白光干涉儀測(cè)量的結(jié)果通常以二維形貌圖或三維形貌圖的形式展示。二維形貌圖是對(duì)干涉條紋進(jìn)行圖像處理得到的，顯示出被測(cè)物體表面的高低起伏。而三維形貌圖則是在二維圖像的基礎(chǔ)上，進(jìn)一步還原出物體表面的立體形貌。通過這些三維形貌圖可以直觀地展示出被測(cè)物體的形狀、幾何特征等信息。

工作方式

干涉儀主體通過分光裝置將白光分成不同的顏色，然后將分光后的光束分別照射到被測(cè)物體表面。被測(cè)物體會(huì)反射和透射出不同的光束，形成干涉光。然后相機(jī)會(huì)記錄下干涉光的圖像，同時(shí)將其轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)。最后計(jì)算機(jī)會(huì)對(duì)圖像進(jìn)行處理，將干涉光的特征轉(zhuǎn)化為被測(cè)物體的形貌數(shù)據(jù)，并提供精確的測(cè)量結(jié)果。

在用白光干涉儀測(cè)三維形貌時(shí)，要注意一些問題：

1、被測(cè)物體表面應(yīng)當(dāng)具有一定的光滑度，以確保干涉光的質(zhì)量和穩(wěn)定性。

2、被測(cè)物體的大小和形狀也會(huì)對(duì)測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生影響，需要根據(jù)具體情況選擇適當(dāng)?shù)臏y(cè)量參數(shù)和方法。

3、在進(jìn)行測(cè)量時(shí)，應(yīng)注意避免或校正任何可能導(dǎo)致誤差的因素，以確保測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。

4、通過合理調(diào)整儀器參數(shù)，進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)量，并進(jìn)行適當(dāng)?shù)臄?shù)據(jù)處理，可以獲取到物體表面的詳細(xì)形貌信息。

隨著科技的進(jìn)步和應(yīng)用需求的不斷增加，材料表面粗糙度、薄膜厚度、形狀檢測(cè)等測(cè)量要求越來越高，白光干涉儀以其測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣等優(yōu)點(diǎn)在各個(gè)領(lǐng)域中的應(yīng)用越來越廣泛。

例如在制造業(yè)中，白光干涉儀可以用于測(cè)量機(jī)械零件的形貌，以確保產(chǎn)品的質(zhì)量和精度；在電子行業(yè)中，它可以用于檢測(cè)芯片表面的缺陷和變形；在醫(yī)療領(lǐng)域，白光干涉儀可以用于眼科手術(shù)中的角膜形狀測(cè)量等。為許多行業(yè)的形貌測(cè)量提供了重要的支持。