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詳解電解電容

awei0623 ? 來源:awei0623 ? 作者:awei0623 ? 2024-12-13 17:29 ? 次閱讀

電解電容的概念

電解電容的金屬箔為正極(鋁、鉭、鈮),與正極緊貼金屬的氧化膜是電介質(zhì)(該電介質(zhì)具有單向特性,所以正負極不可接反,一般1-2V的反向直流電流就可以使鋁電解電容失效),陰極由導電材料,電解質(zhì)(電解質(zhì)可以是液體或固體)和其他材料共同組成.因電解質(zhì)是陰極的主要部分,電解電容因此而得名。

一般鋁電解電容在外表面都有一層“外衣”,即用絕緣材料做的套管。套管可以印上一些字符,如電容值,耐壓值,廠家信息:二是起到絕緣的作用,防止鋁外殼碰到其他有電器件,密封電容防止電解液干涸

電解電容分類方法

傳統(tǒng)分類方法:按陽極材料分為:鋁電解電容、鉭電解電容、鉭電解電容(鈮電解電容落地不多)。通常認為鉭電解電容性能比鋁電解電容好,但這種憑陽極判斷電容性能的方法已經(jīng)過時,目前決定電解電容性能的關鍵并不在于陽極,而在于電解質(zhì),即陰極。

按陰極材料分類,陰極由導電材料、電解質(zhì)(電解質(zhì)可以是液體或固體)和其他材料共同組成

(1)電解液電容。鋁電解電容的陰極材料。

優(yōu)點:電解液制造的電解電容,最高能耐260℃的高溫,這樣就可以通過波峰焊,同時耐壓性也比較強。當介質(zhì)被擊穿后,只要擊穿電流不持續(xù),那么電容就能夠自愈。

缺點:高溫環(huán)境下電解液易揮發(fā),滲漏,對壽命和穩(wěn)定性影響大;高溫高壓環(huán)境下電解液可能瞬間汽化,體積增大引起爆炸;電解液的電導率只有0.0IS/cm,這造成ESR特別大

(2)MnO2固體電容。鉭電容所使用的陰極材料。

優(yōu)點:MnO2電導率是(0.1S/cm).所以MnO2電容的ESR比電解液電容小。MnO2的耐高溫能耐的瞬間溫度在500℃左右。

缺點:在極性接反的情況下容易產(chǎn)生高溫,發(fā)生爆炸。陰極材料的價格也比較貴

傳統(tǒng)上認為鉭電解電容性能比鋁電解電容好,主要是由于MnO2性能有過電解液電容的表現(xiàn)。

(3)高分子聚合物電容。性能很好

缺點:價格相對偏高,容量有限,額定電壓偏小。但市場上所用的很少

電容參數(shù)

①漏電流:電容的介質(zhì)對直流電流具有很大的阻礙作用。由于鋁氧化膜介質(zhì)上浸有電解液,在施加電壓時,重新形成和修復氧化膜時會產(chǎn)生很小的電流。通常漏電流會隨著溫度和電壓的升高而增大。

②電容量:JISC5102標準規(guī)定,鋁電解電容的電容量的測量是在額率為120Hz.最大交流電壓為0.5Vrms,DC編壓為1.5~2.0V的條件下進行,檢測電容量的目的是測試電容值是否在許可偏差范圍內(nèi),高于或低于許可偏差范國都不可以

③DF與Q值:在溫度為25℃,頻率為120Hz條件下測試電解電容的損耗角正切,鋁電解電容接入電路后,如果內(nèi)部電阻增大,則其損耗角正切也相應增大,電容的有效電容量降低,發(fā)熱量增大,導致工作電解液干涸,產(chǎn)品失效,損耗角正切越小越好。

電容的外觀于防爆槽

電容根據(jù)電流的大小和安裝需求的不同.有很多種形態(tài)的引線方式。有貼片型封裝,徑向引線型(直插)、軸向引線型、嵌入式型(牛角型)、焊接端子型、螺紋端子型。

鋁電解電容在超壓,反接,老化時都有可能發(fā)生爆炸,爆炸之后內(nèi)部的電解液噴射而出,形成爆漿,傳統(tǒng)鋁電解電容都有防爆槽(或稱為防爆閥),優(yōu)先從防爆槽爆炸,使壓力容易被釋放

對于容量小,耐壓低,爆炸起來沒有太大風險的鋁電解電容,會省去防爆槽的工序

最小電容計算公式

控制某一紋波電壓所需的最小電容的計算公式為

P為電容上消耗的功率;U為整流器輸出電壓的最大值和最小值;f為整流器輸出的脈動頻率

鋁電解電容失效模式分析:

