女人自慰AV免费观看内涵网,日韩国产剧情在线观看网址,神马电影网特片网,最新一级电影欧美,在线观看亚洲欧美日韩,黄色视频在线播放免费观看,ABO涨奶期羡澄,第一导航fulione,美女主播操b

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認識你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

透明背板組件延長PID應(yīng)力測試的性能評估

美能光伏 ? 2024-04-02 08:32 ? 次閱讀

光伏組件在可再生能源的產(chǎn)生中發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。然而,隨著時間的推移,組件可能會因各種因素而出現(xiàn)性能下降,其中之一就是電勢誘導(dǎo)衰減(PID)。為了保障光伏系統(tǒng)的壽命效率,來自美能光伏的潛在電勢誘導(dǎo)衰減(PID)測試儀應(yīng)運而生,本文將深入探討組件的透明背板潛在電勢誘導(dǎo)衰減(PID)性能評估,并介紹PID測試儀及其重要性。

透明背板的PID性能評估目前,透明背板是構(gòu)建雙面組件時玻璃的可行替代品,其主要優(yōu)點是成本低于玻璃、重量顯著降低透明度更好且可以更好地保護組件免受冰雹影響。此外,因為不含鈉,透明背板還可以減少PID的發(fā)生,降低電池背面發(fā)生PID的風(fēng)險。試驗將由透明背板構(gòu)建的組件,暴露于延長電勢誘導(dǎo)衰減PID應(yīng)力中,由此來研究組件的穩(wěn)定性。

試驗使用的組件是P-PERC玻璃背板組件,其主要屬性列于下表中。

6f981a24-f088-11ee-9118-92fbcf53809c.png

測試流程
在75°C環(huán)境下,通過電流注入在486小時內(nèi)對五個組件進行預(yù)處理(一組參考組件、一組0V極化組件Mod1、一組+1500V極化組件Mod2、兩組-1500V極化組件Mod3&4),每162小時進行一次電流-電壓測量控制,在測試階段避免光誘導(dǎo)降解(LID)以及光和高溫誘導(dǎo)降解(LeTID)。

根據(jù) IEC 61215 標準 (MQT 21) 在 85℃、85% RH 下進行時間長達 576 小時的PID測試,而不是標準中要求的96小時(每96小時或192小時監(jiān)測一次電壓)。用切割輪切割-1500V極化組件上的兩塊完整的樣品,再使用金剛石繩鋸將一塊樣品切成1cm × 1cm的小塊。

最后,切下封裝的樣品,使用BT成像進行光致發(fā)光(PL)測量,最后進行透射電子顯微鏡(TEM)測量。

測試結(jié)果電流-電壓(I-V)圖1和圖2分別繪制了組件正面和背面通過PID測試下的性能演變。

6fc74970-f088-11ee-9118-92fbcf53809c.png

圖1.延長 PID 測試中組件正面的性能演變

6fe00f6e-f088-11ee-9118-92fbcf53809c.png

6fface3a-f088-11ee-9118-92fbcf53809c.png

圖2.延長 PID 測試中組件背面的性能演變

如圖1所示,正面的組件性能不受施加的正電壓或中性電壓的影響,測試結(jié)束后,組件的所有電學(xué)參數(shù)與未測試的參考組件的電學(xué)參數(shù)相似。相反,施加負電壓,PID 576小時后,正面功率下降了近 8%,背面性能下降嚴重了三倍(25%),并且電流變化很大,如圖2所示。

電致發(fā)光和光致發(fā)光表征
為了更好地了解性能下降的原因,在組件Mod3上進行了ELPL檢測。組件Mod3的EL成像和切割后樣品的PL成像如下圖所示。

70168bac-f088-11ee-9118-92fbcf53809c.png

a)預(yù)處理后Mod3的EL成像;b) PID測試576小時后EL成像;c)頂部:放大后的EL和PL成像;底部:暗區(qū)的EL和PL成像

由于PL測量使用了組件中切下來的電池,因此圖片上可以看到玻璃裂紋。EL成像顯示信號普遍下降,并且出現(xiàn)了一些暗區(qū),在大多數(shù)具有局部較高EL強度的電池上也可以看到一些“光跡”。這些暗區(qū)和光跡也通過PL成像得到證實,并指出了潛在的局部鈍化變化。

具有透明背板的雙面組件經(jīng)過延長PID應(yīng)力測試,電流-電壓、EL和PL測量表明組件中存在兩種類型的PID效應(yīng):PID電勢類型(PID-p)和腐蝕類型 (PID-c)。PID-s的分流類型通常與鈉離子從玻璃遷移到電池有關(guān),并且電流電壓變化沒有顯示出任何顯著的Voc填充因子下降。即使使用TEM測量沒有觀察到直接證據(jù),觀察到的局部去鈍化也可能與PID-c相關(guān)。

