文章
-
光電子元件的可靠性測試關(guān)鍵項目2025-02-18 14:19
-
詳細(xì)聚焦離子束(FIB)技術(shù)2025-02-18 14:17
-
汽車車燈檢測與可靠性驗證2025-02-17 17:24
-
聚焦離子束(FIB)技術(shù):芯片調(diào)試的利器2025-02-17 17:19
-
聚焦離子束顯微鏡(FIB):原理揭秘與應(yīng)用實例2025-02-14 12:49
-
中性鹽霧試驗的標(biāo)準(zhǔn)2025-02-14 12:48
-
什么是聚焦離子束(FIB)?2025-02-13 17:09
-
絕緣電阻測試和絕緣耐壓測試有什么不同2025-02-13 17:07
-
溫度沖擊和溫度循環(huán):哪種溫度變化對材料的影響更大?2025-02-12 11:54
-
聚焦離子束技術(shù):納米的精準(zhǔn)操控與廣闊應(yīng)用2025-02-11 22:27
納米的精準(zhǔn)尺度聚焦離子束技術(shù)的核心機(jī)制在于利用高能離子源產(chǎn)生離子束,并借助電磁透鏡系統(tǒng),將離子束精準(zhǔn)聚焦至微米級乃至納米級的極小區(qū)域。當(dāng)離子束與樣品表面相互作用時,其能量傳遞與物質(zhì)相互作用的特性被巧妙利用,從而實現(xiàn)了對樣品的原子級別操控。在刻蝕方面,高能離子束如同一把無形的“刻刀”,對樣品表面進(jìn)行轟擊,將表面材料逐層剝離,實現(xiàn)微觀結(jié)構(gòu)的精細(xì)加工。這種刻蝕過程