解決電路表征問題，以加快上市時間

半導體測試工程師可以花費大量時間來集成和排除系統故障。整合的復雜性可能成為以及時，有利可圖的方式將產品推向市場的巨大障礙。在某些情況下，必須配置和集成來自多個供應商的硬件和軟件，以確保不同位置之間的數據關聯和測量準確性。幸運的是，我們的MeasureOne程序簡化了定義，集成和驗證系統以進行電路表征的任務。

MeasureOne?是FormFactor的解決方案，基于與同類最佳合作伙伴的合作，提供具有經過驗證的性能的測試和測量解決方案。

半導體測試工程師可以花費大量時間來集成和排除系統故障。整合的復雜性可能成為以及時，有利可圖的方式將產品推向市場的巨大障礙。在某些情況下，必須配置和集成來自多個供應商的硬件和軟件，以確保不同位置之間的數據關聯和測量準確性。幸運的是，我們的MeasureOne程序簡化了定義，集成和驗證系統以進行電路表征的任務。

在諸如放大器，混頻器和濾波器之類的電路上執行晶片級測量的測試系統的規范可能是具有挑戰性的，尤其是當單個晶片可以包括多種電路類型時。驗證這些結構所需的測試范圍廣泛且復雜，包括S參數，DC參數，噪聲系數，增益壓縮和互調失真。測量和校準精度至關重要，尤其是在多個位置之間必須關聯測試的情況下。

要配置系統以應對這些挑戰，您必須指定和提供來自多個供應商的儀器，晶圓探針臺，RF和DC探針和軟件，然后在第一臺設備進行測試之前在現場集成并證明這些。可能需要數周甚至數月才能執行第一次測量，并確信不同位置之間存在數據關聯和測量精度。

與我們的MeasureOne合作伙伴一起是德科技，FormFactor可以通過提供完全集成的晶圓級測量解決方案直接應對這些挑戰，并提供有保證的配置，安裝和支持。我們的晶圓級探針臺，微波和直流偏置探頭以及校準工具與Keysight的測試儀器和測量與分析軟件相結合，可以對所有結構進行全面測量。

例如，晶圓級測量解決方案可能采用我們全新的SUMMIT200半自動晶圓探針系統，適用于Infinity探針?，最大可達200mm的晶圓，WinCal XE?校準軟件和阻抗標準襯底用于校準，以及Keysight PNA或PNA-X微波網絡分析儀，Keysight N6705B直流電源分析儀和Keysight WaferPro Express測量軟件平臺。或者，或許不同的FormFactor探針系統或探針樣式更適合您的需求，或者不同的是德科技儀器 – 兩家公司都提供各種高性能，兼容的產品，以滿足各種各樣的要求。

為了確保所有這些元素協同工作以滿足您的應用需求，我們與Keysight一起將在交付之前預先驗證系統配置。我們的解決方案專家將安裝和驗證系統S參數和DC參數性能，Keysight解決方案專家將驗證可選的應用功能。校準對于確保準確和可重復的測試至關重要，而這在晶圓探測環境中尤其具有挑戰性。

憑借FormFactor和是德科技提供的有保證的晶圓級測量解決方案，您可以獲得準確且可重復的測試，并縮短首次測量時間。

審核編輯：符乾江