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重磅發布:SPD2200 Premium晶圓級SPAD測試系統,提升LiDAR研發效率400%

傳感器專家網 ? 2025-06-16 18:32 ? 次閱讀
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近年來,在自動駕駛與先進駕駛輔助系統(Advanced Driver-Assistance Systems, ADAS)中,LiDAR(激光雷達,Light Detection and Ranging)扮演著越來越重要的角色。

LiDAR利用激光來測距與成像,能精確感知道路環境中物體的位置與形狀,在各種光照條件下提供實時的三維環境信息。

相較于傳統雷達,LiDAR具有更短的波長與更高的測距精度;與攝像機相比,則不受環境光線干擾,且具備更遠的探測距離。因此,LiDAR技術迅速成為車輛感知系統的主流,各大車廠及科技公司紛紛投入研發。

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SPAD(單光子雪崩二極管)技術的崛起,更進一步強化了LiDAR的性能表現。SPAD能精確檢測單一光子,具備極高的靈敏度與納秒級的快速響應能力,非常適合高精度LiDAR測距和可靠的目標識別。

此外,SPAD技術也逐步拓展至無人機、送餐機器人工業機器人等新興領域,通過精確的距離測量和環境感測能力,推動智能生活與工業4.0的持續發展。

在這些應用中,SPAD(單光子雪崩二極管)成為關鍵元件。SPAD能檢測單一光子,具備極高靈敏度與納秒級快速響應能力,適合高精度LiDAR測距和目標識別。

此外,SPAD技術也逐步應用于無人機、送餐機器人和工業機器人等領域,提供精確的距離測量和環境感測,推動智能生活與工業4.0的發展。

在這些新興應用中,SPAD(單光子雪崩二極管)技術日益受到重視,成為系統的核心元件之一。SPAD是一種能檢測單一光子的固態光電二極管,其偏置操作在崩潰電壓以上的"蓋革模式",一旦有光子進入會觸發雪崩放大產生可觀測的電脈沖。

得益于極高的靈敏度和亞納秒級的快速響應,SPAD被視為光子計數、ToF測距和LiDAR等需要高靈敏度、快響應應用的理想選擇。

作為LiDAR傳感器的光接收元件,SPAD能將單個入射光子的信號放大,如同雪崩效應般倍增電荷,因而即使非常微弱的回波光子也能被探測到。

這種單光子級的檢測能力使LiDAR能在遠距離上獲得高精度的測距結果,也是實現高分辨率3D成像和可靠目標識別的關鍵,因此,LiDAR引領了自駕感測潮流,而SPAD元件則以其獨特優勢成為支撐兩者的核心技術。

SPAD性能參數對應用效能的影響

要充分發揮SPAD在硅光子與LiDAR系統中的效能,必須了解各項性能參數對應用的影響。我們可將SPAD的主要性能指標分為兩大類:光電特性參數與時間響應特性參數。

前者決定了器件對不同波長光的敏感度和基本噪聲水平,后者則影響時間分辨能力與信號穩定性。這些參數共同決定了SPAD在實際應用(如LiDAR測距、ADAS感測)中的表現,對系統的整體效能和穩定性至關重要。

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? 光電特性參數:

? 光譜響應(SpectralResponse, SR):指SPAD對不同波長入射光的響應程度,通常用響應度曲線表示。良好的光譜響應意味著器件在目標波長(例如車用LiDAR常用的905 nm或1550 nm)處具有高靈敏度。若SPAD在特定波段的響應不足,將直接影響系統在該波段的探測能力,可能導致目標反射光難以被探測。

? 外部量子效率(External Quantum Efficiency, EQE)與光子探測概率(Photon Detection Probability, PDP):

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這兩個指標皆衡量SPAD將入射光子轉化為雪崩事件的效率。EQE指有多少比例的入射光子產生電荷并參與雪崩,PDP則直接定義為光子觸發雪崩的概率(也稱光子檢出效率PDE)。

較高的EQE/PDP代表SPAD對光子的利用效率高,單位光通量下產生的有效信號更多。對于LiDAR這類光子數有限的應用來說,高PDP可提升探測距離和精度;反之,若PDP偏低,就需要提高發射激光功率或增加累積次數才能達到同等效果,這將提高系統功耗或降低實時性。

? 暗計數率(Dark Count Rate, DCR):DCR表示在沒有入射光時,每秒因熱激發或缺陷而產生自發雪崩的次數。它反映了SPAD元件的本底噪聲水平,是一項關鍵的噪聲指標。

