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硅晶圓的制備流程

中科院半導體所 ? 來源:芯云知 ? 2024-10-21 15:22 ? 次閱讀

文章來源:芯云知

原文作者:Crane

本文從硅片制備流程為切入點,以方便了解和選擇合適的硅晶圓,硅晶圓的制備工藝流程比較復雜,加工工序多而長,所以必須嚴格控制每道工序的加工質量,才能獲得滿足工藝技術要求、質量合格的硅單晶片(晶圓),否則就會對器件的性能產生顯著影響。

硅棒是如何轉化為硅晶圓的呢?

以下是硅晶圓的制備流程:

1)截斷

截斷將硅棒的兩端去掉,一端為籽晶端(籽晶所在的位置),一端為非籽晶端(與籽晶相對的另一端),即切去單晶硅的頭部和尾部。

2)直徑研磨

由于晶體生長中直徑和圓度的控制不可能很精確,所以硅棒都要長得稍大一點,直徑的大小也不均勻,所以通常需要進行直徑研磨,使單晶硅的直徑達到一致以及滿足不同產品直徑的要求。

3) 磨定位面

單晶體具有各向異性的特點,必須按特定晶向進行切割,才能滿足生產的需要。其原理是用一束可見光或X光射向單晶棒端面,由于端面上晶向的不同,其反射的圖形也不同。根據反射圖像,可以校正單晶棒的晶向。一旦晶體在切割塊上定好晶向,就沿著軸磨滾出一個參考面,通常稱為晶圓的主參考面。在許多晶圓中,邊緣還會有第二個較小的參考面,稱為次參考面,用來區別導電類型。主、次定位邊的角度標識了硅片的類型。

4)切片

晶棒的外形處理完之后接著將硅棒切為硅片,切片目前有兩種方式,一是用有金剛石涂層的內圓刀片把晶圓從晶體上切下來。這些刀片是中心有圓孔的薄圓鋼片。二是線切片,通過粘有金剛石顆粒的金屬絲的運動來達到切片的目的。單晶硅在切片時,硅片的厚度、晶向、翹曲度和平行度是關鍵參數,需要嚴格控制。晶片切片的要求是: 厚度符合要求,平整度和彎曲度要小,無缺損,無裂縫,刀痕淺。

5)磨片

切片完成后,對于硅片表面要進行研磨機械加工。磨片工藝的目的包括以下兩點:一是去除硅片表面的刀疤,使硅片表面加工損傷均勻一致。二是調節硅片厚度,使片與片之間厚度差逐漸縮小,并提高表面平整度和平行度。

目前使用得最普遍的是行星式磨片法。采用雙面片機,有上下兩塊磨板,中間放置行星片,硅片就放在行星片的孔內。磨片時,盤不轉動,內齒輪和中心齒輪轉動,使行星片與磨盤之間做行星式運動,以帶動硅片做行星式運動,在磨料的作用下達到研磨的目的。

6)倒角

倒角工藝如圖所示,是用具有特定形狀的砂輪磨去硅片邊緣鋒利的崩邊、棱角和裂縫等。

倒角的目的主要有三個。

(1)防止晶圓邊緣碎裂。晶圓在制造與使用的過程中,常會受到機械手等撞擊而導致晶圓邊緣破裂,形成應力集中的區域。這些應力集中的區域會使得晶圓在使用中不斷地釋放污染粒子,進而影響產品的成品率。

(2)防止熱應力的集中。晶圓在使用時,會經歷無數的高溫工藝,如氧化、擴散等,當這些工藝中產生的熱應力大小超過硅晶格的強度時,即會產生位錯與層錯缺陷,晶圓磨邊可以避免該類缺陷在晶邊產生。

(3)增加外延層和光刻膠層在晶圓邊緣的平坦度。在外延工藝中,銳角區域的生長速度會比平面高,因此,用沒有磨圓的晶圓容易在邊緣產生突起。同樣,在利用旋轉勻膠機涂光刻膠時,光刻膠溶液也會在晶圓邊緣發生堆積現象,這些不平整的邊緣會影響掩模板對焦的精確性。

7)拋光

拋光是硅片表面的最后一道重要加工工序,也是最精細的表面加工。拋光的目的是除去表面細微的損傷層,得到高平整度的光滑表面。最后,得到最終的產品:硅晶圓。

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原文標題:沙子是如何一步一步制備出硅晶圓的:硅晶圓的制備流程

文章出處:【微信號:bdtdsj,微信公眾號:中科院半導體所】歡迎添加關注!文章轉載請注明出處。

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