潛在電勢誘導(dǎo)衰減(PID)測試儀

70385020-f088-11ee-9118-92fbcf53809c.png

長期的電流泄漏會造成電池片載流子及耗盡層狀態(tài)發(fā)生變化、電路中的接觸電阻受到腐蝕、封裝材料受到電化學(xué)腐蝕等問題,從而導(dǎo)致電池片功率衰減、串聯(lián)電阻增大、透光率降低、脫層等影響組件長期發(fā)電量及壽命的現(xiàn)象。滿足IEC61215標準中MQT21條款及IEC62804標準

特點:

?組件邊框端接地,既模擬實際情況,又防止由于邊框高壓引起的潛在危險

?采用2線制測試方法,正負極短接后接入正極,負極接在邊框等電位孔位;

?各通道相互獨立,多路電壓大小、極性、時間單獨設(shè)置

?多路電壓、泄露電流、絕緣電阻同時顯示;

?實時監(jiān)控電壓、泄露電流、絕緣電阻曲線;

在快速發(fā)展的太陽能行業(yè)中,光伏系統(tǒng)的可靠性效率至關(guān)重要。來自美能光伏PID測試儀遵循IEC標準,幫助光伏組件制造商在其項目中保持高標準的質(zhì)量和性能,在確保組件充分發(fā)揮其潛力并長期提供預(yù)期性能方面發(fā)揮著至關(guān)重要的作用,為全球可再生能源的增長做出貢獻。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
  • 測試
    +關(guān)注

    關(guān)注

    8

    文章

    5632

    瀏覽量

    128334
  • 測試儀
    +關(guān)注

    關(guān)注

    6

    文章

    3960

    瀏覽量

    56796
  • PID
    PID
    +關(guān)注

    關(guān)注

    37

    文章

    1480

    瀏覽量

    87384
收藏 人收藏

    評論

    相關(guān)推薦
    熱點推薦

    VirtualLab:F-Theta掃描透鏡的性能評估

    Detector 總結(jié)-組件 系統(tǒng)觀感 通過系統(tǒng):三維可視化,不同F(xiàn)oV模式可以通過顏色編碼來區(qū)分。此外,可以檢查場的軌跡,以便將探測器放置在正確的位置。 性能評估-點位偏差 性能
    發(fā)表于 05-29 08:48

    光伏組件復(fù)合環(huán)境試驗介紹

    長期以來,在光伏組件的研發(fā)與測試階段,評估各部件的耐候性能始終是至關(guān)重要的環(huán)節(jié)。相較于傳統(tǒng)常規(guī)測試,研發(fā)
    的頭像 發(fā)表于 05-09 10:01 ?162次閱讀
    光伏<b class='flag-5'>組件</b>復(fù)合環(huán)境試驗介紹

    PCB互連應(yīng)力測試與溫度沖擊測試的區(qū)別

    在當今復(fù)雜且精密的PCB實際應(yīng)用場景中,確保其可靠性至關(guān)重要。互連應(yīng)力測試(IST)與溫度沖擊測試(TC)作為可靠性評估的常用手段,二者在測試
    的頭像 發(fā)表于 04-18 10:29 ?220次閱讀
    PCB互連<b class='flag-5'>應(yīng)力</b><b class='flag-5'>測試</b>與溫度沖擊<b class='flag-5'>測試</b>的區(qū)別

    LM-80測試評估LED燈具的壽命與性能

    LM80測試簡介LM80測試是由北美照明工程協(xié)會(IESNA)與美國國家標準學(xué)會(ANSI)聯(lián)合發(fā)布的權(quán)威標準,主要用于評估LED器件的流明維持率和顏色維持性能。這一標準為LED產(chǎn)品的
    的頭像 發(fā)表于 03-27 10:26 ?461次閱讀
    LM-80<b class='flag-5'>測試</b>:<b class='flag-5'>評估</b>LED燈具的壽命與<b class='flag-5'>性能</b>

    CMOS可靠性測試中的電荷泵和交流應(yīng)力技術(shù)解析

    個直流信號,使用它是因為它更容易映射到器件模型中。然而,結(jié)合脈沖應(yīng)力測試提供了額外的數(shù)據(jù),允許更好地理解依賴頻率電路的器件性能
    的頭像 發(fā)表于 03-20 10:08 ?339次閱讀
    CMOS可靠性<b class='flag-5'>測試</b>中的電荷泵和交流<b class='flag-5'>應(yīng)力</b>技術(shù)解析

    基于紅外熱成像技術(shù)的光伏組件電勢誘導(dǎo)衰減-分流(PID-s)故障定量研究

    潛在誘導(dǎo)衰減-分流(PID-s)是光伏(光伏)電池中的主要衰減機制,顯著影響組件性能。為了減緩進一步的衰減,定期監(jiān)測PID-s至關(guān)重要。本研究提出使用紅外(IR)熱成像作為
    的頭像 發(fā)表于 02-28 09:04 ?482次閱讀
    基于紅外熱成像技術(shù)的光伏<b class='flag-5'>組件</b>電勢誘導(dǎo)衰減-分流(<b class='flag-5'>PID</b>-s)故障定量研究

