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深入解析：燈具球壓測試2025-02-06 14:16
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X射線熒光光譜分析技術(shù)：原理與應(yīng)用2025-02-06 14:15
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FIB常見應(yīng)用明細(xì)及原理分析2025-01-28 00:29
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什么是溫升試驗(yàn)2025-01-28 00:27
電氣產(chǎn)品在使用過程中，由于電流通過某些元件產(chǎn)生的熱量，可能會(huì)導(dǎo)致設(shè)備溫度升高。如果設(shè)備長時(shí)間在高溫狀態(tài)下工作，可能會(huì)降低絕緣材料的性能，增加電擊、燙傷或火災(zāi)的風(fēng)險(xiǎn)。設(shè)備內(nèi)部的高溫還可能影響產(chǎn)品性能，導(dǎo)致絕緣等級(jí)下降或增加不穩(wěn)定性。在產(chǎn)品設(shè)計(jì)階段，進(jìn)行溫升試驗(yàn)是確保產(chǎn)品安全穩(wěn)定工作的重要環(huán)節(jié)。溫升試驗(yàn)定義溫升試驗(yàn)是一種評(píng)估電子電氣設(shè)備在運(yùn)行中各部件相對(duì)于環(huán)境溫 -
Dual Beam FIB-SEM技術(shù)2025-01-26 13:40
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X-Ray檢測技術(shù)在SMT貼片加工中的應(yīng)用2025-01-26 13:38
X射線檢測技術(shù)原理X射線檢測技術(shù)的核心在于借助X射線的穿透特性來實(shí)現(xiàn)物體內(nèi)部結(jié)構(gòu)的可視化。當(dāng)X射線穿透不同密度的物質(zhì)時(shí)，會(huì)因物質(zhì)的密度差異而產(chǎn)生不同的吸收效果，進(jìn)而形成相應(yīng)的內(nèi)部影像。具體而言，密度較大的金屬材質(zhì)，例如焊點(diǎn)，會(huì)對(duì)X射線產(chǎn)生較強(qiáng)的吸收作用，形成較為明顯的輪廓影像；而密度相對(duì)較小的材料，如PCB基板或焊點(diǎn)內(nèi)部的空洞等，則對(duì)X射線的吸收較少，從而在 -
材料科學(xué)中的EBSD技術(shù)：應(yīng)用實(shí)踐與專業(yè)解讀2025-01-26 13:37
EBSD技術(shù)的誕生與發(fā)展電子背散射衍射技術(shù)（EBSD）以其獨(dú)特的分析能力，成為了揭示材料微觀結(jié)構(gòu)秘密的關(guān)鍵技術(shù)。EBSD技術(shù)的核心優(yōu)勢EBSD技術(shù)之所以能在眾多材料分析技術(shù)中脫穎而出，關(guān)鍵在于其依托于掃描電子顯微鏡（SEM）的強(qiáng)大功能，能夠深入剖析材料的微觀結(jié)構(gòu)。與傳統(tǒng)的光學(xué)顯微鏡相比，EBSD技術(shù)在高倍率下展現(xiàn)出卓越的成像能力，能夠清晰地揭示出細(xì)小晶粒、針 -
LED測試項(xiàng)目及方法全攻略2025-01-26 13:36
在現(xiàn)代照明與顯示技術(shù)中，發(fā)光二極管（LED）因其高效、節(jié)能、長壽命等優(yōu)點(diǎn)而被廣泛應(yīng)用。為了確保LED產(chǎn)品的性能和質(zhì)量一致性，國家標(biāo)準(zhǔn)對(duì)LED的電特性、光學(xué)特性、熱學(xué)特性、靜電特性及壽命測試等方面進(jìn)行了詳細(xì)規(guī)定。LED的電特性LED的電特性是其基本性能的重要體現(xiàn)，主要包括正向電流、正向電壓、反向電流和反向電壓等參數(shù)。測試時(shí)，通常采用恒流恒壓源供電，并配合電壓表 -
聚焦離子束雙束系統(tǒng)在微機(jī)電系統(tǒng)失效分析中的應(yīng)用2025-01-24 16:17
聚焦離子束（FIB）技術(shù)概述聚焦離子束（FIB）技術(shù)是一種通過離子源產(chǎn)生的離子束，經(jīng)過過濾和靜電磁場聚焦，形成直徑為納米級(jí)的高能離子束。這種技術(shù)用于對(duì)樣品表面進(jìn)行精密加工，包括切割、拋光和刻蝕。。FIB系統(tǒng)通常建立在掃描電子顯微鏡（SEM）的基礎(chǔ)上，結(jié)合聚焦離子束和能譜分析，能夠在微納米精度加工的同時(shí)進(jìn)行實(shí)時(shí)觀察和能譜分析，廣泛應(yīng)用于生命科學(xué)、材料科學(xué)和半導(dǎo) -
全面解析電子背散射衍射技術(shù)：原理、應(yīng)用與未來趨勢2025-01-24 16:15