較低的DCR意味著傳感器本身較為安靜,虛警率低,有利于提高信號的信噪比(SNR)。相反,高DCR會淹沒微弱的真實信號,降低LiDAR在遠距離或低反射率目標下的探測可靠性。

同時,過高的暗計數可能迫使系統提高檢測閾值或實施額外的濾波,進一步復雜化系統設計并可能降低靈敏度。

? 崩潰電壓(Breakdown Voltage, BDV):

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BDV是SPAD進入雪崩導通狀態所需的偏置閾值。SPAD通常在高于此閾值一點的"過壓偏置"下運行,以保證單光子觸發雪崩。

BDV的大小和均勻性會影響陣列中各像素的一致性:若每個SPAD元件的崩潰電壓不一致,則在統一偏置下不同像素的靈敏度和噪聲表現會有差異。

因此,在晶圓級范圍內精確測量每個SPAD的BDV,有助于篩選出參數匹配的器件或進行補償校正,以確保多像素陣列(如成像傳感器)中所有像素的性能一致。

另一方面,BDV也與器件材料和結構相關,例如硅基SPAD的崩潰電壓通常在數十伏量級,而采用Ge或InGaAs材料的SPAD(用于紅外波段)可能有不同的BDV特性。掌握BDV還有助于設計合適的淺槽隔離和凈空區域,以防止鄰近器件之間的電氣干擾。

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? 時間響應特性參數:

? 時間抖動(Timing Jitter):時間抖動指的是SPAD對同一固定延遲的光子重復測量時,輸出信號響應時間的統計分布。常用全寬半高(FWHM)或全寬1/10高(FWTM)來量化抖動分布的寬度。

抖動主要源自雪崩啟動過程中的隨機性以及光生電荷生成位置的差異。較小的時間抖動意味著SPAD對光子到達時間的測量更精確,有利于提升LiDAR的距離分辨率和精度;反之,抖動過大會導致測距的不確定性增加。

例如,若SPAD的時間抖動為100 ps,則對應的測距不確定性約為15毫米(光在100 ps內傳播約3厘米,往返距離的一半)。為了在ADAS環境中可靠區分行人或車輛等目標的距離差異,通常希望抖動遠小于此量級。

? 后脈沖概率(Afterpulsing Probability):后脈沖是指SPAD在一次光子觸發的雪崩之后,因內部缺陷陷阱載流子復合再釋放,而在短延遲后自發產生的額外雪崩脈沖。

Afterpulsing概率表示每次主要雪崩事件后出現額外偽脈沖的概率。后脈沖會帶來幾項負面影響:首先,它相當于產生虛假的探測事件,增加了噪聲計數;其次,為了避免后脈沖干擾有效信號,通常必須在一次雪崩后對SPAD施加"死區時間"(hold-off time),暫時將偏置降至崩潰以下使器件失效一段時間。

這段死區時間內SPAD對光子不敏感,相當于降低了最高可實現的計數率和效率。如果后脈沖概率較高,所需的死區時間就需延長,限制了LiDAR發射激光的重復頻率和系統掃描速度。

此外,高后脈沖會累積更多熱量和載流子陷阱,長期可能影響器件壽命。因此,通過材料純度提升與快速淬火電路來降低afterpulsing,是SPAD設計和應用中的重要課題。

? 擴散延遲尾(Diffusion Tail):當入射光子在SPAD內部較深處被吸收時,所產生的光生電荷可能需要經由載流子擴散移動至高場區域才能觸發雪崩。

這種擴散過程會導致部分雪崩事件的觸發時間相對延遲,形成時間響應分布中較長的"尾巴"。特別是在較長波長(如780 nm或905 nm)光子可穿透至深層時,擴散尾現象更加明顯。

擴散延遲尾使SPAD的時間響應曲線變寬,除了主要的即時響應峰之外還有緩慢衰減的尾部。這種延遲尾若不加以補償,會降低系統的測距精確度,因為有些光子回波的到達時間被延后。

對LiDAR系統而言,擴散尾可能表現為距離分布中的額外拖尾信號或不對稱點云模糊。因此,在SPAD設計上可通過結構優化使大部分目標光譜的光子在淺層被吸收,以縮短擴散路徑;同時在信號處理上也可通過算法校正減輕擴散尾對測距的影響。

