光伏組件的抗PID性能影響組件的發(fā)電效率和使用壽命，被光伏行業(yè)廣泛關注。EVA膠膜是光伏組件的主要封裝材料之一，其具有優(yōu)異的性價比，但隨著光伏行業(yè)技術革新，對封裝材料抗PID要求越來越高。實驗兩種不同配方改性的EVA膠膜與普通EVA膠膜進行抗PID性能比對。

樣品制備

在普通EVA膠膜A的基礎上，分別添加高阻助劑和離子捕捉劑制備B膠膜和C膠膜。測試方法

按照國家標準測試EVA膠膜的交聯(lián)度、透光率、剝離強度、體積電阻率、紫外和濕熱黃變指數(shù)。抗PID性能測試按照IEC標準進行，測試條件為85℃、85%相對濕度、-1000V電壓下進行96小時測試，再繼續(xù)測試300小時。測試結果與分析

不同EVA 膠膜的交聯(lián)

不同 EVA 膠膜的交聯(lián)度三種EVA膠膜的交聯(lián)度均大于80%。B膠膜的交聯(lián)度最高，因為高阻助劑增加了交聯(lián)密度。

C膠膜的交聯(lián)度與A膠膜接近，因為離子捕捉劑對交聯(lián)度影響較小。不同EVA 膠膜的透光率

不同 EVA 膠膜的透光率

三種EVA膠膜的透光率均大于91%。A和B透光率接近92%，二者透光率相近；C膠膜的透光率最低。

透光率主要由樹脂基本性能決定，添加助劑的純度和種類也有影響。高阻助劑是無色有機活性液體助劑，對EVA膠膜透光率無影響，所以 A、B膠膜透光率接近；離子捕捉劑是無機金屬陽離子混合物，含有的無機物會降低膠膜透光率。不同EVA 膠膜的體積電阻率

不同 EVA 膠膜的體積電阻率

B膠膜的體積電阻率最高，是A膠膜的4倍多，因為高阻助劑抑制了EVA水解，提高了交聯(lián)度和絕緣性能。

C膠膜的體積電阻率是A膠膜的2倍多，離子捕捉劑通過離子交換減少了金屬離子遷移，提高了絕緣性能。不同EVA 膠膜老化性能差異

不同 EVA 膠膜的耐老化性能

三種EVA膠膜的黃變指數(shù)均小于3，但改性后的B和C膠膜的老化性能優(yōu)于A膠膜。

C膠膜的耐老化性能最佳，加入離子捕捉劑，能在不損害光學和電氣絕緣性能的情況下，提高 EVA 膠膜封裝的導熱性和對基材的附著力，防止氣體和水汽進入，提供防腐蝕保護，從而具備良好的耐老化性能。不同EVA膠膜抗PID性能

不同 EVA 膠膜的抗 PID 性能96小時抗PID測試中，A膠膜的PID衰減接近10%，而B和C膠膜的PID衰減均小于2%，且B膠膜略優(yōu)于C膠膜。

300小時抗PID測試中，B和C膠膜的PID衰減均未超過3%，且C膠膜的衰減變化最小。

B膠膜通過高交聯(lián)度和高體積電阻率抑制PID效應；C膠膜通過離子捕捉劑減少金屬離子遷移，表現(xiàn)出更穩(wěn)定的抗PID性能。

研究結果表明，改性后的EVA膠膜在抗PID性能、交聯(lián)度、體積電阻率、耐老化性能等方面均得到了顯著提升。其中，添加高阻助劑的B膠膜表現(xiàn)出較高的交聯(lián)度和體積電阻率，有效抑制了PID效應的發(fā)生；而添加離子捕捉劑的C膠膜則在長期耐老化性能和抗PID穩(wěn)定性方面表現(xiàn)更為優(yōu)異。美能潛在電勢誘導衰減測試儀

組件應用過程中出現(xiàn)長期泄漏電流會造成電池片載流子及耗盡層狀態(tài)發(fā)生變化、電路中的接觸電阻受到腐蝕、封裝材料受到電化學腐蝕等問題，美能潛在電勢誘導衰減測試儀用于在發(fā)生PID衰減后評估組件的電性能是否能符合要求。

• 試驗滿足標準：IEC61215-MQT21，IEC62804

• 各通道相互獨立，多路電壓大小、極性、時間單獨設置

實時監(jiān)控電壓、泄露電流、絕緣電阻曲線

隨著光伏技術的不斷發(fā)展，對封裝材料的抗PID性能測試也提出了更高要求。美能潛在電勢誘導衰減測試儀ME-PV-PID通過模擬組件在高溫、高濕、高鹽堿等惡劣環(huán)境下的PID衰減過程，能夠快速評估光伏組件的電性能是否符合要求。結合此類先進測試設備，將進一步推動光伏封裝材料的研發(fā)與性能優(yōu)化，助力光伏產業(yè)的高質量發(fā)展。

原文出處：EVA 膠膜改性對抗 PID 性能的影響《遼寧化工第53卷第6期》

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