文章
-
氬離子截面剖析:鋰電池電極材料2025-03-26 15:31
-
聚焦離子束技術(shù)在納米加工中的應(yīng)用與特性2025-03-26 15:18
聚焦離子束技術(shù)的崛起近年來(lái),F(xiàn)IB技術(shù)憑借其獨(dú)特的優(yōu)勢(shì),結(jié)合掃描電鏡(SEM)等高倍數(shù)電子顯微鏡的實(shí)時(shí)觀察功能,迅速成為納米級(jí)分析與制造的主流方法。它在半導(dǎo)體集成電路的修改、切割以及故障分析等關(guān)鍵環(huán)節(jié)中發(fā)揮著至關(guān)重要的作用,為電子器件的微型化、高性能化提供了有力的技術(shù)支撐。FIB-SEM雙束系統(tǒng)的協(xié)同工作原理當(dāng)樣品表面垂直于離子束時(shí),離子束可以高效地進(jìn)行切割 -
LED光生物安全理論及測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)2025-03-25 17:13
光生物效應(yīng)光生物效應(yīng)是光與生物體相互作用的核心內(nèi)容。在人體生理反應(yīng)層面,光生物效應(yīng)可歸納為視覺(jué)效應(yīng)、非視覺(jué)效應(yīng)與輻射效應(yīng)三大類別。視覺(jué)效應(yīng)是光的最基礎(chǔ)作用,其影響因素豐富多樣,包括亮度、空間分布、顯色性、眩光等,這些因素相互作用,可能導(dǎo)致眼睛疲勞、視力模糊,甚至降低視覺(jué)相關(guān)作業(yè)的效率。非視覺(jué)效應(yīng)則涉及人體除視覺(jué)外的廣泛生理與心理反應(yīng),與工作效率、安全感、舒適 -
透射電子顯微鏡(TEM)的優(yōu)勢(shì)及應(yīng)用2025-03-25 17:10
-
車規(guī)級(jí)與非車規(guī)級(jí)有什么區(qū)別?如何管控?2025-03-24 14:36
車規(guī)VS非車規(guī)的差異1.可靠性要求車規(guī)級(jí):車規(guī)級(jí)產(chǎn)品在可靠性方面的要求極為嚴(yán)苛,其缺陷率需控制在百萬(wàn)分之一(PPM)級(jí)別,設(shè)計(jì)壽命通常為15年或20萬(wàn)公里,且必須通過(guò)AEC-Q系列認(rèn)證,如AEC-Q100是針對(duì)芯片的專門(mén)認(rèn)證。相比之下,非車規(guī)級(jí)產(chǎn)品(例如消費(fèi)級(jí))的缺陷率容忍度相對(duì)較高,壽命周期一般僅為2-3年。環(huán)境測(cè)試:車規(guī)級(jí)元器件需要經(jīng)受極端溫度循環(huán)測(cè)試( -
案例展示||FIB-SEM在材料科學(xué)領(lǐng)域的應(yīng)用2025-03-21 15:27
-
LED光效、熱阻與光衰的深度剖析2025-03-20 11:19
-
Decap開(kāi)蓋檢測(cè)方法及案例分析2025-03-20 11:18
開(kāi)蓋檢測(cè)(DecapsulationTest),即Decap,是一種在電子元器件檢測(cè)領(lǐng)域中廣泛應(yīng)用的破壞性實(shí)驗(yàn)方法。這種檢測(cè)方式在芯片的失效分析、真?zhèn)舞b定等多個(gè)關(guān)鍵領(lǐng)域發(fā)揮著不可或缺的作用,為保障電子產(chǎn)品質(zhì)量和安全性提供了有力支持。應(yīng)用方法1.化學(xué)開(kāi)蓋化學(xué)開(kāi)蓋是利用特定化學(xué)試劑的腐蝕作用來(lái)去除芯片外部封裝的一種方法在實(shí)際操作中,常用的化學(xué)試劑包括發(fā)煙硝酸、濃 -
透射電子顯微鏡(TEM)在鋰電池材料分析中的應(yīng)用2025-03-20 11:17
-
聚焦離子束掃描電鏡雙束系統(tǒng)(FIB-SEM)2025-03-19 11:51
聚焦離子束掃描電鏡雙束系統(tǒng)(FIB-SEM)作為一種前沿的微納加工與成像技術(shù),憑借其強(qiáng)大的功能和多面性,在材料科學(xué)研究中占據(jù)著舉足輕重的地位。它能夠深入微觀世界,揭示材料內(nèi)部的結(jié)構(gòu)與特性,為材料科學(xué)的發(fā)展提供了強(qiáng)有力的支撐。定點(diǎn)剖面形貌與成分分析FIB-SEM系統(tǒng)具備精準(zhǔn)的定點(diǎn)切割與分析能力,能夠深入材料內(nèi)部,揭示其微觀結(jié)構(gòu)與成分。以CdS微米線為例,光學(xué)顯