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東芝推出用于半導體測試儀的高速光繼電器

半導體芯科技SiSC ? 來源:Silicon Semiconductor ? 2024-11-28 09:30 ? 次閱讀

來源:Silicon Semiconductor

小尺寸和快速切換為高端 ATE 帶來了顯著優勢。

東芝電子歐洲公司發布了一款新型低壓高速光繼電器。TLP3450S 特別適用于半導體測試儀的引腳電子器件,可更精確地快速測量被測器件 (DUT) 。它也適用于探針卡、測量儀器和各種工業設備。

新款 TLP3450S 基于升級的內部配置,配備增強型紅外 LED 與具有優化設計的光電二極管陣列相結合。因此,新器件的開啟開關時間 (tON) 低于 80μs。與上一代產品 (TLP3450) 相比,這提高了 40%,這將大大提高 ATE 系統的整體吞吐量。

TLP3450S 具有較小的輸出電容 (COFF),僅為 0.6pF,這減少了關閉輸出時的高頻信號泄漏 - 這將降低噪聲并提高多路復用結構的準確性。該器件還具有較低的導通電阻(RON) - 通常為 6.8Ω),可在輸出處于導通狀態時改善信號衰減。

TLP3450S 的輸入輸出隔離 (BVs) 額定值為 500Vrms,能夠在 -40°C 至 +110°C 的環境溫度范圍內工作。它配置為 A 型接觸器件,能夠連續提供 160mA (ION) 電流。脈沖額定值為 480mA (IONP)。

復雜的 ATE 系統需要小型組件來提高安裝密度。為實現此目的,TLP3450S 采用微型 S-VSON4T 封裝,尺寸僅為 1.45mm × 2.0mm × 1.3mm,與傳統產品相比,占用空間減少了 18%。

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