是德科技近日推出了全新的4881HV高壓晶圓測(cè)試系統(tǒng),進(jìn)一步豐富了其半導(dǎo)體測(cè)試產(chǎn)品線。
該系統(tǒng)專(zhuān)為功率半導(dǎo)體制造商設(shè)計(jì),能夠在一次性測(cè)試中高效完成高達(dá)3kV的高低壓參數(shù)測(cè)試。這一特性顯著提升了制造商的生產(chǎn)效率,降低了測(cè)試成本。
4881HV高壓晶圓測(cè)試系統(tǒng)的推出,展示了是德科技在半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域的深厚實(shí)力。該系統(tǒng)不僅具備高精度和高可靠性,還具備出色的測(cè)試速度和靈活性,能夠滿(mǎn)足功率半導(dǎo)體制造商對(duì)測(cè)試系統(tǒng)的嚴(yán)苛要求。
是德科技表示,將繼續(xù)致力于半導(dǎo)體測(cè)試技術(shù)的研發(fā)和創(chuàng)新,為用戶(hù)提供更加高效、可靠的測(cè)試解決方案。
-
半導(dǎo)體
+關(guān)注
關(guān)注
335文章
28585瀏覽量
232443 -
測(cè)試系統(tǒng)
+關(guān)注
關(guān)注
6文章
854瀏覽量
62727 -
是德科技
+關(guān)注
關(guān)注
21文章
982瀏覽量
83209
發(fā)布評(píng)論請(qǐng)先 登錄

瑞樂(lè)半導(dǎo)體——高真空CF饋通TC Wafer晶圓測(cè)溫系統(tǒng) #晶圓檢測(cè) #晶圓測(cè)溫 #晶圓制造過(guò)程

瑞樂(lè)半導(dǎo)體——12寸TC Wafer晶圓測(cè)溫系統(tǒng)#晶圓測(cè)溫 #晶圓檢測(cè) #晶圓測(cè)試 #晶圓制造

瑞樂(lè)半導(dǎo)體——TC Wafer和RTD Wafer晶圓測(cè)溫系統(tǒng)多彩云圖#晶圓制造過(guò)程 #晶圓測(cè)溫 #晶圓檢測(cè)
提供半導(dǎo)體工藝可靠性測(cè)試-WLR晶圓可靠性測(cè)試

瑞樂(lè)半導(dǎo)體——On Wafer無(wú)線測(cè)溫系統(tǒng)在刻蝕設(shè)備測(cè)溫突破140度 #晶圓測(cè)溫 #晶圓測(cè)試 #晶圓檢測(cè)

瑞樂(lè)半導(dǎo)體wafersense—RTD Wafer有線晶圓測(cè)溫系統(tǒng)為半導(dǎo)體行業(yè)賦能#晶圓測(cè)溫 #晶圓測(cè)試

瑞樂(lè)半導(dǎo)體wafersense——TCWafer晶圓測(cè)溫系統(tǒng)維修服務(wù)降本增效 #晶圓檢測(cè) #晶圓測(cè)溫
晶圓測(cè)試的五大挑戰(zhàn)與解決方案
用ADS7830做一個(gè)按鍵檢測(cè),做3KV ESD測(cè)試時(shí),ESD信號(hào)打到外殼的地時(shí),ADS7830會(huì)鎖死,怎么解決?

WAT晶圓接受測(cè)試簡(jiǎn)介

評(píng)論