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國(guó)產(chǎn)第二代碳化硅MOSFET在直流充電樁電源模塊中的應(yīng)用

國(guó)芯思辰(深圳)科技有限公司 ? 2023-08-02 10:29 ? 次閱讀

目前,傳統(tǒng)的直流充電樁拓?fù)潆娐罚话闶侨嘟涣?80V輸入電壓經(jīng)過PFC維也納AC/DC電路后,得到直流母線電壓,然后經(jīng)過兩路全橋LLC DC/DC電路,輸出200V到1000V高壓新能源汽車充電使用。其中PFC維也納電路AC/DC的開關(guān)頻率40kHz左右,一般使用650V的超結(jié)MOSFET或者650V的IGBT,劣勢(shì)是器件多,硬件設(shè)計(jì)復(fù)雜,效率低,失效率高。

新一代直流充電樁拓?fù)潆娐窌?huì)把原來的PFC維也納整流升級(jí)為采用第二代SiC碳化硅MOSFET B2M040120Z的三相全橋PFC整流。這樣將大大減少功率器件數(shù)量,簡(jiǎn)化控制電路的復(fù)雜性,同時(shí)通過提高開關(guān)頻率來降低電感的感量,尺寸和成本。DC/DC全橋LLC部分,升級(jí)為采用第二代SiC碳化硅MOSFET B2M040120Z的DC/DC電路,可以從原來的三電平優(yōu)化為兩電平LLC。這樣可以極大簡(jiǎn)化拓?fù)潆娐罚瑴p少元器件的數(shù)量,控制和驅(qū)動(dòng)更加簡(jiǎn)單。

基于第二代SiC碳化硅MOSFET B2M040120Z的高頻特性,可以提高LLC電路的開關(guān)頻率,從而減少磁性器件的尺寸和成本。由于LLC電路是軟開關(guān)工作模式,損耗集中在開關(guān)管的導(dǎo)通損耗上,由于拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)的原因,流過LLC中SiC碳化硅MOSFET的電流有效值是Si MOSFET電流的一半,所以最終導(dǎo)通損耗大大減小。新一代采用SiC碳化硅MOSFET B2M040120Z的直流充電樁拓?fù)潆娐房梢蕴嵘?.3~0.5%左右的效率。

碳化硅MOSFET具有優(yōu)秀的高頻、高壓、高溫性能,是目前電力電子領(lǐng)域最受關(guān)注的寬禁帶功率半導(dǎo)體器件。在電力電子系統(tǒng)中應(yīng)用碳化硅MOSFET器件替代傳統(tǒng)硅IGBT器件,可提高功率回路開關(guān)頻率,提升系統(tǒng)效率及功率密度,降低系統(tǒng)綜合成本。

第二代碳化硅.jpg

基本半導(dǎo)體第二代碳化硅MOSFET系列新品基于6英寸晶圓平臺(tái)進(jìn)行開發(fā),比上一代產(chǎn)品在比導(dǎo)通電阻、開關(guān)損耗以及可靠性等方面表現(xiàn)更為出色。在原有TO-247-3、TO-247-4封裝的產(chǎn)品基礎(chǔ)上,基本半導(dǎo)體還推出了帶有輔助源極的TO-247-4-PLUS、TO-263-7及SOT-227封裝的碳化硅MOSFET器件,以更好地滿足客戶需求。

基本半導(dǎo)體第二代碳化硅MOSFET亮點(diǎn):

更低比導(dǎo)通電阻:第二代碳化硅MOSFET通過綜合優(yōu)化芯片設(shè)計(jì)方案,比導(dǎo)通電阻降低約40%,產(chǎn)品性能顯著提升。

更低器件開關(guān)損耗:第二代碳化硅MOSFET器件Qg降低了約60%,開關(guān)損耗降低了約30%。反向傳輸電容Crss降低,提高器件的抗干擾能力,降低器件在串?dāng)_行為下誤導(dǎo)通的風(fēng)險(xiǎn)。

更高可靠性:第二代碳化硅MOSFET通過更高標(biāo)準(zhǔn)的HTGB、HTRB和H3TRB可靠性考核,產(chǎn)品可靠性表現(xiàn)出色。

更高工作結(jié)溫:第二代碳化硅MOSFET工作結(jié)溫達(dá)到175°C,提高器件高溫工作能力。

國(guó)產(chǎn)基本半導(dǎo)體B2M040120Z替代型號(hào):

英飛凌IMZA120R040M1H

安森美NTH4L040N120M3S、C3M0040120K

意法半導(dǎo)體SCT040W120G3-4AG

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