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金鑒實驗室

金鑒實驗室是光電半導體行業最知名的第三方檢測機構之一

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金鑒實驗室文章

  • 氬離子截面技術與SEM在陶瓷電阻分析中的應用2025-03-05 12:44

    SEM技術及其在陶瓷電阻分析中的作用掃描電子顯微鏡(SEM)是一種強大的微觀分析工具,能夠提供高分辨率的表面形貌圖像。通過SEM測試,可以清晰地觀察到陶瓷電阻表面的微觀結構和形態特征,從而評估其質量。例如,可以判斷陶瓷電阻表面是否存在缺陷、裂紋或污染等問題。這些表面特征對陶瓷電阻的性能有著直接的影響,因此SEM在陶瓷電阻的質量控制和性能優化中發揮著重要作用。
    SEM 顯微鏡 陶瓷電阻 253瀏覽量
  • 機械碰撞防護等級測試2025-03-05 12:43

    一機械碰撞防護等級(IK01~IK10)IK是指設備外殼的防沖擊防護等級,IK類似于IP防護等級,對于室外電子設備,無論是架空,地埋還是普通室外放置,都需要有相應的IP、IK要求。IK等級是焦耳為單位的擺錘自由落體撞擊來決定的,標識電器設備外殼對外界機械碰撞的防護等級(IK代碼)。IK代碼的特征數字組合為01到10,即:IK01,IK02,IK03,IK04
    機械 測試 防護等級 502瀏覽量
  • 芯片可靠性測試:性能的關鍵2025-03-04 11:50

    在芯片行業,可靠性測試是確保產品性能的關鍵環節。金鑒實驗室作為專業的檢測機構,提供全面的芯片可靠性測試服務,幫助企業在激烈的市場競爭中保持領先。預處理(Preconditioning,PC)預處理(PC)也稱為MSL濕度敏感試驗,主要針對芯片在吸收濕氣后,經過表面貼裝技術(SMT)回流焊接過程中可能出現的問題。在實際應用中,芯片吸收濕氣后可能會在焊接過程中出
    可靠性測試 芯片 386瀏覽量
  • 含溴阻燃劑檢測2025-03-04 11:50

    溴化阻燃劑簡介溴系阻燃劑(BrominatedFlameRetardants,簡稱BFRs)是含溴有機化合物的一大類,包括多溴二苯醚(簡稱PBDEs)、六溴環十二烷(簡稱HBCDD)和多溴聯苯(簡稱PBBs)等。這類化合物憑借其出色的阻燃效能,被廣泛地應用于塑料制品、各種紡織品以及兒童相關產品中,主要目的是提升這些產品的耐火性能。應用與潛在風險溴化阻燃劑的使
    印刷電路板 檢測 264瀏覽量
  • 聚焦離子束技術在現代科技的應用2025-03-03 15:51

    聚焦離子束(FocusedIonBeam,簡稱FIB)技術是一種在微觀尺度上對材料進行加工、分析和成像的先進技術。它在材料科學、半導體制造、納米技術等領域發揮著不可或缺的作用。FIB的基本原理聚焦離子束技術的核心在于利用高能離子束對樣品進行加工和分析。其基本原理是將鎵(Ga)等元素在強電場的作用下加速,形成高能離子束。通過精確控制電場和磁場,離子束能夠聚焦到
    fib 材料 離子束 324瀏覽量
  • 氬離子束研磨拋光助力EBSD樣品的高效制備2025-03-03 15:48

    EBSD樣品制備EBSD樣品的制備過程對實驗結果的準確性和可靠性有著極為重要的影響。目前,常用的EBSD樣品制備方法包括機械拋光、電解拋光和聚焦離子束(FIB)等,但這些方法各有其局限性。1.機械拋光的局限性機械拋光是一種傳統的EBSD樣品制備方法,雖然操作相對簡單,但存在諸多問題。首先,由于其硬度較大,可能會劃傷材料表面,尤其不適合硬度較低的材料。其次,機
    fib 離子束 261瀏覽量
  • 雙束聚焦離子束-掃描電鏡(FIB):TEM樣品制備2025-02-28 16:11

    雙束聚焦離子束-掃描電鏡(DualBeamFocusedIonBeam,FIB)作為一種先進的微觀加工與分析技術,廣泛應用于材料科學、納米技術、半導體研究等領域。其不僅可以制作常見的截面透射電子顯微鏡(TEM)薄片樣品,還能根據不同的研發表征需求,對材料樣品的表面進行平面加工制樣。截面與平面TEM樣品的區別截面TEM樣品與平面TEM樣品的主要區別在于觀察面的
    fib 掃描電鏡 離子束 490瀏覽量
  • 氣體腐蝕對電子產品的危害與應對2025-02-27 14:33

    在當今快速發展的科技時代,電子產品已成為人們生活中不可或缺的一部分。從日常使用的手機、電腦到復雜的工業設備和醫療器械,它們的性能和可靠性直接影響著我們的生活和生產效率。然而,在復雜的使用環境中,電子產品面臨著諸多挑戰,其中氣體腐蝕問題尤為突出。氣體腐蝕試驗的重要性腐蝕性氣體雖然在大氣中的濃度較低,但它們之間的相互作用會形成“倍乘效應”,生成強酸并伴隨水分的生
    氣體 電子產品 359瀏覽量
  • 聚焦離子束(FIB)技術原理和應用2025-02-26 15:24

    FIB技術原理聚焦離子束(FocusedIonBeam,簡稱FIB)技術作為一種前沿的納米級加工與分析手段。它巧妙地融合了離子束技術與掃描電子顯微鏡(SEM)技術的優勢,憑借其獨特的原理、廣泛的應用場景以及顯著的優勢,成為現代科學研究與工業生產中不可或缺的重要工具。聚焦離子束技術的核心是液態金屬離子源。液態金屬離子源由一個半徑為2~5μm的鎢尖組成,鎢尖被尖
    fib SEM 離子束 643瀏覽量
  • 氬離子拋光如何應用于材料微觀結構分析2025-02-26 15:22

    微觀結構的分析氬離子束拋光技術作為一種先進的材料表面處理方法,憑借其精確的工藝參數控制,能夠有效去除樣品表面的損傷層,為高質量的成像和分析提供理想的樣品表面。這一技術廣泛應用于掃描電子顯微鏡(SEM)、光學顯微鏡、掃描探針顯微鏡等高端分析設備,并適用于能譜分析(EDS)、電子背散射衍射(EBSD)、陰極發光(CL)、電子束誘導電流(EBIC)等多種分析技術。
    顯微鏡 材料 290瀏覽量