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離子注入中的劑量和濃度之間有何關系呢?

中科院半導體所 ? 來源:芯云知 ? 2024-01-26 13:37 ? 次閱讀

對器件設計工程師來講,離子注入的濃度往往是需要關心的參數,什么樣的濃度對應什么樣的方阻,器件仿真參數輸入的是濃度,通過DSIMS測出來的也是濃度和深度的關系。所以,常常會出現這樣的情況:做設計的告訴做工藝的,我要某個濃度的注入,做工藝的反問做設計的要劑量,因此雙方經常不能談論到一起。

之所以談不到一起,是因為雙方沒有真正弄清劑量和濃度之間的關系。

劑量是單位襯底表面積獲得的離子數量,單位是ion·cm-2,實際工程表達中ion常常省略,表示為cm-2。濃度是單位襯底體積分布的離子數量,單位是cm-3。

我們簡單舉個例子,現在有100個離子,注入到1cm2的區域,那么劑量就是100cm-2。那么濃度呢?如果結深是1cm,那么濃度就是100cm-3;如果結深是2cm,那么濃度就是cm-3。所以,你看到結深越深,意味著注入濃度就會較小,濃度=劑量/結深。

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離子注入濃度和劑量的示意圖

在實際的注入過程中,所有的離子不可能停在一個深度,我們所說濃度-深度高斯分布曲線中,某個深度下的濃度是這個深度下單位體積的離子數。

那么結深又是對應哪個深度?它對應的不是高斯分布的最高值,也不是離子注入的總射程。它是形成PN結的位置,有一個較為復雜的計算公式,有興趣的可以自行查找,反映到高斯分布圖大致的位置是最高濃度的100-1000分之一濃度對應的位置。如下圖,最高濃度為2.5E21cm-3,結深的濃度為5E18cm-3,對應的位置是結深10nm。

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注入濃度和深度的高斯分布曲線

那么,又是什么影響結深呢?結深取決于離子的質量、能量,襯底原子的質量以及離子入射方向與晶向之間的關系。離子注入能量越高,離子注入的深度越深,離子注入能量的大小可以通過調節加速電壓和離子種類來實現。注入能量介于1eV到1MeV之間,注入結深平均可達10nm~10um。

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能量對離子注入結深的影響

目前離子注入分布計算軟件有TCAD,SRIM等,設計人員可根據軟件先對注入分布進行仿真,再確定實際注入劑量、能量和角度等工藝參數。




審核編輯:劉清

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原文標題:離子注入中的劑量和濃度的關系

文章出處:【微信號:bdtdsj,微信公眾號:中科院半導體所】歡迎添加關注!文章轉載請注明出處。

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