    改性EVA膠膜在光伏封裝中的抗PID性能對比研究

    光伏組件的抗PID性能影響組件的發(fā)電效率和使用壽命,被光伏行業(yè)廣泛關(guān)注。EVA膠膜是光伏組件的主要封裝材料之一,其具有優(yōu)異的性價比,但隨著光
    的頭像 發(fā)表于 01-22 09:02 ?747次閱讀
    改性EVA膠膜在光伏封裝中的抗<b class='flag-5'>PID</b><b class='flag-5'>性能</b>對比研究

    MPU的性能評估方法

    MPU(Microprocessor Unit,微處理器單元)的性能評估是確保其在實際應(yīng)用中能夠滿足需求的重要環(huán)節(jié)。以下是一些常用的MPU性能評估方法: 一、基準
    的頭像 發(fā)表于 01-08 09:39 ?636次閱讀

    光伏逆變器負載何進行負載測試性能評估

    光伏逆變器是光伏發(fā)電系統(tǒng)的關(guān)鍵設(shè)備,它將太陽能電池板產(chǎn)生的直流電轉(zhuǎn)換為交流電,供給電網(wǎng)或用戶使用。為了保證光伏逆變器的正常運行和提高其性能,需要進行負載測試性能評估。以下是進行負載
    發(fā)表于 12-12 09:44

    不同制造商TOPCon光伏組件的老化測試性能、穩(wěn)定性與可靠性

    隨著TOPCon技術(shù)市場份額的快速增長,對其可靠性評估需求迫切。盡管早期報告認為TOPCon比PERC更可靠,但該技術(shù)在光伏組件可靠性方面經(jīng)驗不足,仍存在如PID-p、腐蝕、UV誘導(dǎo)降解等問題。「美
    的頭像 發(fā)表于 12-05 01:06 ?1398次閱讀
    不同制造商TOPCon光伏<b class='flag-5'>組件</b>的老化<b class='flag-5'>測試</b>:<b class='flag-5'>性能</b>、穩(wěn)定性與可靠性

    多通道負載測試性能評估

    多通道負載測試性能評估是軟件質(zhì)量保證的重要組成部分,它們可以幫助我們發(fā)現(xiàn)和解決系統(tǒng)的性能瓶頸,提高系統(tǒng)的可用性和穩(wěn)定性。 多通道負載測試
    發(fā)表于 11-11 16:44

    IEC61215 標準下的濕漏電測試評估組件絕緣性能

    潛在的絕緣問題,防止因濕氣侵入導(dǎo)致的腐蝕和漏電,避免安全事故的發(fā)生。美能濕漏電測試系統(tǒng),通過先進的測試方法和嚴格標準,有效評估組件在潮濕環(huán)境下的絕緣
    的頭像 發(fā)表于 09-15 08:11 ?1503次閱讀
    IEC61215 標準下的濕漏電<b class='flag-5'>測試</b><b class='flag-5'>評估</b><b class='flag-5'>組件</b>絕緣<b class='flag-5'>性能</b>

    鈣鈦礦太陽能電池中的潛在誘導(dǎo)降解(PID)分析

    元素的擴散導(dǎo)致電池結(jié)構(gòu)發(fā)生破壞從而引發(fā)潛在誘導(dǎo)降解。「美能光伏」?jié)撛陔妱菡T導(dǎo)衰減測試儀(PID)通過測試鈣鈦礦電池組件長期在惡劣環(huán)境下發(fā)生PID
    的頭像 發(fā)表于 08-30 13:08 ?1154次閱讀
    鈣鈦礦太陽能電池中的潛在誘導(dǎo)降解(<b class='flag-5'>PID</b>)分析

    高速設(shè)計中應(yīng)該使用PCB還是電纜背板

    選擇背板設(shè)計需要對特定的網(wǎng)絡(luò)拓撲結(jié)構(gòu)和應(yīng)用進行權(quán)衡。在某些情況下,對PCB與電纜背板評估不是 "非此即彼",而是一種組合方式。
    的頭像 發(fā)表于 08-02 14:22 ?840次閱讀
    高速設(shè)計中應(yīng)該使用PCB還是電纜<b class='flag-5'>背板</b>?

    天合光能至尊N型720W系列組件位列室內(nèi)性能測試榜首

    近日,全球光伏行業(yè)權(quán)威媒體pv magazine公布了最新的“pv magazine test”結(jié)果:在室內(nèi)性能測試中,天合光能至尊N型720W系列組件各項性能表現(xiàn)全優(yōu),位列綜合指數(shù)第
    的頭像 發(fā)表于 07-09 09:29 ?749次閱讀