動(dòng)態(tài)

• 發(fā)布了文章 2025-01-26 13:36

  LED測(cè)試項(xiàng)目及方法全攻略

  

  在現(xiàn)代照明與顯示技術(shù)中，發(fā)光二極管（LED）因其高效、節(jié)能、長(zhǎng)壽命等優(yōu)點(diǎn)而被廣泛應(yīng)用。為了確保LED產(chǎn)品的性能和質(zhì)量一致性，國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)對(duì)LED的電特性、光學(xué)特性、熱學(xué)特性、靜電特性及壽命測(cè)試等方面進(jìn)行了詳細(xì)規(guī)定。LED的電特性LED的電特性是其基本性能的重要體現(xiàn)，主要包括正向電流、正向電壓、反向電流和反向電壓等參數(shù)。測(cè)試時(shí)，通常采用恒流恒壓源供電，并配合電壓表

  led 發(fā)光二極管 測(cè)試

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• 發(fā)布了文章 2025-01-24 16:17

  聚焦離子束雙束系統(tǒng)在微機(jī)電系統(tǒng)失效分析中的應(yīng)用

  

  聚焦離子束（FIB）技術(shù)概述聚焦離子束（FIB）技術(shù)是一種通過(guò)離子源產(chǎn)生的離子束，經(jīng)過(guò)過(guò)濾和靜電磁場(chǎng)聚焦，形成直徑為納米級(jí)的高能離子束。這種技術(shù)用于對(duì)樣品表面進(jìn)行精密加工，包括切割、拋光和刻蝕。。FIB系統(tǒng)通常建立在掃描電子顯微鏡（SEM）的基礎(chǔ)上，結(jié)合聚焦離子束和能譜分析，能夠在微納米精度加工的同時(shí)進(jìn)行實(shí)時(shí)觀察和能譜分析，廣泛應(yīng)用于生命科學(xué)、材料科學(xué)和半導(dǎo)

  fib SEM 微機(jī)電 離子束

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• 發(fā)布了文章 2025-01-24 16:15

  全面解析電子背散射衍射技術(shù)：原理、應(yīng)用與未來(lái)趨勢(shì)

  

  EBSD技術(shù)概述電子背散射衍射（EBSD）是一種尖端的材料分析技術(shù)，它依托于高能電子與材料表面晶體結(jié)構(gòu)的交互作用，通過(guò)捕捉和解析由此產(chǎn)生的背散射電子的衍射模式，揭示材料的晶體學(xué)特征。EBSD技術(shù)能夠細(xì)致地描繪出晶體的取向、晶界的角度差異、不同物相的識(shí)別，以及晶體的局部完整性等關(guān)鍵信息，為我們深入掌握材料的力學(xué)和物理屬性提供了重要依據(jù)。選擇EBSD技術(shù)的原因E

  晶體 測(cè)量 電子束

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• 發(fā)布了文章 2025-01-24 16:14

  離子清潔度測(cè)試方法實(shí)用指南

  

  離子清潔度的重要性在現(xiàn)代電子制造業(yè)中，印刷線路板（PCB）的離子清潔度是衡量其質(zhì)量和可靠性的重要指標(biāo)。由于PCB在生產(chǎn)過(guò)程中會(huì)經(jīng)歷多種工藝，如電鍍、波峰焊、回流焊和化學(xué)清潔等，這些工藝可能導(dǎo)致離子殘留，從而影響電子產(chǎn)品的功能性和可靠性。離子污染最常見(jiàn)的危害包括表面腐蝕和結(jié)晶生長(zhǎng)，最終可能引發(fā)短路，導(dǎo)致過(guò)多電流通過(guò)連接器，造成電子產(chǎn)品損壞。因此，準(zhǔn)確檢測(cè)離子清

  印刷線路板 測(cè)試 離子

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• 發(fā)布了文章 2025-01-23 15:27

  EBSD：材料微觀世界的“顯微鏡”

  

  電子背散射衍射（EBSD）技術(shù)，作為掃描電子顯微鏡（SEM）的高端拓展工具，它能夠深入剖析材料的微觀組織，實(shí)現(xiàn)組織結(jié)構(gòu)的精準(zhǔn)分析、直觀成像和量化評(píng)估，為材料科學(xué)研究人員與工程師提供了一把開(kāi)啟材料內(nèi)在特性?shī)W秘的“金鑰匙”，其在材料科學(xué)領(lǐng)域的價(jià)值愈發(fā)凸顯。微觀組織“微觀組織”是材料科學(xué)的核心概念之一，它涵蓋了諸多關(guān)鍵要素：晶粒的鑒定與表征、材料中不同相或化合物的

  SEM 顯微鏡 材料

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• 發(fā)布了文章 2025-01-23 15:26

