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高壓差分探頭和光隔離探頭有何區(qū)別,為什么非要選擇光隔離探頭?

Electricplayer ? 來源:Electricplayer ? 作者:Electricplayer ? 2024-07-30 16:04 ? 次閱讀

光隔離探頭和高壓差分探頭在測試中有著不同的應用和特點。以下是兩者的主要區(qū)別和為什么在某些情況下需要選擇光隔離探頭的原因:

1. 共模抑制比(CMRR):光隔離探頭具有極高的共模抑制比,例如麥科信Micsig的光隔離探頭在100MHz時CMRR高達128dB、在1GHz時CMRR高達108dB。這使得光隔離探頭能夠在高頻段抑制共模干擾,提供更準確的信號測量。相比之下,高壓差分探頭雖然也具備一定的CMRR,但在高頻應用中可能不足以抑制高次諧波分量帶來的共模干擾,導致測量結果不準確。

2. 信號真實性和準確性:光隔離探頭能夠最真實地呈現(xiàn)信號的全部特征,是判定其他電壓探頭所測信號真實性的有效工具。而高壓差分探頭可能會因為其較低的CMRR在高頻應用中產(chǎn)生信號失真。

3. 測試第三代半導體:光隔離探頭特別適合用于測試第三代半導體如氮化鎵(GaN)和碳化硅(SiC),因為這些材料的開關速度快,產(chǎn)生的高頻諧波能量高,光隔離探頭可以近乎完美地抑制這些高頻共模噪聲。

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4. 安全性:在測試如GaN這類快速開關的器件時,麥科信Micsig光隔離探頭由于其輸入電容小(最小僅1pF),引線短,幾乎不會產(chǎn)生由于磁場變化引起的震蕩,從而避免損壞被測器件。而高壓差分探頭由于輸入線較長,可能會因磁場變化產(chǎn)生震蕩,有時這種震蕩甚至超過了器件的承受極限,導致器件損壞。

5. 測試量程:光隔離探頭可以通過匹配不同的衰減器,測試從±0.01V至±6250V的差模信號,而高壓差分探頭通常只適用于高壓信號的測量。

6. 使用靈活性和效率:光隔離探頭體積小,引線精巧,響應快,上電即測,校準時間短,使用起來更加靈活方便。

7. 技術優(yōu)勢:麥科信Micsig光隔離探頭采用先進的激光供電技術,解決了隔離供電的問題,而高壓差分探頭可能需要更復雜的電源處理。

綜上所述,當需要測量高頻、高精度、高共模抑制比的信號,尤其是測試第三代半導體器件時,選擇光隔離探頭會更為合適。

審核編輯 黃宇

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