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標簽 > 失效分析
失效分析是一門發(fā)展中的新興學(xué)科,近年開始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機理的活動。本章就機械失效分析,失效分析實驗室
失效分析流程,涂層失效分析,軸承失效分析。
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失效分析在生產(chǎn)建設(shè)中極其重要,失效分析的限期往往要求很短,分析結(jié)論要正確無誤,改進措施要切實可行。 1 失效分析思路的內(nèi)涵 失效分析 思路是指導(dǎo)失效分析...
電驅(qū)失效類型和風(fēng)險分析,如何從測試端提升電驅(qū)可靠性?
電子發(fā)燒友網(wǎng)報道(文/吳子鵬)近日,北理工電動車輛國家工程研究中心主任王志福在演講中表示,“我們現(xiàn)在越來越多地關(guān)注電驅(qū)系統(tǒng)的故障問題,比如短路、斷路、失...
半導(dǎo)體器件芯片分析的幾種方法與步驟。分析手段一般包括:c-sam,x-ray,sem掃描電鏡,EMMI微光顯微鏡等。
1.案例背景 某產(chǎn)品測試過程中發(fā)生功能不良,初步分析不良是因為電阻阻值變大導(dǎo)致。 注:電阻阻值標稱值為1KΩ,實際達到幾十或幾百KΩ。 2.分析過程 2...
熱擊失效的原理是:在制造多層陶瓷電容時,使用各種兼容材料會導(dǎo)致內(nèi)部出現(xiàn)張力的不同熱膨脹系數(shù)及導(dǎo)熱率。當溫度轉(zhuǎn)變率過大時就容易出現(xiàn)因熱擊而破裂的現(xiàn)象
一場關(guān)于如何提高產(chǎn)品可靠性的技術(shù)交流會
什么是產(chǎn)品可靠性?產(chǎn)品可靠性指的是元件、產(chǎn)品、系統(tǒng)在一定時間內(nèi)、在一定條件下無故障地執(zhí)行指定功能的能力或可能性。通過可靠度、失效率、平均無故障間隔等來評...
2019-01-22 標簽:失效分析 5938 0
金屬斷口學(xué)的發(fā)展及微觀斷裂機理研究可靠性檢測
1 斷口是試樣或零件在試驗或使用過程中斷裂后所形成的相匹配表面。 斷口學(xué)是研究斷口的形貌、性質(zhì),進而分析斷裂類型和斷裂方式(有時統(tǒng)稱為斷裂模式)、斷裂路...
失效分析是根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機理的活動。失效分析是確定芯片失效機理的必要手段。失效分析...
掃描電鏡應(yīng)用之SEM-EDS金屬材料研究及失效分析
材料的性能與組織的關(guān)系 正確的金相分析是失效分析的基礎(chǔ)。首先是對各種光學(xué)顯微鏡不能分辨的基本顯微組織的分析,如隱針馬氏體、屈氏體等;其次是對顯微組織精細...
LED的硫化是指LED燈珠接觸到外界環(huán)境中的含硫物質(zhì)后,鍍層中的銀離子與硫離子發(fā)生化學(xué)反應(yīng)生成黑色硫化銀的過程。高溫高濕均會加快該反應(yīng)速度。 ? 出現(xiàn)硫...
No.1 引言 ? 掃描電子顯微鏡的簡稱為掃描電鏡,英文縮寫為SEM 。它利用細聚焦的電子束,轟擊樣品表面,通過電子與樣品相互作用產(chǎn)生的二次電子、背散射...
▼關(guān)注公眾號:工程師看海▼ 失效分析一直伴隨著整個芯片產(chǎn)業(yè)鏈,復(fù)雜的產(chǎn)業(yè)鏈中任意一環(huán)出現(xiàn)問題都會帶來芯片的失效問題。芯片從工藝到應(yīng)用都會面臨各種失效風(fēng)險...
芯片失效分析服務(wù)簡介 一般來說,集成電路在研制、生產(chǎn)和使用過程中失效不可避免,隨著人們對產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求的不斷提高,失效分析工作也顯得越來越重要,通...
多次陶瓷外殼以其優(yōu)良的性能被廣泛應(yīng)應(yīng)用于航天、航空、軍事電子裝備及民用投資類電子產(chǎn)品的集成電路和電子元器件的封裝,常用的陶瓷外殼有集成電路陶瓷外殼。
2012-03-27 標簽:可靠性設(shè)計失效分析 4573 0
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