  可靠性溫度循環(huán)試驗(yàn)至少需要幾個(gè)循環(huán)？

  

  溫度循環(huán)作為自然環(huán)境的模擬，可以考核產(chǎn)品在不同環(huán)境條件下的適應(yīng)能力，常用于產(chǎn)品在開(kāi)發(fā)階段的型式試驗(yàn)、元器件的篩選試驗(yàn)。一、溫度循環(huán)測(cè)試介紹溫度循環(huán)試驗(yàn)，也稱為熱循環(huán)試驗(yàn)、高低溫循環(huán)試驗(yàn)。將試驗(yàn)樣品暴露于預(yù)設(shè)的高低溫交替的試驗(yàn)環(huán)境中所進(jìn)行的可靠性試驗(yàn)。熱循環(huán)試驗(yàn)適用于揭示評(píng)估由剪切應(yīng)力所引起的“蠕變-應(yīng)力釋放”疲勞失效機(jī)理和可靠性，在焊點(diǎn)的失效分析和評(píng)價(jià)方面應(yīng)

  可靠性 溫度 試驗(yàn)

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• 發(fā)布了文章 2025-01-22 22:53

  氬離子拋光結(jié)合SEM電鏡：鋰電池電極片微觀結(jié)構(gòu)

  

  氬離子拋光技術(shù)氬離子束拋光技術(shù)，亦稱為CP（ChemicalPolishing）截面拋光技術(shù)，是一種先進(jìn)的樣品表面處理手段。該技術(shù)通過(guò)氬離子束對(duì)樣品進(jìn)行精密拋光，利用氬離子束的物理轟擊作用，精確控制離子束的能量和角度，逐步去除樣品表面的損傷層。這一過(guò)程不僅能夠?qū)崿F(xiàn)樣品表面的平滑處理，還能最大程度地減少對(duì)樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的干擾，從而獲得無(wú)損傷、高平整度的樣品表面。

  SEM 電鏡 鋰電池

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• 發(fā)布了文章 2025-01-22 22:50

  工業(yè)級(jí)和汽車級(jí)器件的主要區(qū)別

  

  元器件一般分為軍品，工業(yè)級(jí)，民用級(jí)這三個(gè)級(jí)別，市面流通基本都是工業(yè)級(jí)民用級(jí)，汽車級(jí)很少用于區(qū)分級(jí)別的，大概介于工業(yè)級(jí)和軍品之間吧。有的廠家會(huì)在型號(hào)做出區(qū)別，比如MAXIM，尾綴CWE和EWE就分別代表工業(yè)和民用級(jí)。不同級(jí)別的基本也是通用的，卻還是在于耐久的問(wèn)題，因?yàn)榇蠖嘈吞?hào)查到的pdf資料顯示的參數(shù)都是一樣的，而且基本都能替換使用，這也導(dǎo)致了市面一些翻新貨拿

  元器件 工業(yè)級(jí) 汽車級(jí)

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• 發(fā)布了文章 2025-01-22 22:48

  冷熱沖擊試驗(yàn)與快速溫變?cè)囼?yàn)的區(qū)別

  

  在當(dāng)今快速發(fā)展的電子行業(yè)，電子產(chǎn)品、半導(dǎo)體器件以及其他敏感組件的可靠性測(cè)試變得尤為重要。在眾多環(huán)境測(cè)試方法中，冷熱沖擊試驗(yàn)和快速溫變?cè)囼?yàn)因其能夠有效模擬產(chǎn)品在實(shí)際使用過(guò)程中可能遇到的極端溫度條件而備受關(guān)注。盡管這兩種測(cè)試方法都涉及到溫度的快速變動(dòng)，但它們?cè)跍y(cè)試的目的、實(shí)施方式和適用場(chǎng)合上存在著明顯的差異。冷熱沖擊試驗(yàn)冷熱沖擊試驗(yàn)是一種將樣品在極短的時(shí)間內(nèi)從一

  沖擊試驗(yàn) 檢測(cè) 試驗(yàn)箱

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• 發(fā)布了文章 2025-01-21 17:02

  透射電鏡（TEM）要點(diǎn)速覽

  

  透射電鏡（TEM）簡(jiǎn)介透射電子顯微鏡（TransmissionElectronMicroscope，TEM）自1932年左右問(wèn)世以來(lái)，便以其卓越的性能在微觀世界的研究中占據(jù)著舉足輕重的地位。它利用波長(zhǎng)極短的電子束作為電子光源，借助電子槍發(fā)出的高速、聚集的電子束照射至極為纖薄的樣品。這些電子束在穿透樣品后，攜帶樣品內(nèi)部的結(jié)構(gòu)信息，經(jīng)由電磁透鏡多級(jí)放大后成像，從

  TEM 顯微鏡 樣品 透射電鏡

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