準備環節，能夠保護芯片的Die、bondpads、bondwires及lead等關鍵部分，為后續的失效分析測試提供便利，便于進行熱點定位、聚焦離子束（FIB）等

  激光 芯片 集成電路

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• 發布了文章 2025-04-07 15:57

  什么是雷擊浪涌測試？

  

  浪涌電流的定義浪涌電流是指電路在開啟瞬間吸收的最大電流，通常出現在輸入波形的幾個周期內。其值遠高于電路的穩態電流，這種高電流可能會對設備造成損壞，甚至觸發斷路器。浪涌電流常見于所有包含磁芯的設備中，例如變壓器、工業電壓設備等。浪涌的產生原因1.電力系統開關瞬態1）主要的電力系統切換騷擾，例如電容器組的切換，電容瞬間放電或者充電；2）配電系統中較小的局部開關動

  測試 浪涌 雷擊浪涌

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• 發布了文章 2025-04-07 15:55

  帶你一文了解掃描透射電子顯微鏡

  

  掃描透射電子顯微鏡（STEM）掃描透射電子顯微鏡（STEM）是一種融合了透射電子顯微鏡（TEM）和掃描電子顯微鏡（SEM）部分特點的先進顯微技術。該技術對操作環境和設備要求較高，需要維持極高真空度，其電子學系統也比TEM和SEM更為復雜，這使得STEM在硬件配置和操作維護方面都面臨一定挑戰，但同時也為其提供了獨特的性能優勢。掃描透射電鏡的原理掃描透射電子顯微

  stem 顯微鏡 電子顯微鏡

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