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芯片功耗和性能驗證解決方案

YCqV_FPGA_EETre ? 來源:FPGA開發圈 ? 作者:FPGA開發圈 ? 2021-01-14 10:31 ? 次閱讀

“市面上沒有其他產品能夠做到與我們同水平的高精度測量。如果 NI 沒有提供這些工具,那么我們就得自行開發這些工具,而這需要多耗費數年的時間。NI 讓我們能夠專注于最重要的事情。”——某領先半導體公司的硬件工程師

芯片功耗和性能驗證解決方案

如今,人們對電子產品的功耗的要求不斷提高,半導體公司正在爭相設計低功耗、高能效的產品。為了在緊迫的市場周期內推出更有競爭力的產品,工程師需要快速測量、分析并正確地處理功耗數據。傳統臺式示波器和數字萬用表(DMM)等價格過于昂貴,而且很難根據 Pin 腳或產品線進行擴展,而低成本數據采集解決方案往往精度不足,無法檢測到很多像芯片睡眠模式狀態下的微小電信號。面對這一進退兩難的困境,一些企業選擇僅僅對芯片部分功效進行分析,這將導致芯片高功耗、低品質等問題,最終引起市場機會的大量流失。

NI 芯片功耗和性能驗證解決方案具有高準確度和高通道數,有助于加快產品上市時間,您可以使用專用儀器和基于配置的軟件來快速設置、測量、記錄和可視化功耗測量數據。

解決方案的優勢

獲取可靠且一致的功耗測量結果,為設計提供準確的反饋,幫助客戶解決問題以及提高競爭力

體積小巧,具有高可擴展性,可從幾個通道擴展到數百個通道

獲取針對目標細分市場的洞察,優化功率效率和性能

快速查看有意義的功耗數據,讓設計公司應用工程部門甚至客戶更早參與進來為系統級驗證提供幫助

通過完整的功率測量解決方案,最大限度提升設計和驗證團隊的效率

責任編輯:lq

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