? 信號對噪聲比(Signal-to-Noise Ratio, SNR):嚴格說來,SNR是系統性能的指標,并非SPAD器件自身的內在參數。然而,SPAD的有效信號(由PDE/EQE決定)和噪聲水平(由DCR和后脈沖等決定)直接影響最終系統的SNR。對于LiDAR接收機而言,SNR決定了它對遠距離或低反射率目標的探測能力,以及在不同環境光干擾下維持性能的穩定性。

如果SPAD的PDP高且DCR低,則在其他條件相同時接收到的有效光子信號占比高、噪聲占比低,SNR就高,LiDAR可以更可靠地檢測微弱的回波信號并分辨真實目標。

反之,若SPAD噪聲過大,接收到的回波信號容易被淹沒在噪聲中,需要多次平均或提高激光功率才能辨識目標,這會降低系統的實時性或增加能耗。

值得注意的是,SNR不僅關乎探測距離,對探測結果的穩定性也有影響——高SNR的系統對環境變化(如陽光、溫度)引起的性能波動會更小。

因此,在設計和測試SPAD時,需要綜合考量如何提升有用信號(提高PDP、優化光學結構)以及抑制噪聲(降低DCR和afterpulsing),以使最終的系統SNR達到應用需求。

綜上,SPAD的各項關鍵參數如光譜響應、量子效率、暗計數、崩潰電壓、時間抖動、后脈沖和擴散尾等,彼此間往往存在權衡關系,共同影響著系統的整體效能與穩定性。

例如,為降低DCR往往需要妥協PDP,為縮短抖動可能需控制入射光譜分布以減小擴散尾,等等。只有透徹了解并精確量化這些參數,工程師才能在設計上優化SPAD元件,使其在特定應用(如ADAS激光雷達系統)中達到性能平衡,確保整體系統在各種條件下都能穩定運作并提供準確可靠的數據。

為何精確檢測SPAD性能至關重要

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由于SPAD的各項性能參數對最終應用表現有如此深遠的影響,因此精確測試和表征SPAD元件性能成為研發與生產過程中的重要一環。

首先,對于LiDAR這種追求高精度的系統,任何元件級性能偏差都可能被放大至系統級的數據誤差。如果缺乏對SPAD參數的精確掌握,系統在實際運行時可能出現不可預期的行為。

例如:若對某批SPAD的暗計數率評估不足,可能導致成品LiDAR在夜間或高溫環境下出現過多的噪聲點,誤判為不存在的障礙物;又或者時間抖動超出預期,會造成測距值的隨機抖動增大,削弱ADAS對障礙物距離判斷的準確性,影響緊急制動等功能的可靠性。

精確檢測SPAD性能還直接關系到數據的準確性與可靠性。在ADAS應用中,傳感器提供的距離和圖像數據需要高度可信才能保障行車安全——這意味著傳感器的誤報率(false alarm)和漏檢率(miss detection)必須極低。

而這些指標都與SPAD的性能息息相關:嚴格控制的暗計數和后脈沖概率才能降低誤報,充足的光子檢出效率和適當的動態范圍才能避免漏檢。因此,在產品研發階段,工程師必須對SPAD元件進行全面且高精度的性能測試,包括測量其在不同環境條件(溫度、光背景)下的參數表現。

唯有如此,才能為LiDAR整機的感測算法和參數設定提供可靠依據,最終提升系統在各種場景下的數據可信度。

確保SPAD元件的優越性能也是提高產品競爭力的基礎。當前ADAS激光雷達市場競爭激烈,各廠商都在比拼傳感器的探測距離、更高分辨率以及更低成本。

SPAD作為核心感測元件,其性能優劣直接決定了終端產品的指標上限。通過精確測試,一家公司可以及早發現自身SPAD設計或制程上的不足,進而改進提升。

例如,通過對不同像素DCR和PDP的統計分析,可以優化制程以降低缺陷密度;通過抖動譜分析找出主要貢獻源,可以改進結構以改善時間響應。

一旦成功提升了SPAD的關鍵性能指標(如在相同光源功率下量程增加10%、距離分辨率提升一倍等),對應的LiDAR產品競爭力將大幅提高,這在商業上意味著更大的市場吸引力和定價空間。

此外,在產品認證和客戶驗證方面,精確的性能數據同樣不可或缺。車規級產品通常需要通過嚴苛的標準測試(如AEC-Q系列)才能獲得車廠采用。

若沒有可靠的SPAD元件測試數據,整個LiDAR模塊的測試風險將提高,可能在認證階段暴露問題而延誤上市時間。反之,若能在研發初期就掌握SPAD的全面性能圖譜,則可在系統設計時預留裕度并實施針對性補償,以確保最終產品穩健達標。

