盛華推出晶圓測試WAT PCM用Probe Card探針卡
技術(shù)先進(jìn)的探針卡品牌商盛華公司,全新推出WAT @SC技術(shù)的WAT Probe Card探針卡.
基于盛華創(chuàng)新技術(shù), 采用微型劃痕控邊,MEMS等多項優(yōu)勢技術(shù) , 具備小劃痕,低漏電,高功率防護(hù)等多項性能優(yōu)勢 ,可廣泛應(yīng)用于Wafer FAB廠WAT測試.
關(guān)于盛華
盛華探針卡是從事晶圓測試探針卡的研發(fā)、設(shè)計、制造和銷售的技術(shù)企業(yè).自成立以來，盛華始終專注于高端、高速 、高同測晶圓探針卡的創(chuàng)新與研發(fā)，憑借技術(shù)優(yōu)勢得到了眾多客戶的認(rèn)可和青睞。公司產(chǎn)品已覆蓋了CIS、SOC、Memory、TDDI /DDIC等多品類中高階晶圓測試領(lǐng)域的全性能需求。盛華秉持以客戶需求為導(dǎo)向，持續(xù)推動創(chuàng)新,不斷提供客戶最佳性價比的產(chǎn)品和服務(wù).
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