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半導體分立器件測試儀

hustec ? 來源:hustec ? 作者:hustec ? 2024-05-20 16:50 ? 次閱讀

HUSTEC-DC-2010分立器件測試儀,是我司團隊結合多年半導體器件測試經驗而研發的,可以應用于多種場景,如:

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測試分析(功率器件研發設計階段的初始測試)

失效分析(對失效器件進行測試分析,查找失效機理。以便于對電子整機的整體設計和使用過程提 出改善方案)

選型配對(在器件焊接至電路板之前進行全部測試,將測試數據比較一致的器件進行分類配對)

來料檢驗(研究所及電子廠的質量部(IQC)對入廠器件進行抽檢/全檢,把控器件的良品率)

量產測試(可連接機械手、掃碼槍、分選機等各類輔助機械設備,實現規模化、自動化測試)

產品為桌面放置的臺式機結構,由測試主機和程控電腦兩大部分組成。外掛各類夾具和適配器,還能夠通過Prober接口、Handler接口可選(16Bin)連接分選機和機械手建立工作站,實現快速批量化測試。通過軟件設置可依照被測器件的參數等級進行自動分類存放。能夠極好的應對“來料檢驗”“失效分析”“選型配對”“量產測試”等不同場景。

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產品的可靠性和測試數據的重復性以及測試效率都有著非常優秀的表現。創新的“點控式夾具”讓操作人員在夾具上實現一點即測。操作更簡單效率更高。測試數據可保存為EXCEL文本。

產品特點

(1) 可測試 7 大類 26 分類的各類電子元器件

(2) PC 機為系統的主控機;

(3) 基于 Lab VIEW 平臺開發的填充式菜單軟件界面;

(4) 自動識別器件極性 NPN/PNP (5) 16 位 ADC,100K/S 采樣速率;

(6) 程控高壓源 10~1400V,提供 2KV 選配;

(7) 程控高流源 1uA~40A,提供 100A,300A,500A 選配;

(8) 驅動電壓 10mV~40V;

(9) 控制極電流 10uA~10mA;

(10) 四線開爾文連接保證加載測量的準確;

(11) 通過 RS232 接口連接校準數字表,對系統進行校驗;

(12) Prober 接口、Handler 接口可選(16Bin)

(13) 可為用戶提供豐富的測試適配器

(14) 連接分選機測試量為每小時 1 萬個

(15) 可以測試結電容,諸如 Cka,Ciss,Crss,Coss;

(16) 脈沖電流自動加熱功能,方便高溫測試,無需外掛升溫裝置;

審核編輯 黃宇

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