一個經過完善測試驗證的SPAD,不僅是產品質量的保證,也是對客戶信心的支撐——產業專家和學者在評估一項新技術時,往往會關注其關鍵元件的測試數據是否充分且可信,這些數據是橋接實驗室研發和實際應用的關鍵。

總而言之,在硅光子LiDAR與ADAS自動駕駛領域,精確檢測SPAD性能至關重要。它不僅影響系統的性能調校和數據可靠性,更關乎產品開發迭代的效率與市場競爭力。

從研發角度看,只有掌握了元件級的真實表現,才能進一步優化設計、縮短開發周期;從商業角度看,優異且經過充分驗證的SPAD性能將成為產品宣傳中的亮點,為企業贏得產業專家與客戶的信賴。

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SPD2200 Premium的技術優勢

隨著業界對SPAD元件測試需求的提升,市場上出現了專業的測試解決方案。其中一款高階設備——SPD2200 Premium晶圓級SPAD參數測試系統——以其優異的性能和靈活性受到了研發與生產單位的關注。

SPAD/雪崩光電二極管測試打造的系統,SPD2200 Premium在精確度、效率以及適應新技術需求方面具有明顯優勢,為企業加速研發和量產提供了有力支撐:

? 晶圓級測試速度提升400%:SPD2200 Premium可在晶圓層級直接對大量SPAD元件進行并行測試,相較傳統測試的方式,大幅提高了測試效率。經實際驗證,其晶圓級測試速度比上一代方案提升達四倍之多。這意味著研發人員能更快獲取統計數據,加速迭代設計;同時在生產階段,每片晶圓的全區測試時間大幅縮短,有助于提高產線效率并縮減產品上市時間。

? 支持新材料SPAD(如Ge基底)檢測:為了因應新一代激光雷達和光通信對更長波長探測的需求,業界開始研發硅鍺(SiGe)或鍺基SPAD,以及InGaAs等材料的單光子雪崩二極管。SPD2200 Premium從硬件到算法均針對這些新材料進行了優化,可完整測試Ge材料SPAD的光譜響應、暗計數、崩潰電壓等參數。

這種對多材料的支持能力,使SPD2200成為面向未來技術的投資:無論是可見光到近紅外波段的硅SPAD,還是擴展至短波紅外(SWIR)波段的鍺/磷化銦鎵SPAD,都能在同一平臺上獲得可靠測試,滿足新一代產品研發的需求。

? 模塊化設計,適應不同研發階段:SPD2200 Premium采用模塊化的架構設計,用戶可根據需求選購或升級不同功能模塊。例如,在早期研發階段可使用基本的單像素參數測試模塊,以較低成本驗證概念;隨著項目進展,可加裝多像素矩陣掃描模塊、溫控環境艙等,以模擬實際應用條件并進行壽命壓力測試。

模塊化設計確保了系統的靈活性和可擴展性,用戶無需一次性投入過多成本,即可隨項目成長逐步完善測試能力。此外,它也方便設備維護和升級,減少未來技術演進帶來的設備淘汰風險。

? 國際認證的精準性與再現性:作為商用級與專業級測試系統,SPD2200 Premium在測量精度和數據再現性上達到了國際認證標準。

其測試結果可溯源至國際計量基準,確保跨實驗室的一致性。無論是在美國、歐洲或亞洲的研發團隊,只要使用SPD2200測得的參數,都具有可比性和公信力。

對于需要與客戶或第三方研究機構共享數據的企業,這樣的精準性尤為重要:高可信度的測試數據可減少反復校驗的時間,提高合作研發的效率。

同時,再現性優異意味著即便不同操作人員或不同批次測試,結果差異極小,方便企業制定嚴格的SPAD質量規范并穩定遵循。

? 專業級軟硬件整合,提升可靠性:SPD2200 Premium將高速電子學、光源控制、數據采集和分析軟件緊密結合,提供一體化的解決方案。

其內置的軟件平臺不僅可自動執行標準測試流程,還提供了豐富的數據分析工具,如暗計數統計、時間抖動分布曲線繪制、光譜響應擬合等。用戶界面友好且支持SDK等,滿足研發人員特殊測試的需求。

軟硬件的深度整合帶來兩大好處:其一是減少了用戶自行拼湊設備可能產生的兼容性問題,大幅降低了調試難度;其二是整體可靠性提升,長時間運行亦能保持穩定,使研發團隊專注于數據本身而非儀器維護。

