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接觸式表面輪廓測(cè)量?jī)x校準(zhǔn)方法比較分析

Flexfilm ? 2025-07-22 09:52 ? 次閱讀
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接觸(觸針)式表面輪廓測(cè)量?jī)x廣泛應(yīng)用于機(jī)械加工、精密制造等領(lǐng)域,用于測(cè)量零件的輪廓尺寸、曲率半徑、直線度等參數(shù)。本文旨在比較《JJF(閩)1043—2011〈接觸(觸針)式表面輪廓測(cè)量?jī)x校準(zhǔn)規(guī)范〉》《JJF(冀)3012—2021〈觸針式表面輪廓測(cè)量?jī)x校準(zhǔn)規(guī)范〉》這兩種校準(zhǔn)方法的差異,Flexfilm臺(tái)階儀可以驗(yàn)證其有效性,為儀器校準(zhǔn)提供技術(shù)參考。

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輪廓儀的基本原理及觸針與待測(cè)表面的相互作用關(guān)系

1

校準(zhǔn)方法差異

flexfilm

共同校準(zhǔn)參數(shù)兩種方法均校準(zhǔn)輪廓儀的固有參數(shù):靜態(tài)測(cè)量力垂直分量(Z軸)示值誤差水平分量(X軸)示值誤差。這些參數(shù)是儀器信號(hào)處理的基礎(chǔ),直接影響后續(xù)計(jì)算的準(zhǔn)確性。差異化校準(zhǔn)項(xiàng)目 JJF(閩)1043—2011:在固有參數(shù)基礎(chǔ)上,額外校準(zhǔn)軟件系統(tǒng)的直線度弧度角度等參數(shù),系統(tǒng)反映儀器特性。 JJF(冀)3012—2021:采用量塊和平晶作為標(biāo)準(zhǔn),利用其研合性校準(zhǔn)軟件系統(tǒng)的階梯參數(shù),簡(jiǎn)化現(xiàn)場(chǎng)操作流程。由于輪廓儀軟件系統(tǒng)的直線度、弧度、角度、階梯等參數(shù)都是依據(jù)Z軸分量X軸分量進(jìn)行數(shù)據(jù)分析計(jì)算而來(lái)。因此,只要確保Z軸和X軸分量的示值準(zhǔn)確,則輪廓儀其他參數(shù)示值也就準(zhǔn)確。

2

標(biāo)準(zhǔn)器具選擇

flexfilm

  • 靜態(tài)力測(cè)量:均使用分辨率0.01 g的電子天平。
  • Z軸校準(zhǔn):JJF(閩)1043—2011用4等量塊,JJF(冀)3012—2021用3等量塊+2級(jí)平晶。
  • X軸校準(zhǔn):均采用激光干涉儀
  • 其他參數(shù):JJF(閩)1043—2011用標(biāo)準(zhǔn)球/半球校準(zhǔn)半徑,JJF(冀)3012—2021用3等量塊和平晶校準(zhǔn)臺(tái)階高度

3

校準(zhǔn)方法分析

flexfilm

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Z軸示值誤差校準(zhǔn):

  • JJF(閩)1043—2011:將量塊依次研合于平晶,從大到小測(cè)量各點(diǎn)誤差,取最大值。
  • JJF(冀)3012—2021:調(diào)整測(cè)針接觸平晶后放置量塊,重復(fù)抬放測(cè)針取平均值,計(jì)算誤差。

兩種方法均以平晶為基準(zhǔn),確保Z軸精度符合要求

4

試驗(yàn)驗(yàn)證與結(jié)論

flexfilm

對(duì)同一臺(tái)輪廓儀進(jìn)行校準(zhǔn)試驗(yàn),結(jié)果顯示兩種方法的Z軸示值誤差均在允許范圍內(nèi)(最大誤差±1.3μm)。這表明: 兩種方法均能有效保證輪廓儀的測(cè)量準(zhǔn)確性; JJF(閩)1043—2011規(guī)范側(cè)重系統(tǒng)性參數(shù)校準(zhǔn),JJF(冀)3012—2021規(guī)范則更注重便捷性; 只要確保Z軸和X軸分量準(zhǔn)確,其他參數(shù)(如直線度、階梯)的校準(zhǔn)可視為輔助驗(yàn)證。

Flexfilm探針式臺(tái)階儀

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半導(dǎo)體、光伏、LEDMEMS器件、材料等領(lǐng)域,表面臺(tái)階高度、膜厚的準(zhǔn)確測(cè)量具有十分重要的價(jià)值,尤其是臺(tái)階高度是一個(gè)重要的參數(shù),對(duì)各種薄膜臺(tái)階參數(shù)的精確、快速測(cè)定和控制,是保證材料質(zhì)量、提高生產(chǎn)效率的重要手段。

  • 配備500W像素高分辨率彩色攝像機(jī)
  • 亞埃級(jí)分辨率,臺(tái)階高度重復(fù)性1nm
  • 360°旋轉(zhuǎn)θ平臺(tái)結(jié)合Z軸升降平臺(tái)
  • 超微力恒力傳感器保證無(wú)接觸損傷精準(zhǔn)測(cè)量

Flexfilm臺(tái)階儀的亞埃級(jí)分辨率和1nm重復(fù)性精度可以為驗(yàn)證該校準(zhǔn)項(xiàng)的可靠性提供超精密測(cè)量基準(zhǔn),尤其適用于半導(dǎo)體/MEMS等微納尺度臺(tái)階的測(cè)量

原文參考:《接觸(觸針)式表面輪廓測(cè)量?jī)x兩種校準(zhǔn)方法的比較分析》

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