鋁電解電容常見的失效模式:有防爆槽開裂,開路,漏電流增大,漏液,短路,電容量下降,擊穿等。從失效機理看,使用條件對鋁電解電容的壽命有很大的影響。使用條件可分為環(huán)境條件和電條件,環(huán)境條件有溫度,濕度,氣壓,震動等,其中溫度對鋁電解電容壽命的影響是最大的。電條件有電壓、紋波電流,充放電等。

應用鋁電解電容時,需要考慮環(huán)境的散熱方式和散熱強度,電容與熱源的距離,電容的安裝方式,建議看數(shù)據(jù)手冊了解環(huán)境溫度對電容容量和壽命的影響。在電容的電條件比較好的情況下,可以直接利用溫度對鋁電解電容壽命進行估算。

失效模式 失效原因 失效部位 失效機理 失效類型 與失效相關的變量
防爆槽開裂 紋波電流過大,環(huán)境溫度過高,快速地充放電 防爆槽 芯子內(nèi)部溫度過高,電解液汽化,壓力過大,防爆槽開裂 耗散失效 工作紋波電流、環(huán)境溫度、快速充放電
水和反應 鋁和水發(fā)生化學反應 耗散失效 溫度、時間、水含量
過電壓、反向電壓、交流電壓 / 突發(fā)失效 工作電壓、反向電壓
開路 來料品質(zhì)不良 鋁箔與引線鉚接部位 鋁箔與引線接觸不良,電路開路。 早期失效 來料質(zhì)量
來料品質(zhì)不良,電容受到鹵素污染 陽極導電條 正極導電鋁條與鹵素發(fā)生電化學反應,將鋁條腐蝕開路 早期失效,突發(fā)性失效 來料質(zhì)量,加工過程中對鹵素液體地控制
單板加工時受到外力損傷 鋁箔與引線鉚接部位 鉚接部位因受外部應力而損傷撕裂 早期失效 單板加工,運輸時地外應力
過電壓 鉚接部位,導電條 過高地瞬間電壓降鉚接部位,導電條擊穿撕裂 突發(fā)性失效 浪涌電壓
漏電流增大 反向電壓 負極箔、正極箔 負極箔沒有耐壓能力,有反向電壓時,負極箔會產(chǎn)生電化學反應,釋放熱量,產(chǎn)生氣體時也會破壞正極箔的絕緣性能,再加電時漏電流增大 突發(fā)性失效 反向電壓
環(huán)境溫度過高,紋波電流過大 正極箔 高溫時絕緣介質(zhì)性能下降,產(chǎn)生缺陷,加電時電容因自愈性能而使漏電流增大 突發(fā)性失效 環(huán)境溫度、紋波電流
電容存在缺陷 電容芯包 鋁箔上存在裂痕,毛刺,電解質(zhì)有空洞 早期失效 來料質(zhì)量
漏液 來料質(zhì)量不良 封口處、引線端根部 電容密封不良、造成電解液從封口處或引線端根部溢出 耗散失效 來料質(zhì)量
短路 電壓 電容芯包 鋁箔和電解紙被擊穿、開裂、燒毀,造成正負箔接觸 突發(fā)性失效 過電壓
單板加工時受到外力損傷 鋁箔和引線鉚接部位 鉚接部位因受外力而損傷,產(chǎn)生毛刺使正負極箔接觸 早期失效 單板加工,運輸時的外應力
電容內(nèi)部存在短路點 電容芯包 電容內(nèi)部存在電路缺陷點,造成電壓加不上 早期失效 來料質(zhì)量
電容量下降 過高的內(nèi)部溫度 電容芯包 高溫時電解液揮發(fā),電解液含量下降,造成電容容量降低 耗損失效 紋波電流,環(huán)境溫度
鋁箔質(zhì)量差 正、負極箔 正負鋁箔的穩(wěn)定性差,長期工作后電容量下降 耗損失效 來料質(zhì)量
擊穿 溶液酸值上升 陽極氧化爐介質(zhì)膜 在存儲過程中氧化膜層發(fā)生腐蝕作用 耗損失效 紋波電流,環(huán)境溫度
工藝缺陷 氧化鋁附近存在雜質(zhì) 陽極氧化膜無法填平修復,氧化膜上會留下微孔和穿透孔 早期失效 來料質(zhì)量

審核編輯 黃宇

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