霍爾效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)用于測(cè)量半導(dǎo)體材料的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)等重要參數(shù),而這些參數(shù)是了解半導(dǎo)體材料電學(xué)特性必須預(yù)先掌控的,因此霍爾效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)是理解和研究半導(dǎo)體器件和半導(dǎo)體材料電學(xué)特性必*的工具。 實(shí)驗(yàn)結(jié)果由軟件自動(dòng)計(jì)算得到,可同時(shí)得到體載流子濃度(Bulk Carrier Concentration)、表面載流子濃度(Sheet Carrier Concentration)、遷移率(Mobility)、電阻率(Resistivity)、霍爾系數(shù)(Hall Coefficient)、磁致電阻(Magnetoresistance)等。
低溫型霍爾效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)由電磁鐵、真空泵、低溫真空腔、高斯計(jì)、恒流源、電磁鐵電流源、控溫儀和計(jì)算機(jī)及軟件組成。其中,電磁鐵電流源給電磁鐵提供電流,產(chǎn)生磁場(chǎng);高斯計(jì)測(cè)量線圈產(chǎn)生的均勻磁場(chǎng)值;恒流源一方面給樣品提供電流,用于霍爾效應(yīng)測(cè)試,一方面可以測(cè)量樣品電壓;被測(cè)樣品置于低溫真空腔中,由低溫膠固定,并作為四個(gè)測(cè)試點(diǎn);低溫真空腔引出4根導(dǎo)線,兩個(gè)連接控溫儀進(jìn)行溫度的測(cè)量及控制,另1根是低溫探頭引線連接到高斯計(jì)上,還有1根是霍爾樣片連接線接到恒流源上;計(jì)算機(jī)連接高斯計(jì)、控溫儀、恒流源和電磁鐵電流源,通過軟件實(shí)現(xiàn)控制通過被測(cè)樣品的電流和磁場(chǎng)值,并獲取測(cè)得的電壓值。
審核編輯 黃宇
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