綜合來看,專業級的軟硬件整合不僅節省了研發成本(時間與人力成本),也提高了測試結果的可信度。

? 無縫產線整合,降低封裝成本:對于計劃量產SPAD的廠商而言,SPD2200 Premium提供了從研發到生產的平滑過渡能力。其晶圓級測試功能可直接部署于晶圓生產線上,在晶圓尚未切割封裝前即完成篩選測試。這種做法可以及早淘汰掉性能不達標的晶粒,避免將不良晶粒封裝成品后再測試出問題,從而降低封裝和后段測試成本。

SPD2200可與半導體產線的自動搬運系統和數據庫對接,實現測試數據與制程數據的聯動分析,進一步提升良率。

例如,通過分析晶圓上不同區域SPAD參數的分布,可反饋晶圓制造過程中的工藝均勻性調整。最終,SPD2200測試系統可無縫融入生產流程,作為制造執行系統(MES)的一部分,為大規模生產提供穩健的質量監控,確保每批出貨產品都滿足規格要求,從而提高整體生產良率并降低單位成本。

綜合以上特點,SPD2200 Premium展現了在SPAD元件測試領域的卓越實力。它不僅滿足當前研發人員對精密測試的要求,也前瞻性地覆蓋了未來技術走向所需的功能。

更難能可貴的是,該系統在提供高性能的同時注重實際應用中的經濟效益——通過效率提升和流程整合,切實為企業節省成本并增強產品競爭力。

在強調專業性與實用性的平衡下,SPD2200 Premium已成為產學界關注的焦點方案之一。

結論

展望未來,SPAD技術在LiDAR與ADAS領域將持續扮演關鍵角色并迎來新的發展契機。一方面,隨著CMOS工藝的不斷進步和3D堆疊技術的引入,SPAD像素密度將進一步提高,陣列規模不斷擴大(從現在的幾萬像素級邁向數百萬像素級)。

這將使得高分辨率的單光子3D成像成為可能,甚至有望實現在單一芯片上集成發射端與接收端的全硅光子LiDAR系統。

另一方面,新材料與新結構的探索也將拓寬SPAD的光譜范圍與性能上限。例如,鍺和磷化銦鎵材料的應用可讓SPAD在1550 nm等更高眼睛安全波長下工作,同時量子轉換效率進一步提升;表面等離激元增強、陷阱能階工程等前沿技術則有望降低暗計數和后脈沖,使單光子探測更加可靠。

未來的SPAD可能不僅服務于汽車領域,也將在量子通信、醫學影像、宇宙探測等領域大放異彩,成為推動各行各業進步的核心光子器件之一。

在這股技術演進浪潮中,像SPD2200 Premium這樣的高端測試解決方案將發揮不可或缺的作用。隨著SPAD研發進入更精密和多元的階段,研發者迫切需要強而有力的工具來驗證創新想法、縮短試錯周期。

SPD2200 Premium通過其快速而準確的測試能力,加速了從原型設計到產品化的轉換:研發人員可以更快速地獲得關鍵參數反饋,調整設計方向;企業可以在較短時間內完成產品性能驗證和可靠性測試,搶占市場先機。

同時,在量產交付方面,SPD2200嚴格的質量控管能力確保了每一顆出廠的SPAD元件都達到標準,為終端產品的穩定性保駕護航。這種從研發到生產的一體化測試方案,正是現代科技產業所追求的高效率模式:既保障了創新的深度和質量,又兼顧了市場速度與規模效益。

總結而言,單光子雪崩二極管(SPAD)以其檢測單光子的獨特能力,正引領硅光子學與自動駕駛感知技術的不斷突破。而要讓這項技術真正落地并保持競爭優勢,對SPAD性能的精確檢測與掌控必不可少。SPD2200 Premium等專業測試系統的出現,恰逢其時地為產學研各界提供了強有力的支持。未來,隨著SPAD技術的持續進步和應用拓展,精密測試和平衡優化將一如既往地扮演重要角色。我們有理由相信,在完善的測試保障下,SPAD將加速走向成熟,推動硅光子激光雷達與ADAS自動駕駛技術邁向新的高度,為智能交通和光電科技的未來發展帶來更多可能性。

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    在本系列第七篇文章中,介紹了封裝的基本流程。本篇文章將側重介紹不同封裝方法所涉及的各
    的頭像 發表于 08-21 15:10 ?2853次閱讀
    詳解不同<b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圓</b><b class='flag-5'>級</b>封裝的工藝流程