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如何使用Phasics SID4相位成像相機進行表面測量?

上海昊量光電設(shè)備有限公司 ? 2022-07-22 11:03 ? 次閱讀

如何使用Phasics SID4相位成像

相機進行表面測量?

Phasics SID4相位成像相機,可以集成在商業(yè)或者自制的光學顯微鏡裝置上。為了提高樣品的整體性能,測量物體表面特性是一種有效的方法。對于此類應用,Phasics的軟件可以分析光程差,并且實時轉(zhuǎn)化為物體表面的形貌。硬件方面,Phasics相機體積小、結(jié)構(gòu)緊湊,并且易于使用。事實上,Phasics的波前分析儀能夠與實驗室常用的相機一樣易于集成。整個相機可以輕松集成到生產(chǎn)線或者實驗室中。

01

表面測量結(jié)構(gòu)

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Phasic SID4相位相機利用的是一種四波橫向剪切技術(shù),將入射光分成剪切的4束,然后再互相干涉形成干涉圖,通過傅立葉逆變換可以得到入射光的相位譜和強度信息,這是一種消色差的技術(shù),因此白光和LED光源非常適合。此外,可以使用任何顯微鏡進行測量,并且不依賴于偏振。如上圖光路所示,SID4相機位于被測物體的成像面進行探測,使用簡單。SID4相位成像相機可以集成在商業(yè)反射顯微鏡或?qū)S霉鈱W系統(tǒng)上。

02

SID 和 AFM 測量比較

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圖中紅線部分是Phasics測量結(jié)果,黑線位AFM測量結(jié)果。

使用AFM測量表面缺陷,和使用SID4相位成像相機一次測量成型的結(jié)果對比。

03

SID4 與 光學輪廓測量儀對比

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使用SID4 HR定量測量,以及白光光學輪廓儀測量結(jié)果的對比。兩個報告中,第一個側(cè)重于輪廓,第二個側(cè)重于深度測量。

04

測量結(jié)果

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Phasics是一家專門從事相位測量的法國公司。Phasics向其客戶提供全系列的產(chǎn)品,所有這些都是基于獨特的技術(shù),即四波側(cè)向剪切干涉技術(shù)。Phasics公司的專長在于對這項技術(shù)的深刻理解,以及將其應用于從激光和光學計量到生物樣品成像等多個領(lǐng)域的能力。對于每一個領(lǐng)域,Phasics都提供了專門的硬件和軟件的解決方案。在生物學方面,Phasics提供了SID4Bio,這是一種獨特的用于活細胞成像的設(shè)備,依賴于定量相位成像。

SID4Bio是一個類似照相機的相位相機,用于活細胞成像。基于獨特的相位技術(shù),它提供了一個巨大的對比度增強,能夠?qū)罴毎M行無標簽觀察,從而使長時間的延時采集成為可能。此外,由于獲得的圖像是對標本引入的局部相移的測量,它們提供了關(guān)于標本的定量信息。值得注意的是,它們能夠檢索出標本的干質(zhì)量。這些數(shù)據(jù)也可用于研究各種生物現(xiàn)象,如細胞生長或細胞遷移。

上海昊量光電設(shè)備有限公司作為Phasics在中國地區(qū)的核心代理商,致力于為國內(nèi)的工業(yè)和科研用戶提供技術(shù)解決方案。

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